自动化多用途粉末 X 射线衍射仪：
XRDynamic 500
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- 开箱即用：业界更高的分辨率/信噪比
- TruBeam™ 理念：更大的测角半径，真空光路
- 完全自动化：X 射线光学元件和光束几何变化
- 效率：仪器使用率提高多达 50%
- 极致便捷：仪器与样品的自对准
安东帕 X 射线衍射仪 XRDynamic 500 能以更高效率实现更佳的 XRD 数据质量。尽享囊括各种应用的多功能平台所带来的优势，为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析、SAXS 等提供更佳解决方案。具有全自动光学元件和对准程序，它能使每个人从新手变为专家，在最大限度减少误差的同时快速收集顶级质量的 XRD 数据。XRDynamic 500：推动 X 射线衍射技术发展。
关键功能
无与伦比的数据质量
XRDynamic 500 独特的 TruBeam™ 技术，结合了大测角仪半径、真空光路和全自动 X 射线光学元件/光束几何切换。TruBeam™ 可确保数据质量优于传统 X 射线衍射仪。XRDynamic 500 在标准布拉格 - 布伦塔诺配置下提供业界超高的分辨率（LaB₆ 标准物质第一衍射峰 FWHM 为 0.021°），同时具备更出色的信噪比，测量背景降低达 50% ，且寄生空气散射也降至最低 。该仪器可自校准以实现最优测试条件与可靠结果。
全自动化：实现极致效率
XRDynamic Autosampler 可实现光学元件、光束几何、样品台和样品处理的完全自动化操作，确保卓越效率，同时不影响数据质量。适配行业标准支架，可容纳多达 105 个样品，为高通量、自动化 XRD 测试树立了新的标杆。借助快速连接器和自动校准功能，可快速更改配置（包括 X 射线管），并在极短时间内恢复运行状态。所有光学元件的全自动化操作—包括吸收片/滤光片、光束掩模、索拉狭缝、发散狭缝、防散射狭缝和平行板准直器—使用户无需人工操作，就能即刻更改测量配置，测试不同类型的样品。在单个测量批次中使用多达三种光束几何，所有反射镜和单色器都安装在自动化电动光学堆栈中。
自动且精准：日日便捷
通过获得专利、带额外倾斜轴的光源 pitch 设计，可自动完成所有光学元件与任意 X 射线源的精确校准。得益于系统自动校准功能，所有 X 射线反射镜和平板单色器均可匹配最佳 X 射线源出射角，从而确保获得最大主光束强度。所有样品台的即插即用设计，支持快速更换实验配置；同时光学元件与样品台的自动识别功能，可实时确保仪器配置的准确性。
XRDynamic 500 兼顾专业人士的深度需求与新手的操作便捷，不同用户都能轻松上手。XRDdrive 控制软件得益于更高的自动化度，可根据您的需求呈现简洁或详细的仪器操作及工作流程，实现无缝整合。非环境实验的所有配件连接均置于衍射仪腔室内部。可选配的集成式非环境控制单元 (CCU) 使得不同非环境附件的使用和切换变得十分方便。
充分的灵活性：适用于各类应用
XRDynamic 500 在单一 X 射线衍射仪平台上，把测量灵活性做到了极致。无论是用于反射、透射，还是非环境研究，XRDynamic 500 都能为每种使用场景提供各类样品台和样品架。将多功能的仪器设置用于各种应用，为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析和 SAXS 提供优化的解决方案。依托自主生产的高品质部件，搭配前沿像素探测技术，造就了这款高端衍射仪。
面对高通量测试需求，XRDynamic Autosampler 的优势尤为独特，支持自动处理多达 105 个各类样品（从块状材料、粉末、纤维、薄膜，到对空气敏感样品等各类样品 ），且始终保持卓越的测试质量。
享有盛誉的专业知识
用户可享受全球范围内的标准化认证合格服务，并配备专属专人支持，以最大限度提升设备的正常运行时间。我们不只是销售仪器，而是在设备整个生命周期内，持续为您提供全方面支持。我们的应用支持和专家建议可帮助您针对各类应用需求，快速高效地取得有价值的成果。与您携手，共同突破技术边界，探索更多可能。
规格
| X 射线源 | |
| 光源类型 | Primux 3000 |
| X 射线高压发生器 | 高达 3 kW |
| 光管电压 / 电流 | 20 kV 至 60 kV / 2 mA 至 50 mA |
| 测角仪 | |
| 配置 | 垂直 θ/θ 几何 |
| 测量半径 | 360 或 400 mm |
| 最大可用角度范围 | -95° 至 162.5° 2θ |
| 最小步长 | 0.0001° |
| 2θ 线性度 | ≤0.01° |
| 最大角速度 | 15°/s |
| 最大角分辨率 | 0.021°（LaB₆ 第一级峰的 FWHM） |
| 样品台和附件 | |
| 环境样品台 | 固定样品台 样品旋转台（反射/透射） XY 台（带自动进样器选件） XRDynamic Autosampler 毛细管旋转台 EVAC 模块 |
