XRDynamic 500 ile Ortam Dışı XRD Uygulama - Anton Paar'da XRD'nin 60 Yılı
2024 yılında Anton Paar'da XRD'nin 60. yılını kutluyoruz.
İlk ortam dışı XRD cihazını 1964 yılında tanıtarak, ortam dışı koşullar altında malzemelerdeki yapısal değişikliklerin incelenmesi için yeni bir standart belirledik. 60 yıl sonra, piyasadaki en geniş yüksek kaliteli cihaz portföyü ve sahadaki binlerce kullanıcımızla, ortam dışı XRD cihazlarında gururlu bir pazar lideriyiz. Buna ek olarak, X-ışını analiz portföyümüzü X-ışını kaynakları, optikler ve son olarak otomatik çok amaçlı toz X-ray difraktometremiz XRDynamic 500 dahil olmak üzere bir dizi ürünle genişlettik.
Bu yıl dönümünü birlikte kutlayalım.
2024'te herhangi bir XRDynamic 500 siparişi ile seçtiğiniz ücretsiz bir ortam dışı XRD ataçmanı alın!
1 Ocak - 31 Aralık 2024 tarihleri arasında bir XRDynamic 500 sipariş edin ve seçtiğiniz aşağıdaki ortam dışı XRD ataçmanlarından birini ücretsiz olarak alın:*
- HTK 1200N Çevresel ısıtma kullanarak OS'dan 1.200 °C'ye kadar ölçümler için Yüksek Sıcaklık Odası
- HTK 16N Isıtma şeritleri kullanarak 'den 1.600 °C'ye kadar ölçümler için Yüksek Sıcaklık Odası
- HTK 2000N Isıtma şeritleri kullanarak OS'dan 2.300 °C'ye kadar ölçümler için Yüksek Sıcaklık Odası
- XRK 900 OS'dan 900 °C'ye ve 10 bar gaz basıncına kadar çalışmalar için Reaktör Odası
- TTK 600 -190 °C ila +600 °C arasında çok yönlü deneyler için Düşük Sıcaklık Odası
- CHC plus+ -5 °C ile +400 °C arasında değişen sıcaklıklarda ve %5 bağıl nem ile %95 bağıl nem arasında ölçümler için (10 °C ile 80 °C arasında değişen bağıl nem sınırları) Soğutma ve Nem Odası
*Şartlar ve koşulları okumak için buraya tıklayın.
Daha fazla bilgi için bölgenizdeki yerel Anton Paar temsilcisi ile temas kurun.
XRD excites 2024 için bize katılın: Ortam Dışı XRD ve Ötesi!
Yıl dönümü yılımızın en önemli etkinliği, pil ve PDF analizinin yanı sıra ince film ve yüzey difraksiyonu veya SAXS dahil olmak üzere ortam dışı XRD ve ötesindeki konulara odaklanan, uluslararası bir bilimsel sempozyum olan XRD excites 2024 olacaktır. Sempozyum, 9 Temmuz - 11 Temmuz 2024 tarihleri arasında Avusturya'nın Graz kentindeki Graz Teknoloji Üniversitesi'nde gerçekleştirilecektir.
Daha fazla bilgi için lütfen www.anton-paar.com/TU-graz/xrd-excites adresini ziyaret edin.
Keşfedilecek daha çok şey var!
2024 yılı boyunca XRD ile ilgili çeşitli konularda web seminerleri düzenleyeceğiz. Konular ve tarihler için lütfen burayı kontrol edin.
Ayrıca temel bilgilerden uygulamalı oturumlara kadar her şeyi kapsayacak yerel atölye çalışmaları da düzenlenecektir. Bölgenizde düzenlenen yerel atölye çalışmaları hakkında daha fazla bilgi için yerel Anton Paar temsilcinizle iletişime geçin.
Uluslararası XRD Sempozyumu 9-11 Temmuz 2024
Daha fazla bilgiX-ışını Difraksiyon Cihazları
- En yüksek verimlilikle rakipsiz veri kalitesi
- Tek bir platformda birleştirilmiş maksimum ölçüm esnekliği
- Tahliyeli ve tam otomatik optiklere sahip TruBeam™ konsepti
Anton Paar, XRDynamic 500 ile XRD'yi bir sonraki seviyeye taşıdı. Tam otomatik, çok amaçlı bir toz X-ışını difraktometresi olan XRDynamic 500, rakipsiz veri kalitesi ile emsalsiz ölçüm verimliliğini bir araya getirir; sezgisel kullanım için tasarlanmıştır ve yüksek derecede otomasyon sunar. Çok çeşitli örnek aşamaları, bileşenleri ve ortam dışı ekleri sayesinde XRDynamic 500, tüm toz XRD uygulamaları için uygun ve çok yönlü bir platformdur. XRDynamic 500'ü inceleyin
SAXS Cihazları
- SAXS çözümlerinde lider küresel uzman ve öncü
- En yüksek veri kalitesine sahip laboratuvar cihazları
- Uygulamalarınızda azami esneklik
Anton Paar, 60 yılı aşkın süredir laboratuvar SAXS cihazlarına öncülük etmektedir. Son derece parlak, esnek ve kullanımı kolay cihazlarımız daha önce yalnızca senkrotron istasyonlarında mümkün olan ölçümlere izin veriyordu; artık laboratuvarınızda da mevcutlar. Yalnızca cihazların kendilerini değil, aynı zamanda gelişmiş örnek yuvalarını ve aşamaları da kendi bünyemizde üretmekten gurur duyuyoruz. Bu şekilde, üstün kaliteye ve üstün performansa güvenebilirsiniz. SAXS ürünlerini görüntüleyin
Ortam dışı XRD ataşmanları
- Çok çeşitli seçeneklere sahip teknoloji lideri
- Sıcaklık ölçümü ve homojenliğinde rakipsiz doğruluk
- Deneyime dayalı kalite
Anton Paar, 1960'lardan bu yana ortam dışı X-ışını difraksiyon ekleri için pazar lideridir ve bu özel XRD alanında olağanüstü bir uzmanlık kazanmıştır. Geniş bir son teknoloji ürünü portföy, örneklerinizi değişen sıcaklık, basınç, bağıl nem vb. altında incelemenize olanak tanır. Aşamalarımız, mutlak konforunuz için sisteme tam entegrasyon ile hemen hemen her difraktometreye kolayca monte edilebilir.
