Zubehör für Step-Plattformen:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
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- Vielseitige AFM-Lösung für verschiedene wissenschaftliche und industrielle Anwendungen
- Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten, die Informationen über Oberflächen im Nanobereich bieten
- Zerstörungsfreie Interaktion mit Proben
Die Oberflächenmorphologie ist von entscheidender Bedeutung für Hightech-Oberflächen mit Merkmalen, die bis zu einigen Nanometern reichen. Das AFM kann mit unseren Ritz- und Härtemessgeräten auf einer vielseitigen Step-Plattform kombiniert werden, die eine einfache Untersuchung solcher Merkmale unter Umgebungsbedingungen ermöglicht. Sie bietet eine Auflösung im Nanobereich, ein präzises Mapping und vielseitige quantitative Messungen zur Evaluierung von Materialien.
Technische Highlights
Erforschen Sie die Oberflächentopographie und erhalten Sie präzise quantitative Einblicke
Das Rasterkraftmikroskop erweitert Ihre Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten, indem es Informationen über Oberflächen im Nanobereich liefert. Seine Präzision bei der Erkennung von Oberflächenmerkmalen (bis zu einigen Nanometern) und der Oberflächenrauhigkeit (unter einem Nanometer) übertrifft die von alternativen Techniken, und es arbeitet als zerstörungsfreies Bildgebungswerkzeug.
Integrierte Kamera: detaillierte Oberflächendarstellung
Die integrierte Top-View-Kamera sorgt für einen detaillierten Blick auf die Oberfläche und ermöglicht eine präzise Lokalisierung und Ausrichtung der Probenbereiche unter dem Cantilever. Die Seitenansichtkamera unterstützt die anfängliche schnelle Annäherung um einige Mikrometer, bevor das AFM nahtlos in die endgültige automatische Annäherung übergeht. Darüber hinaus ermöglichen die Software-Verknüpfungen eine einfache Visualisierung von Prüfabdrücken und Ritzspuren. Außerdem entfällt durch die Verwendung von Cantilevern mit Ausrichtungsrillen die Notwendigkeit einer Laserausrichtung, was die Ausfallzeiten minimiert und die Handhabung während der Experimente vereinfacht.
Verschiedene Modi für eine gründliche Untersuchung
Das AFM geht über die herkömmliche Topographieuntersuchung hinaus und ermöglicht die Visualisierung zusätzlicher Materialeigenschaften, wie z. B. Phaseninformationen sowie magnetische und elektrische Eigenschaften.
Technische Daten
| Merkmal | Beschreibung |
| Maximaler Scanbereich (XY) | 110 µm |
| Maximaler Z-Bereich | 22 µm |
| Mittlerer XY-Linearitätsfehler | < 0,6 % |
| Geräuschpegel der Z-Messung (RMS, statischer Modus) | < 500 pm |
| Geräuschpegel der Z-Messung (RMS, dynamischer Modus) | < 150 pm |
| Montage | Abnehmbarer Scankopf (86 x 45 x 61 mm) mit 3-Punkt-Schnellverschluss-Montageplatte |
| Justierung des Cantilevers | Automatische Selbstausrichtung bei Cantilevern mit Ausrichtungsrillen |
| Automatischer Annäherungsbereich | 4,5 mm (1,5 mm unterhalb der Brennebene der internen Optik) |
| Probenbeobachtung | Duales USB-Videokamerasystem (gleichzeitige Ansicht von oben und von der Seite) 5 MP | 1,4 mm x 1 mm | Draufsicht in Farbe 5 MP | 3,1 mm x 3,5 mm | Seitenansicht in Farbe von Probe und Cantilever |
| Probenbeleuchtung | Weiße LEDs (Helligkeit 0–100 %); axiale Beleuchtung für Draufsicht |
Anton Paar Certified Service
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