GISAXS Probenplattform 2.0
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- Untersuchung von Nanostrukturoberflächen und Dünnfilmproben
- Ideal für halbporöse Dünnschichten, an der Oberfläche abgelagerte Nanopartikel, Metallablagerungen auf Oxidoberflächen, Systeme aus weicher Materie und an Oberflächen haftende biologische Materialien
- Proben können gekippt und gedreht werden
Mit GISAXS-Messungen profitieren Sie von repräsentativen nanostrukturellen Oberflächeninformationen für eine große Probenfläche. GISAXS benötigt fast keine Probenvorbereitung im Voraus und die Messung kann sowohl im Vakuum als auch unter kontrollierter Atmosphäre (Luft, Inertgas) durchgeführt werden. Die GISAXS Probenplattform 2.0 von Anton Paar ist eine hochpräzise motorisierte Probenplattform. Proben können gekippt und gedreht sowie in einem Temperaturbereich von -150 °C bis 500 °C untersucht werden.
Technische Highlights
Schnelle und präzise GISAXS Untersuchungen mit der motorisierten GISAXS Probenplattform 2.0
Die SAXS-Systeme SAXSpoint 500, SAXSpoint 700 und SAXSpace von Anton Paar lassen sich problemlos mit der hochauflösenden GISAXS-Probenplattform 2.0 für GISAXS/GIWAXS/GIXD-Studien (Grazing-Incidence SAXS/WAXS/Diffraktion) ausstatten. Sie kann präzise in X-, Y-, Z-Richtung positioniert werden. Proben können mit dem integrierten -Rotator um die -Achse geneigt und gedreht werden, mit einer Rotationswiederholbarkeit von 0,001°.
Die GISAXS Probenplattform 2.0 von Anton Paar ist die perfekte Umgebung zur Charakterisierung von mesoporösen Dünnfilmen, oberflächenbeschichteten Nanopartikeln, Metallablagerungen auf Oxidoberflächen und Systemen weicher Materie wie Polymer-/Block-Copolymer-Dünnfilme und biologische Materialien, die an Oberflächen befestigt sind.
Erweiterung der Messmöglichkeiten mit dem GISAXS-Heizmodul 2.0
Die GISAXS Probenplattform 2.0 kann bei Temperaturen bis 500 °C eingesetzt werden, wenn sie mit dem GISAXS-Heizmodul 2.0 ausgestattet ist. Das Modul bildet ein Gehäuse über der Probe und ermöglicht somit die Messung der jeweiligen Probe unter Umgebungs- und Nicht-Umgebungsbedingungen wie Luft oder Inertgas sowie unter Vakuum.
GISAXS-Experimente bei niedrigen Temperaturen bis zu -150 °C
Das Heiz-/Tieftemperaturmodul für GISAXS 2.0 ermöglicht Messungen im Bereich von -150 °C bis 350 °C. Das Modul lässt sich einfach auf der GISAXS-Probenplattform 2.0 installieren und gewährleistet eine ausgezeichnete Temperaturhomogenität innerhalb der Probenoberfläche, sodass Sie optimale GISAXS/GIWAXS-Studien durchführen können. Das SAXS-Gerät erkennt die Probenplattform automatisch, sobald sie angeschlossen ist.
Spezifikationen
| Temperaturbereich | -150 °C bis 500 °C |
| Temperaturgenauigkeit | ±0,1 °C |
| Probengröße | bis 100 mm x 100 mm |
| Probenneigung | -4° bis +5,6° |
| Probenrotation (-Achse) | 0° bis 345° |
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GISAXS as a Valuable Tool for Analyzing Nanostructured Semiconductors Applikationsbericht
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SAXS Sample stages and holders Broschüren