| 非环境附件 | HTK 1200N HTK 16N/2000N HTK 1500 TTK 600 XRK 900 CHC plus⁺ BTS 150/500 |
| 探测器 | 固态混合像素探测器：
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| 软件 |
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| 通用规格 | |
| 外形尺寸（宽 x 深 x 高） | 1350 mm x 1160 mm x 1850 mm |
| 重量（不包括选配件） | 750 kg |
| 电源 | 三相：3/N/PE AC 400/230 V，50…60 Hz，25 A 单相：208…240 VAC，50…60 Hz，36 A |
| 最大功耗 （不带选配装置的额外控制器） | 5.5 kW |
| 冷却水供给 | 流量：>3.6 L/min， 压力：4.5 – 6 bar，温度：<25 ℃ |
标准
CFR
文档
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E-Book - 药物粉体表征 现场指南 应用报告
互补产品
如果找不到所需物品，请联系您的安东帕销售代表。
XRDynamic 500 附件：
自动进样器 XY 样品台
- 自动进样3、6、12 或 48 个样品
- 支持所有样品类型，例如粉末、固体、纤维、薄膜
- 实现反射与透射测量功能
- 完全集成、全自动操作，可有效避免错误
XRDynamic 500 附件：
自动进样器 XRDynamic Autosampler
- 自动进样最高可达 105 个样品
- 支持所有样品类型，例如粉末、固体、纤维、薄膜
- 输出稳定、高质量的数据
- 完全集成、全自动操作，可有效避免错误
- “真正”的环境加热，温度范围从 25 ℃ 至 1500 ℃
- 为您的实验提供更高的温度精度
- 快速从反射测量转换为透射测量
- 在不同的气体氛围中进行测量
- 是 XRDynamic 500 多功能衍射仪的完美补充
密封管 X 射线源：
Primux 3000
- 用于高级 X 射线分析的强大 X 射线源
- 可以提供多种阳极材料
- 简单更换 X 射线管或改变光管焦点
- 高强度多层膜 X 射线光学元件
- 适用于各个波长的平行和聚焦光束光学元件
- 借助初级单色器完成更大 Kβ 抑制
- 采用更新的 CERN 像素探测器技术，具有先进的降噪功能
- 可选择传感器材料以 0D 或 1D 模式进行测量
- 更小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)，具有出色的分辨率
- 能量过滤器可进一步减少测量背景
XRDynamic 500 的附件：
XRD 样品架和样品台
- 适用于所有应用的多功能样品台
- 用于原位工况电池测试的样品台
- 适用于不同样品类型的多种 XRD 样品架
- 组件识别和自动校准
用于高分辨率 SAXS 和 XRD 的真空室：
EVAC 模块
- 由于完全真空的光路，其具有无与伦比的信噪比
- 用于测量的专用 SAXS 光学器件，具备独立 SAXS 仪器的质量
- 适用于反射或透射的高分辨率 XRD 研究
- 测量不受 2θ 范围的任何限制
- 用于粉末衍射分析的多功能软件包
- 搜索/匹配功能适用于快速且准确的物相坚定
- 使用匹配或手动加载的物相进行 Rietveld 分析
- 优化分析工作流程，包括批量分析，以加快并简化分析任务
Low-Temperature Chamber:
TTK 600
- 用于 -190 °C 至 600 °C X 射线衍射研究的非环境附件
- 用于反射和透射几何中的样品研究
- 也适用于空气敏感样品和原位电池研究
- 适用于所有常用的粉末衍射仪
高温加热带腔室：
HTK 16N | HTK 2000N
- 支持高达 1600 °C 或 2300 °C 的原位 XRD 研究
- 最小的样品位移与稳定的加热灯丝定位
- 双热电偶实现精确的温度控制，且温度梯度最小
- 耐用的设计，采用高品质材料，样品更换快速、简便
低温和湿度室：
CHC plus⁺
- 相对湿度和温度下的无冷凝实验
- 整体温度范围：-180 °C 到 +400 ℃；
受控相对湿度研究温度范围： 10 °C 到 80 °C - 无需打开低温和湿度室，即可从低/高温试验轻松转换到湿度测量
反应室：
XRK 900
- 适用于所有普通衍射仪的反应室
- 专门设计用于 900 °C 和 10 bar 下的固-固和固-气反应研究
- 样品架选项：耐化学材料，样品旋转，用于通过样品抽取气体的开放式支架
Benchtop Heating Stages:
BTS 150 | BTS 500
- 针对台式 XRD 应用优化的紧凑专利设计
- 温度范围：-10 °C 至 +150 °C (BTS 150)
- 在样品附近使用传感器实现快速、准确的温度控制
- 直接的样品处理、对准和通过USB远程控制
