Accessoire pour les platesformes Step :
microscope à force atomique (AFM)
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- Solution AFM polyvalente pour diverses applications scientifiques et industrielles
- Capacités d'imagerie et d'analyse offrant des informations sur les surfaces à l'échelle nanométrique
- Interaction non destructive avec les échantillons
La morphologie des surfaces est essentielle pour les surfaces complexes dont les caractéristiques sont spécifiques sur quelques nanomètres seulement L'AFM peut être combiné avec nos scratch testeurs et indenteurs instrumentés sur une plateforme Step polyvalente qui facilite l'examen de ces caractéristiques dans des conditions ambiantes. Il offre une résolution à l'échelle nanométrique, une cartographie précise et des mesures quantitatives polyvalentes pour l'évaluation des matériaux.
Caractéristiques principales
Explorez la topographie de la surface et obtenez des informations quantitatives précises
Le microscope à force atomique augmente vos capacités d'imagerie et d'analyse en fournissant des informations sur les surfaces à l'échelle nanométrique. Sa précision en ce qui concerne les caractéristiques de la surface (jusqu'à quelques nanomètres) et la rugosité de la surface (moins d'un nanomètre) dépasse celle des autres techniques, et il fonctionne comme un outil d'imagerie non destructif.
Caméra intégrée : aperçu détaillé de la surface
La caméra vue-de-haut intégrée garantit une vue d'ensemble détaillée de la surface, ce qui permet de localiser et d'aligner avec précision les zones d'échantillons sous le cantilever. La caméra vue-latérale guide l'approche rapide initiale de quelques micromètres avant que l'AFM ne passe en douceur à l'approche automatique finale. En outre, l'association avec les logiciels scratch et indentation permettent de visualiser facilement les empreintes d'indentation et les sillons de rayure. De plus, l'utilisation de cantilevers dotés de rainures d'alignement élimine la nécessité d'un alignement au laser, ce qui minimise les temps d'arrêt et simplifie la manipulation pendant les expériences.
Différents modes d'examen approfondi
L'AFM va au-delà de l'exploration topographique conventionnelle et permet de visualiser d'autres propriétés des matériaux, comme les informations sur les phases, ainsi que les propriétés magnétiques et électriques.
Spécifications techniques
| Caractéristique | Description |
| Plage de balayage maximale (XY) | 110 µm |
| Plage maximale de Z | 22 µm |
| Erreur moyenne de linéarité XY | < 0,6 % |
| Niveau de bruit de la mesure Z (RMS, mode statique) | < 500 pm |
| Niveau de bruit de la mesure Z (RMS, mode dynamique) | < 150 pm |
| Montage | Scanner amovible (86 x 45 x 61 mm) avec plaque de montage à verrouillage rapide en 3 points |
| Alignement du cantilever | Alignement automatique pour les cantilevers avec rainures d'alignement |
| Distance d'approche automatique | 4,5 mm (1,5 mm sous le plan focal de l'optique interne) |
| Exemple d'observation | Système de caméra vidéo USB double (vue de dessus et de côté simultanée) 5 MP, 1,4 mm x 1 mm, vue-de-haut en couleur 5 MP, 3,1 mm x 3,5 mm, vue-latérale en couleur de l'échantillon et du cantilever |
| Éclairage de l'échantillon | LED blanches (luminosité 0 - 100 %) ; éclairage axial pour la vue de dessus |
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