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零件型号
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高温室 HTK 1200N
- 支持在各种气氛下进行高达 1200 °C 的原位 XRD 研究
- 精确可靠的温度测量，具有出色的均匀性
- 提高数据质量和丰富载样灵活性的样品旋转选项
- 耐用、紧凑的设计与大多数测角仪兼容
HTK 1200N - 具有坚固结构的高温室 ，可 在高达 1200 °C 的不同环境中进行原位 X 射线衍射研究。它的环境加热器保证了样品温度的均匀性。利用 HTK 1200N 进行不同类型的原位 X 射线衍射研究，包括相变、结构测定和化学反应的研究。
关键功能
精确的温度测量和控制
- 高度可靠地进行样品温度测量
- 样品均匀加热
- 对样品厚度几乎无限制
样品旋转是关键
- 旋转样品可优化数据质量
- 可使用能够耐受各种化学物质的样品承载台
- 快速更换样品承载台，样品制备简单
大范围应用的理想工具
- 使用高质量材料，坚固设计且小巧
- 适用于大部分测角仪
- 可与自动机械 Z 校准台使用，用于重新校准随温度变化的样品
技术参数
| 工作温度 | 25 °C 至 1200 °C |
|---|---|
| 温度测量 | Pt 10% RhPt 热电偶 |
| 气氛 | 真空 (10-4 mbar)、空气、惰性气体 |
| 最大工作压力 | 高出大气压力 1 bar |
| 入射角 | 0 到 164 ° 2Θ |
| 样品架材料 | 氧化铝 |
| 样品直径 | 最大 16 mm |
| 测 量几何 | 反射 + 透射 |
文档
-
HTK 1200N 手册
