Zalecane wyniki

Tester zarysowania w nanoskali (NST³)

Najdokładniejszy tester zarysowania w nanoskali dostępny na rynku

Tester zarysowania w nanoskali jest specjalnie dostosowany do charakteryzowania praktycznych błędów przylegania cienkich błon i powłok o typowej grubości poniżej 1000 nm. Może być wykorzystany do analizy powłok organicznych i nieorganicznych, twardych, a także miękkich. Przykładowe powłoki to cienkie i wielowarstwowe materiały PVD, CVD, PECVD, fotorezystywne, farby, lakiery i wiele innych rodzajów błon. Zastosowania NST³ obejmują powłoki optyczne, mikroelektroniczne, ochronne, dekoracyjne i inne. Podłoża mogą być twarde lub miękkie, w tym stopy metali, półprzewodniki, szkło, materiały odblaskowe i organiczne.

Skontaktuj się WYSZUKIWARKA DOKUMENTÓW

Kluczowe cechy

Szybki czas reakcji przy przyłożeniu niewielkich sił.

Tester zarysowania w nanoskali z czujnikiem siły wyposażony jest w podwójną belkę wspornikową do stosowania obciążania oraz siłownik piezoelektryczny zapewniający szybki czas reakcji na przyłożoną siłę. Koncepcja ta poprawia również wyniki odchyleń powodowanych zdarzeniami występującymi w trakcie testów zarysowań (np. wygląd pęknięć i błędy, defekty lub niepłaskie próbki).

Opatentowane rzeczywiste pomiary głębokości penetracji do badań powrotu elastycznego,

Czujnik przemieszczenia (Dz) monitoruje profil powierzchni próbki przed, w trakcie i po zarysowaniu. Dzięki temu można ocenić głębokość penetracji wgłębnika podczas wykonywania zarysowania i po jego zakończeniu: w ten sposób można oceniać właściwości elastyczne, plastyczne i lepkosprężyste materiałów (patent: US 6 520 004).

Bez żadnych kompromisów: Możliwość zastosowania dokładnie tej siły, jaka jest konieczna w zakresie mikroniutonowskim

Aktywne sterowanie siłą w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego to funkcja umożliwiająca jeszcze większą dokładność testów zarysowań w nanoskali, poniżej 1 μN. Tester zarysowania w nanoskali zawiera czujnik do pomiaru siły, który jest połączony z siłownikiem siły normalnej. Dzięki temu przyłożona siła ma wartość siły wybranej przez użytkownika.

Obrazowanie optyczne wysokiej jakości dzięki funkcji „Follow Focus”

Zintegrowany mikroskop składa się z głowicy i wysokiej jakości obiektywów oraz kamery wideo USB. Podczas obrazowania zarysowania łatwość zmiany powiększenia między wartością x200 a x4000 pozwala na lepszą ocenę próbek, zarówno w przypadku małych, jak i dużych powiększeń. Funkcja „Follow Focus” pozwala na automatyczne osiągnięcie ostrości we właściwej pozycji przy pomocy tabeli dla wielu zarysowań.

Tryb wielu pomiarów po przeskanowaniu pozwala na dokonanie pomiarów zachowania lepkości po zarysowaniu

Po zarysowaniu można za pomocą oprogramowania zdefiniować nieograniczoną liczbę pomiarów po skanowaniu z deltą czasu do pomiaru głębokości resztkowej. Nowa analiza pozwoli na uzyskanie większej ilości informacji na temat zachowania odkształcenia powierzchni w stosunku do czasu przywrócenia.

Specyfikacja techniczna

Zastosowane obciążenie
Rozdzielczość 0,01 μN
Maks. obciążenie 1000 mN
Siła tarcia
Rozdzielczość 0,3 μN
Maks. siła tarcia 1000 mN
Głębokość
Rozdzielczość 0,3 nm
Maks. głębokość 600 μm
Prędkość
Prędkość od 0,4 do 600 mm/min

Zastosowania

TWÓJ WYBÓR: WYCZYŚĆ WSZYSTKIE FILTRY X
Branże

Produkty podobne