XRDynamic 500 高解析度 PDF 分析
X 射線原子對分佈函數可呈現局部尺度下的原子排列方式，包括原子彼此之間的距離，以及短程到中程有序性如何變化。 這有助於釐清催化劑為何具有活性、電池電極為何會衰退，以及無定形製劑為何能保持穩定性。 即使不依賴明顯的布拉格峰，您也能解析原子結構，因此可更早做出判斷，並減少試錯次數。
當材料的結構與性質之間的關係取決於局部有序性時，適合採用 X 射線原子對分佈函數分析：奈米材料、催化劑、電池電極、金屬合金、藥物、玻璃，以及其他非晶或無序系統。 此方法可作為傳統 XRD 的補充，協助解釋僅憑長程晶體結構分析難以說明的材料行為。
較高的 Qmax 可提升 PDF 中可分辨的細節；高 Q 區域中良好的訊噪比，則有助於確保結果的可靠性。 XRDynamic 500 支援 Mo 與 Ag Kα，可在維持高 Q 解析度的同時，收集涵蓋寬廣 Q 範圍的資料。 而高 Q 解析度有助於分辨延伸至較大 r 的特徵，讓您評估域尺寸與細微的結構變化。
此系統整合了合適的 X 射線源、光學元件、偵測器與自動化功能，讓團隊能在合理的時間內取得品質一致的總散射資料，以利進行 PDF 分析。
可在 Mo Kα 與 Ag Kα 之間切換，兼顧訊號強度與可達的 Qmax。 Mo Kα 可提供較高強度，適合高效率的常規掃描；如需更高的實空間解析度，Ag Kα 則可將 Qmax 擴展至更高範圍。 自動化對準與模組化光學系統，讓切換更簡便，並維持良好的重現性。
CdTe 偵測器可在硬 X 射線能區提供較高的量子效率，提升高 Q 區的統計品質。 這意味著，與常規量測所用的標準 Si 偵測器相比，可獲得雜訊更低、結果更清晰的 PDF，並縮短整體掃描時間。
真空光路可減少空氣散射，讓來自樣品的漫散射訊號更清晰。 大半徑測角儀搭配聚焦鏡，可提供高 Q 解析度，進而降低 Q 阻尼，保留較大 r 範圍內的 PDF 特徵。
對於部分樣品，約一小時的掃描即可取得可生成適合擬合之原子對分佈函數的資料，有助於當天做出決策。 對於較複雜的情況，也可延長掃描時間，並搭配 Ag Kα 輻射。 將標準 XRD 與 PDF 分析整合於同一平台，可免除委外量測帶來的不便，包括排程與差旅安排，並有助於簡化訓練與維護。
代表性結果顯示，X 射線 PDF 可為材料選擇、研究決策及方法驗證提供可靠依據。
CaF₂ 的 PDF 與標準結構模型吻合良好，殘差低且晶格參數穩定，顯示儀器對準精確，資料統計品質可靠。 對決策者而言，這意味著在擴展至更多樣品或不同據點時，工作流程更具可預測性，並可減少重測次數。
即使沒有尖銳的繞射峰，PDF 仍可分辨 Si–O、O–O 與 Si–Si 的鍵長，並顯示這些特徵在約 9 Å 左右逐漸收斂，與缺乏長程有序相符。 因此，團隊可在數小時內確認製程調整是否會影響短程結構，而無須等待數週。
XRDynamic 500 是一款實驗室 X 射線繞射儀，可採集高品質的總散射資料，適用於原子對分佈函數（PDF）分析。 大半徑測角儀、真空光路以及聚焦 Kα 光學系統，可提供高 Q 解析度；Mo 與 Ag X 光管可提升 Qmax，以分辨更細微的實空間細節。 CdTe 偵測器可在高 Q 區域維持良好的計數統計品質，進而縮短取得 G(r) 所需的總散射資料採集時間。
透過單一儀器，更清楚掌握局部結構，並有助於更快做出風險較低的材料決策。