Ortam dışı XRD ataçmanlarını görüntüleyin
X-ışını optiği ve X-ışını kaynakları
- Son teknoloji biriktirme teknikleri
- Çok katmanlı optik ve monokromatör üretiminde küresel liderler
- X-ışını floresan referans örnekleri için atom altı hassasiyet
AXO DRESDEN 2019 yılında Anton Paar grubuna katıldı. Çok katmanlı monokromatörlerin ve X-ışını aynalarının üretiminde dünya lideri olan AXO, son teknoloji kaplama teknolojisinde 20 yılı aşkın deneyime sahiptir. Dünya çapındaki araştırma gruplarıyla güçlü bağlantıları ve özel çözümler tasarlama esnekliği ile AXO, X-ışını analiz sistemlerinin deneyimli bir mucididir. Anton Paar'ın X-ışını kaynakları ve ölçüm cihazları üretimindeki gücünden yararlanan AXO DRESDEN, deney görevleriniz için yerinde çözümler sunar. AXO portföyünü görüntüleyin
Seçilmiş yayınlar
Anton Paar'ın X ışını cihazları, çok çeşitli uygulama alanlarında son teknoloji araştırmaları gerçekleştirmek için kullanılır. İşte X ışını analiz cihazlarımıza atıfta bulunan bazı yeni yayınlardan bir seçki:
XRD:
Kriyojenik sıcaklıklarda kuvars katı çözeltilerinin tersine çevrilmesi.Zandona A, Helsch G, Deubener J.: J Am Ceram Soc. 2020;103:6630–6638. doi.org/10.1111/jace.17393
SAXS.
Selüloz nanofibriller tarafından stabilize edilmiş su toplama emülsiyonlarında derin ötektik solvent.Saffron J. Bryant, et. al.: RSC Adv., 2020, 10, 37023–37027. doi.org/10.1039/D0RA07575B
AXO DRESDEN:
Taramasız Yatay Emisyon X-ışını Floresansı için Laboratuvar Kurulumu.Jonas Baumann et. al.: Analitik Kimya, 2017, 89, 1965 – 1971. doi.org/10.1021/acs.analchem.6b04449
Pd ve Mo'nun kısmi L-kabuğu fotoiyonizasyon kesitlerinin münferit enerji bağımlılıklarının deneysel olarak doğrulanması.
Philipp Hönicke et. al.: Fiziksel İnceleme Mektupları, 2014, 113, 163001-163005. doi.org/10.1103/PhysRevLett.113.163001
X ışını difraksiyonu (XRD)
X-ışını difraksiyonu, çok çeşitli malzemeleri incelemek için önemli bir tahribatsız analiz yöntemidir. En önemli uygulamalarından bazıları, diğerlerinin yanı sıra faz tanımlama ve miktar ölçümü, mikro yapı analizi ve kristal yapı analizidir. Tekniğe buradan bir giriş yapın. Makaleyi oku
Ortam dışı X ışını difraksiyonu
Değişen ortam dışı parametreler (sıcaklık, basınç, atmosfer, nem,…), her türden malzeme değişen koşullar altında kimyasal ve fiziksel davranışlarını değiştirme eğiliminde olduğundan, XRD deneyinize başka bir boyut ekler. Makaleyi oku
SAXS nanoyapı analizi
SAXS; proteinler, makromoleküller veya nanoparçacık dispersiyonları gibi nanoyapılı örnekleri araştırmak için tahribatsız bir yöntemdir. Teknik, pratikte örnek hazırlama gerektirmez ve bu nedenle bir malzemeyi orijinal durumunda analiz eder. Makaleyi oku
Non-ambient (farklı koşullar) Kılavuzu
Bu pratik kılavuz, size ortam dışı X-ışını difraksiyonu (NA-XRD) alanı hakkında genel bir tanıtım yapmaktadır. İçerik; cihazlardan, analizden ve veri yorumlamadan uygulamalara ve çok daha fazlasına uzanmaktadır. Daha fazla bilgi
SAXS Kılavuzu
Küçük açılı X-ışını saçılması alanında yeni misiniz ya da bilginizi derinleştirmek mi istiyorsunuz? Senkrotronda veya herhangi bir kurum içi SAXS cihazında ışınlanma zamanınız var mı? Temel ilkeler, cihazların kurulumu, pratik yönler, uygulamalar ve çok daha fazlası hakkında bilgi alın. Daha fazla bilgi
LinkedIn'de X-Ray Analysis Solutions
En son sektör haberlerine ve ilginç uygulamalara göz atın. Doğrudan Anton Paar ve AXO DRESDEN'deki uygulama uzmanlarından X-ray tabanlı malzeme karakterizasyonu alanındaki gelişmelerden haberdar olun. LinkedIn sayfamızı takip edin ve haberdar olun. Daha fazla bilgi