Analiza dynamicznego obrazu za pomocą jednego kliknięcia

2023-08-24 | Corporate

Litesizer DIA 500 to najnowsze urządzenie w ofercie linii produktów PC (Particle Characterization) służących do analizy cząstek i ładunków powierzchniowych. Urządzenie mierzy wielkość i kształt cząstek w zakresie od 0,8 µm do 8000 µm (1 µm = 0,001 milimetra), dołączając do serii PSA i Litesizer DLS.

Dynamiczna analiza obrazu jako metoda pomiaru bezpośredniego
Litesizer DIA 500 opiera się na metodzie analizy dynamicznego obrazu, która umożliwia wykonania bezpośredniego pomiaru za pomocą szybkiej kamery o wysokiej rozdzielczości. Dzięki analizie dynamicznego obrazu użytkownicy polegają na bezpośrednich danych, a nie na interpretacji zjawiska fizycznego. Urządzenie rejestruje setki tysięcy obrazów cząstek na sekundę, które są następnie automatycznie analizowane. Dzięki metodzie DIA można przyjrzeć się każdej wykrytej cząstce osobno i dokładnie zbadać jej parametry.

Zastosowanie w wielu gałęziach przemysłu
Litesizer DIA oferuje nowoczesne rozwiązanie w różnych rodzajach zastosowań, głównie w przemyśle spożywczym. Inne zastosowania obejmują przemysł akumulatorowy - urządzenie może zmierzyć wielkość i kształt cząstek surowców wykorzystywanych w produkcji elektrod. Umożliwia to osiągnięcie wyższej gęstości energii i zwiększenia wydajności akumulatora. Litesizer DIA może być również używany do badania kształtu i rozmiaru proszków metali stosowanych w spiekaniu laserowym (druk 3D). Innym zastosowaniem jest badanie materiałów ściernych, które umożliwia opracowanie optymalnego sposobu usuwania zadziorów z obrabianych elementów.

Informacje o próbce za pomocą jednego kliknięcia
Oprogramowanie analityczne KalliopeTM firmy Anton Paar zapewnia uzyskanie wszystkich informacji o próbce za pomocą jednego kliknięcia. Umożliwia również szybką wizualizację danych oraz liczne opcje filtrowania i przeliczania wyników - zgodnie z wymaganiami użytkownika. Łatwość użytkowania gwarantują funkcje takie jak samoczynne napełnianie, opróżnianie i płukanie cieczy dyspersyjnej oraz automatyczna regulacja szybkości podawania suchych próbek.