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SAXS/WAXS/GISAXS 實驗室光束線:SAXSpoint 2.0

接近同步加速器等級的奈米結構材料無限制分析

SAXSpoint 2.0 是您在實驗室進行 SAXS/WAXS/GISAXS 奈米結構材料的最佳選擇。在奈米尺度等級,輕鬆進行材料特性與相互作用的非破壞性研究。它適用於分析各向異性材料和大部分任何材料的奈米結構表面,可以測定顆粒尺寸、尺寸分佈、顆粒形狀、結構改變和動態特性。功能強大的軟體組件可以支援自動化操作和數據分析。如需更多關於最新開發、選項和客製化解決方案的資訊,請直接聯絡我們。

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關鍵功能

應用專用點準直和 HPC 探測器提供出色的結果

應用專用點準直和 HPC 探測器提供出色的結果

SAXSpoint 2.0 採用高光譜純度和無散射光束準直的高亮度 X- 射線。配備強大標準或 MetalJet 微聚焦 X 射線源和客製化高精確光學元件,可在幾分鐘內得到出色的結果。
結合最新混合光子計數 (HPC) 偵測器,確保縮短您的測量時間和得到高品質的 SAXS/WAXS/GISAXS 結果,為您帶來完美的奈米結構材料分析結果。使用這套出色的設備,得以實現優異的分辨率,可以解析高達 310 nm 的奈米結構。

簡化您實驗室的日常測量工作TrueFocus 和 Stagemaster

簡化您實驗室的日常測量工作TrueFocus 和 Stagemaster

在 SAXSpoint 2.0 實驗室系統中,自動完成日常測量工作並加快您測量速度是基本功能。利用 TrueFocus 功能,只需要按下一按鈕,即可自動精準地完成所有 X 射線束元件和樣本台的準直調整。
Stagemaster 可自動識別哪些樣本已準備完成並對系統進行相應的配置,與 TrueFocus 搭配使用,可以為您得到最佳的測量結果。利用 ASX 自動進樣器可以自動為您採集液體樣本,例如分散液或生物樣本。ASX 自動進樣器可以搭配多達 192 樣本,針對敏感型樣本也可以搭配冷卻選配件使用。 

同時使用 SAXS 和 WAXS:TrueSWAXS

同時使用 SAXS 和 WAXS:TrueSWAXS

採用 TrueSWAXS 的 SAXSpoint 2.0 系統,利用SAXS 和 WAXS 提供完整的散射數據,不須額外重新對準調整。即使在散射角高達 60  2Ѳ 時,仍可以同時連續獲得同一個樣本的小角和大角數據。
如此一來,您可以同時觀察顆粒結構、顆粒/大分子組裝體和原子等級結構的資訊。透過 TrueSWAXS ,您可以在同時在一個樣本中了解上述這些結構資訊。

多功能樣本台支援各種應用

多功能樣本台支援各種應用

僅需從各種樣本台組合中挑選適當的樣品台,就可以各種環境和非環境條件下分析大多數種類的奈米結構材料。您可以受益於測量裝置獨特的靈活性。

  • TC 控溫樣本台:從 -150 °C 到 600 °C 的控溫研究
  • 濕度樣本台:在定義的濕度和溫度下進行分析。
  • GI-SAXS 樣本台:在真空條件或結合獨特的GISAXS 加熱模組 (高達 +500 °C)一起使用,可以研究奈米結構或薄膜材料
  • VarioStage:利用溫控進樣器自動執行研究 (多固相/糊狀/液態樣品或毛細管樣品)
  • 拉伸樣本台:在給定的機械負載下,分析奈米結構纖維。客製化的樣本台解決方案。
直接得到您要的結果:功能強大的控制和數據分析軟體

直接得到您要的結果:功能強大的控制和數據分析軟體

功能強大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 支援自動執行常規操作流程,例如測量設定、對準和全面性數據分析。可設定連續測量,利用自動進樣、溫度掃描和時間相關研究,並使用客製化的模板來分析您獲得的 1D 和 2D 資料集。自動測定參數是SAXSanalysis™ 的標準功能,例如迴轉半徑 (RG)、粒度、Porod 常數、比表面積、Kratky 曲線等參數。軟體也支援 IFT 和 反摺積技術,以進行高階結構解析 (PCG), 例如粒度、粒徑分析、 形狀和內部結構等。

技術參數

X 射線源
  • Primux 100 微聚焦 X 射線源 (Cu, Mo)
  • 選配雙源 (Cu and Mo) 微聚焦 X 射線源
  • 高性能 Ga MetalJet 光源
X 射線光學元件和
準直
  • 客製化 ASTIX 光學元件 (完全真空)
  • 自動無散射光束準直 (完全真空)
樣本台/
自動進樣器
  • TCStage 溫度控制樣本台
  • 具有加熱選配的 GISAXS 樣本台
  • 具有加熱/冷卻選配的 Tensile 樣本台
  • 濕度樣本台
  • 用於多種固體和液體樣本的溫控自動進樣器
  • ASX 自動進樣器,可測量多達 192 種液體樣本
  • 根據要求的客製化樣本台
特殊功能
  • TrueFocus:X 射線束自動準直調整
  • TrueSWAXS:同時進行高達 60° 2Ѳ 的 SWAXS 研究
  • StageMaster: YZ stage with auto-recognition of sample stages
  • 可移動式探測器選項
  • 高解析度 WAXS 模組選項
  • USAXS 選項
溫度範圍
環境
-150 °C 到+600 °C,± 0.1 °C
真空、空氣、惰性氣體、濕度
(如有需要,可以用反應性氣體)
樣本槽

  • 液體用石英毛細管
  • 低雜訊 SiN 樣本槽
  • 固體樣本槽
  • 黏稠及粉末樣本的黏性樣本槽
  • 樣本旋轉的旋轉樣本槽
  • 高壓樣本槽
  • 少量樣本的微量樣本槽
  • 用於自動測量的流動樣本槽/試管樣本槽
  • 滲透池
  • 如有需要,可客製化解決方案
測量時間 低於 1 分鐘至 30 分鐘 (典型值)
檢測器 2D EIGER R 系列混合光子計數 (HPC) 探測器
高解析度 WAXS 模組 (EIGER2 R 系列)
可達到的
q 範圍
0.02 nm⁻¹ 至 40.7 nm⁻¹
310 nm > d > 0.15 nm
軟體 SAXSdrive™ 測量和資料擷取軟體
SAXSanalysis™ 資料處理和分析軟體
先進的資料解析軟體 (PCG)
尺寸 (佔用面積) 2.7 m x 0.9 m (微源版本,L x W)
3.6 m x 0.9 m (MetalJet 版本,L x W)
如需更多關於最新開發、選項和客製化解決方案的資訊,請直接聯絡我們。

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