Accessorio per piattaforme Step:
microscopio a forza atomica (AFM)
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- Soluzione AFM versatile per diverse applicazioni scientifiche e industriali
- Funzionalità di imaging e analisi per informazioni sulla superficie in scala nanometrica
- Interazione non distruttiva con i campioni
La morfologia superficiale è fondamentale per le superfici high-tech con caratteristiche che arrivano fino a pochi nanometri. L'AFM può essere combinato con i nostri scratch tester e tester di indentazione su una piattaforma Step versatile che facilita l'esame di tali caratteristiche in condizioni ambientali. Offre una risoluzione su scala nanometrica, una mappatura precisa e misure quantitative versatili per la valutazione dei materiali.
Principali caratteristiche
Esploratee la topografia superficiale e ottenete informazioni quantitative precise
Il microscopio a forza atomica amplia le vostre capacità di imaging e analisi fornendo informazioni sulla superficie in scala nanometrica. La sua precisione per quanto riguarda le caratteristiche della superficie (fino a pochi nanometri) e la rugosità della superficie (al di sotto di un nanometro) supera quella delle tecniche alternative e funziona come uno strumento di imaging non distruttivo.
Videocamera integrata: panoramica dettagliata della superficie
La videocamera integrata con vista dall'alto garantisce una panoramica dettagliata della superficie, consentendo una localizzazione e un allineamento precisi delle aree del campione sotto il cantilever. La videocamera laterale controlla un approccio rapido iniziale di pochi micrometri prima del passaggio all'approccio automatico finale. Inoltre, i collegamenti software consentono una facile visualizzazione delle impronte di indentazione e dei percorsi del graffio. Soprattutto, l'utilizzo dei cantilever con scanalature di allineamento elimina la necessità di allineamento laser, riducendo al minimo i tempi morti e semplificando la manipolazione durante gli esperimenti.
Diverse modalità per esami approfonditi
L'AFM va oltre l'esplorazione topografica convenzionale, consentendo la visualizzazione di ulteriori proprietà del materiale, come le informazioni di fase e le proprietà magnetiche ed elettriche.
Specifiche tecniche
| Caratteristica | Descrizione |
| Intervallo di scansione massimo (XY) | 110 µm |
| Intervallo Z massimo | 22 µm |
| Errore medio di linearità XY | <0,6% |
| Livello di rumore misura Z (RMS, modalità statica) | < 500 pm |
| Livello di rumore Z-measurement (RMS, modalità dinamica) | < 150 pm |
| Montaggio | Testina di scansione rimovibile (86 mm x 45 mm x 61 mm) con piastra di montaggio a 3 punti a bloccaggio rapido |
| Allineamento del cantilever | Allineamento automatico per cantilever con scanalature di allineamento |
| Intervallo di avvicinamento automatico | 4,5 mm (1,5 mm sotto il piano focale dell'ottica interna) |
| Osservazione del campione | Sistema a doppia videocamera USB (vista simultanea dall'alto e laterale) 5 MP, 1,4 mm x 1 mm, vista dall'alto a colori 5 MP, 3,1 mm x 3,5 mm, vista laterale a colori del campione e del cantilever |
| Illuminazione del campione | LED bianchi (luminosità 0-100%); Illuminazione assiale per vista dall'alto |
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