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Step 平台附件：
原子力显微镜 (AFM)
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- 适用于各种科学和工业应用的多功能 AFM 解决方案
- 提供纳米级表面信息的成像和分析能力
- 与样品无破坏性相互作用
表面形态对于特征延伸至几纳米的高科技表面至关重要。AFM 可以与我们的划痕和压痕测试仪在多功能 Step 平台上结合使用，便于在多种环境条件下轻松检查此类特征。它能提供纳米级分辨率、精确映射和多种定量测量来评估材料。
关键功能
探索表面形貌并获得精确的定量见解
原子力显微镜能够通过提供纳米级表面信息来提升您的成像和分析能力。其表面特征（精确到几纳米）和表面粗糙度（低于一纳米）的精度超过了其他技术，并且可作为一种非破坏性成像工具。
集成摄像头：详细的表面轮廓
集成顶视摄像头可确保详细的表面轮廓，从而实现悬臂下样品区域的精确定位和对齐。在 AFM 无缝过渡至最终的自动方法之前，侧视图相机可以引导快速方法的初始几微米。此外，该软件链接可以轻松实现可视化压痕印记和划痕路径。此外，使用带有对准凹槽的悬臂消除了激光对准的必要性，最大限度地减少了停机时间并简化了实验过程中的操作。
彻底检查的不同模式
AFM 超越了传统的形貌特征表征，能够实现其他材料特性的可视化，例如相位信息以及磁力和电特性。
技术规格
| 特性 | 说明 |
| 最大扫描范围 (XY) | 110 µm |
| 最大 Z 范围 | 22 µm |
| XY-线性平均误差 | <0.6% |
| Z 测量噪声水平（RMS，静态模式） | <500 pm |
| Z 测量噪声水平（RMS，动态模式） | <150 pm |
| 安装 | 可拆卸扫描头 (86 x 45 x 61 mm)，带 3 点快速锁定安装板 |
| 悬臂对齐 | 带对准槽的悬臂自动对准 |
| 自动逼近范围 | 4.5 mm（内部光学器件焦平面下方 1.5 mm） |
| 样品观察 | 双 USB 视频摄像系统（同时顶视图和侧视图）5 MP，1.4 mm x 1 mm，彩色顶视图 5 MP，3.1 mm x 3.5 mm，样品和悬臂梁的彩色侧视图 |
| 样品照明 | 白色 LED（亮度 0-100%）；俯视图的轴向照明 |
