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GISAXS 2.0
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- 纳米结构表面和薄膜样品的研究
- 非常适用于介孔薄膜、表面沉积的纳米粒子、氧化物表面的金属沉积物、附着在表面的软物质体系和生物材料
- 样品可以倾斜和旋转
通过 GISAXS 测量，可获得大范围样品区域具有统计学意义的纳米结构表面信息。GISAXS 几乎无需样品预处理，可在真空和受控环境条件（空气、惰性气体）下进行样品测量。安东帕 GISAXS 2.0 是一个高精度自动化平台。可以在 -150 ℃ 至 500 ℃ 的温度范围内倾斜、旋转和研究样品。
关键功能
自动化 GISAXS 2.0 可快速精确地进行掠入射研究
安东帕的 SAXS 系统，包括 SAXSpoint 500、SAXSpoint 700 和 SAXSpace，均可轻松配备高分辨率 GISAXS 2.0，以进行 GISAXS/GIWAXS/GIXD（掠入射 SAXS/WAXS/XRD）研究。可在 X、Y、Z 方向上精确定位。利用集成式 旋转器，可沿着 轴倾斜和旋转样品，旋转重复性为 0.001°。
安东帕 GISAXS 2.0 是表征介孔薄膜、表面沉积的纳米颗粒、氧化物表面的金属沉淀物以及软物质体系（如聚合物/嵌段共聚物薄膜和附在表面的生物材料）等的理想平台。
配备 GISAXS 加热模块 2.0 可扩展测量功能
如果 GISAXS 2.0 配备了 GISAXS 加热模块 2.0，最高工作温度可扩展至 500 ℃。该模块配有一个样品密闭腔室，支持用户在常温环境和非常温环境条件，如空气、惰性气体或真空环境下测量样品。
低至 -150 ℃ 的低温 GISAXS 实验
GISAXS 2.0 的加热/低温模块支持在 -150 ℃ 至 350 ℃ 范围内测量样品。该模块可轻松安装到 GISAXS 2.0 上，确保样品表面具有高度的温度均匀性，从而最优化 GISAXS/GIWAXS 研究。SAXS 设备在插入样品台后即可自动识别。
技术参数
| 温度范围 | -150 ℃ 至 500 ℃ |
| 温度精度 | +/-0.1 ℃ |
| 样品尺寸 | 高达 100 mm x 100 mm |
| 样品倾斜度 | -4° 至 +5.6° |
| 样品旋转（ 轴） | 0° 至 345° |
如需获取最新技术进展、产品选型和定制解决方案的更多信息，欢迎直接与我们联系。
