Accesorio para plataformas escalonadas:
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
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- Solución versátil de AFM para diversas aplicaciones científicas e industriales
- Capacidades de imagen y análisis que ofrecen información de la superficie a nanoescala
- Interacción no destructiva con las muestras
La morfología de la superficie es vital para las superficies de alta tecnología con características que se extienden hasta unos pocos nanómetros. El AFM puede combinarse con nuestros comprobadores de rayado e indentación en una versátil plataforma Step que facilita el examen de dichas características en condiciones ambientales. Ofrece resolución a nanoescala, cartografía precisa y mediciones cuantitativas versátiles para evaluar materiales.
Características principales
Explore la topografía de la superficie y obtenga información cuantitativa precisa
El microscopio de fuerza atómica eleva sus capacidades de obtención de imágenes y análisis al proporcionar información de superficies a nanoescala. Su precisión en lo que respecta a los rasgos superficiales (hasta unos pocos nanómetros) y la rugosidad de la superficie (por debajo de un nanómetro) supera a la de otras técnicas alternativas, y funciona como una herramienta de obtención de imágenes no destructiva.
Cámara integrada: visión detallada de la superficie
La cámara integrada de vista superior garantiza una visión detallada de la superficie, lo que permite una localización y alineación precisas de las zonas de la muestra bajo el voladizo. La cámara de visión lateral guía la aproximación rápida inicial unos pocos micrómetros antes de que el AFM realice la transición perfecta para la aproximación automática final. Además, los enlaces del software permiten visualizar fácilmente las huellas de indentación y las trayectorias de los arañazos. Además, la utilización de voladizos con ranuras de alineación elimina la necesidad de alineación láser, lo que minimiza el tiempo de inactividad y simplifica la manipulación durante los experimentos.
Diferentes modos para un examen exhaustivo
El AFM va más allá de la exploración topográfica convencional, permitiendo la visualización de propiedades adicionales del material, como la información de fase, así como las propiedades magnéticas y eléctricas.
Especificaciones técnicas
| Características | Descripción |
| Alcance máximo de exploración (XY) | 110 µm |
| Rango Z máximo | 22 µm |
| Error medio de linealidad XY | <0.6% |
| Nivel de ruido de medición Z (RMS, modo estático) | <500 pm |
| Nivel de ruido de medición Z (RMS, modo dinámico) | <150 pm |
| Montaje | Cabezal de escaneado extraíble (86 x 45 x 61 mm) con placa de montaje de bloqueo rápido de 3 puntos |
| Alineación del cantilever | Autoalineación automática para cantilevers con ranuras de alineación |
| Alcance de aproximación automática | 4.5 mm (1.5 mm por debajo del plano focal de la óptica interna) |
| Muestra de observación | Sistema de cámara de video USB doble (vista superior y lateral simultáneas) 5 MP, 1,4 mm x 1 mm, vista superior en color5 MP, 3.1 mm x 3.5 mm, vista lateral en color de la muestra y el cantilever |
| Iluminación de la muestra | LED blancos (brillo 0-100%); iluminación axial para vista superior |
Servicio Certificado Anton Paar
- más de 350 expertos técnicos certificados por el fabricante en todo el mundo
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