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Supporto GISAXS

Ogni campione merita il supporto campione migliore possibile per analisi SWAXS di alta qualità.

Il preciso supporto GI-SAXS consente studi SAXS di incidenza radente (GI) su superfici nanostrutturate.

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Principali caratteristiche

GI-SAXS studies of nanostructured surfaces

  • Investigate nanostructured surfaces and thin-film samples using grazing-incidence (GI) small-angle X-ray scattering - at elevated temperatures and under controlled atmosphere.
  • Sample positioning with highest precision ensure high-quality results.

Specifiche tecniche

Precisione di inclinazione  ≤ 0,001°
TemperaturaFino a +500 °C
Dimensione del campione
sino a 100 x 100 mm²
Accuratezza temperatura +/- 0,1 °C

Anton Paar Certified Service

La qualità Anton Paar nell'assistenza e nel supporto:
  • Più di 350 esperti tecnici certificati dal produttore in tutto il mondo
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