GISAXS Probenplattform
Jede Probe ist ein Star und verdient daher den bestmöglichen Probenhalter für hochqualitative GISAXS-Analysen.
Der einmalige und präzise GI-SAXS Probenhalter von Anton Paar ermöglicht (GI) SAXS Untersuchungen nanostrukturierter Oberflächen bei streifendem Einfall des Strahls unter Temperaturen bis zu +500 °C und unterschiedlichen Gasatmosphären.
Hauptmerkmale
GI-SAXS-Analysen von nanostrukturierten Oberflächen
- Nanostrukturierte Dünnfilmproben können mittels Röntgenkleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GI-SAXS) bei erhöhter Temperatur und unter kontrollierter Atmosphäre untersucht werden
- Die hochpräzise Probenpositionierung gewährleistet Ergebnisse von hoher Qualität
Spezifikationen
| Verkippgenauigkeit | ≤ 0,001° |
|---|---|
| Temperatur | bis zu +500 °C |
| Probengröße | bis 100 x 100 mm² |
| Temperaturgenauigkeit | +/- 0,1 °C |