Tartozék Step platformokhoz:
Atomerő-mikroszkóp (AFM)
-
-
-
- +2
- Sokoldalú AFM-megoldás különféle tudományos és ipari alkalmazásra
- Nanoméretű felszíni adatokat szolgálató képalkotási és elemzési lehetőségek
- Roncsolásmentes érintkezés a mintákkal
A felületi morfológia néhány nanométerig terjedő funkcióival elengedhetetlen a high-tech felületekhez. Az AFM a sokoldalú Step platformon karc- és behatolásvizsgálóinkkal kombinálható, ami megkönnyíti ezeknek a funkcióknak a környezeti feltételek melletti vizsgálatát. Ez nanoméretű felbontást, pontos feltérképezést és sokoldalú mennyiségi meghatározást biztosít az anyagok vizsgálatához.
Legfontosabb funkciók
Fedezze fel a felületi topográfiát, és nyerjen pontos mennyiségi információkat
A atomerő-mikroszkóp nanoméretű felületinformációk kinyerésével növeli a képalkotási és elemzési teljesítményt. Pontossága a felületi jellemzők (egészen néhány nanométerig) és a felület durvasága (egy nanométer alatt) terén meghaladja az alternatív technikákét, és roncsolásmentes képalkotó eszközként működik.
Beépített kamera: a felület részletes áttekintése
A beépített felső kamera részletes áttekintést nyújt a felületről, ami lehetővé teszi a tartókarok alatti mintaterületek pontos helymeghatározását és beállítását. Az oldalsó kamera irányítja a gyors kezdő közelítést, néhány mikrométerrel az AFM végső automatikus közelítésbe való zökkenőmentes átmenete előtt. A szoftverlinkek továbbá lehetővé teszik behatolás nyomának és a karcútvonalaknak a könnyű vizualizálását. Ezenkívül a tartókarok beállítóbarázdákkal való használatával nincs szükség lézerbeállításra, ami minimalizálja a szüneteket és egyszerűbbé teszi a kezelést a vizsgálatok közben.
Különböző módok az alapos vizsgálathoz
Az AFM meghaladja a hagyományos topográfiai felfedezéseket, és további anyagtulajdonságok, mint például a fázisinformációk, valamint a mágneses és elektromos tulajdonságok vizualizálását teszi lehetővé.
Műszaki adatok
| Jellemző | Leírás |
| Maximális beolvasási tartomány (XY) | 110 µm |
| Maximális Z-tartomány | 22 µm |
| XY-linearitás középhiba | < 0,6 % |
| Z-mérés zajszint (RMS, statikus mód) | < 500 pm |
| Z-mérés zajszint (RMS, dinamikus mód) | < 150 pm |
| Felszerelés | Leszerelhető beolvasófej (86 x 45 x 61 mm) 3-pontos gyorszárfelszerelő lemezzel |
| A tartókar beállítása | A tartókarok automatikus önbeállítása beállítóbarázdákkal |
| Automatikus megközelítési tartomány | 4,5 mm (1,5 mm-rel a belső optika fókuszsíkja alatt) |
| Mintamegfigyelés | Kettős USB videókamera-rendszer (felső és oldalsó nézet egyszerre) 5 MP, 1,4 mm x 1 mm, színes felső nézet5 MP, 3,1 mm x 3,5 mm, színes oldalnézet a mintáról és a tartókarról |
| A minta megvilágítása | Fehér LED-ek (0–100% fényerő); Tengelyirányú megvilágítás a felső nézethez |
Anton Paar minősített szerviz
- világszerte több mint 350, gyártói tanúsítvánnyal rendelkező műszaki szakértő
- Szakértői támogatás az Ön nyelvén
- Befektetésvédelem a teljes életciklus során
- 3 év garancia
