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Step 平台配件：
原子力顯微鏡 (AFM)
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- 適用於各種科學和產業應用的多功能 AFM 解決方案
- 提供奈米級表面資訊的成像和分析能力
- 與樣品的非破壞性交互作用
表面形態對於將功能延伸到幾奈米的高科技表面非常重要。AFM 可與我們的刮痕和壓痕測試儀在多功能 Step 平台上結合使用，以便在環境條件下輕鬆檢查此類功能。可提供奈米級解析度、精確繪圖和用於評估材料的多功能定量測量。
主要功能
探索表面形態並獲得精確的定量解析
原子力顯微鏡透過提供奈米級表面資訊來提升您的成像和分析能力。其表面功能（低至幾奈米）和表面粗糙度（奈米以下）的精確度超過了替代技術，並且可以作為無損成像工具使用。
整合式攝影機：詳細的表面全覽
整合式俯視攝影機可確保詳細的表面總覽，從而實現懸臂下樣品區域的精確定位和對準。側視攝影機引導初始快速接近幾微米，然後 AFM 無縫轉換到最終的自動接近。此外，軟體連結可以輕鬆視覺化壓痕印記和刮痕路徑。更重要的是，使用帶有對準凹槽的懸臂消除了雷射對準的需求，最大限度地減少了停機時間並簡化了實驗過程中的操作。
進行不同模式的徹底檢查
AFM 超越了傳統的形態探索，能夠視覺化其他材料屬性，例如相位資訊以及磁性和電氣屬性。
技術規格
| 功能 | 說明 |
| 最大掃描範圍 (XY) | 110 µm |
| 最大 Z 範圍 | 22 µm |
| XY 線性平均誤差 | <0.6 % |
| Z 測量雜訊（RMS，靜態模式） | < 500 pm |
| Z 測量雜訊（RMS，動態模式） | < 150 pm |
| 安裝 | 可拆卸式掃描接頭 (86 x 45 x 61 mm)，附 3 點快速鎖定安裝板 |
| 懸臂對準 | 帶有對準凹槽的懸臂自動對準 |
| 自動接近範圍 | 4.5 mm（內部光學元件焦平面下方 1.5 mm） |
| 樣品觀察 | 雙 USB 視訊攝影機系統（同時具備俯視圖和側視圖） 5 MP，1.4 mm x 1 mm，彩色俯視圖 5 MP，3.1 mm x 3.5 mm，樣品和懸臂樑的彩色側視圖 |
| 樣品照明 | 白色 LED（亮度 0-100%）；俯視圖的軸向照明 |
文件
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