Platine 2.0 GISAXS

Études rapides et précises en incidence rasante avec la platine motorisée 2.0 GISAXS

Les systèmes SAXS, SAXSpoint 5.0 et SAXSpace d’Anton Paar peuvent être facilement équipés de la platine 2.0 GISAXS à haute résolution pour des études GISAXS/GIWAXS/GIXD (SAXS/WAXS/diffraction en incidence rasante). Elle peut être positionnée précisément dans la direction X, Y, Z. Les échantillons peuvent être inclinés et tournés avec le rotateur  autour de l’axe  avec une répétabilité de rotation de 0,001°.

La platine 2.0 GISAXS d’Anton Paar est l’environnement parfait pour caractériser p. ex. des films minces mésoporeux, des nanoparticules déposées à la surface, des dépôts métalliques sur des surfaces oxydées et des systèmes de matières molles comme des films minces de polymère/copolymère en bloc et des matières biologiques attachées aux surfaces.

Élargissement des capacités de mesure avec le module de chauffage 2.0 GISAXS

La platine 2.0 GISAXS peut servir pour des températures allant jusqu’à 500°C si elle est équipée du module de chauffage 2.0 GISAXS. Le module forme un boîtier au-dessus de l’échantillon et vous permet ainsi de mesurer l’échantillon respectif en conditions ambiantes et non ambiantes, comme l'air ou un gaz inerte, ainsi que sous vide.

Expériences GISAXS à basse température à moins de -150°C

Le Heated/Cryo Module pour GISAXS 2.0 permet des mesures dans la plage de -150°C à 350°C. Ce module est facilement installé sur une platine 2.0 GISAXS et garantit une homogénéité excellente de la température dans la surface de l'échantillon de sorte que vous pouvez effectuer des recherches optimales sur GISAXS/GIWAXS. L'appareil SAXS reconnaît automatiquement la platine d'échantillonnage dès qu’elle est branchée.