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Step 플랫폼용 액세서리:
원자힘 현미경(AFM)
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- 다양한 과학 및 산업 응용 분야를 위한 다목적 AFM 솔루션
- 나노 스케일의 표면 정보를 제공하는 이미징 및 분석 기능
- 시료와의 비파괴적인 상호 작용
수 나노미터에 이르는 구조를 가진 하이테크 표면에서, 표면의 형태는 매우 중요합니다. 일반적 조건에서 이러한 특징을 쉽게 검사할 수 있는 다목적 Step 플랫폼을 통해, 스크래치 및 인덴테이션 테스터와 AFM을 결합할 수 있습니다. 나노 수준의 해상도, 정밀한 매핑, 소재 평가를 위한 다양한 정량 측정 방법을 제공합니다.
주요 특징
표면 지형의 탐색을 통해 정확한 정량적 인사이트를 확보
원자힘 현미경은 나노 스케일의 표면 정보를 제공하여 이미징 및 분석 능력을 향상시킵니다. 표면 구조(수 나노미터까지)과 표면 거칠기(나노미터 이하)에 대한 정밀도가 다른 기술을 능가하며, 비파괴적 이미징 도구로서 사용할 수 있습니다.
내장 카메라: 표면의 상세한 오버뷰
내장된 톱 뷰 카메라는 표면에 대한 상세한 오버뷰를 제공하며, 캔틸레버 아래에 위치한 시료 영역에 대해 정확한 위치 파악과 정렬을 가능하게 합니다. 사이드 뷰 카메라는 AFM이 최종 자동 접근을 위해 매끄럽게 전환하기 전에 몇 마이크로미터 이내 범위로 빠른 접근을 할 수 있도록 지원합니다. 또한, 소프트웨어 링크를 통해 인덴테이션에 의한 각인과 스크래치의 경로를 쉽게 시각화할 수 있습니다. 게다가, 정렬 홈이 있는 캔틸레버를 사용하면 레이저 정렬이 필요하지 않으므로 실험 중 작업이 멈추는 시간을 최소화하고 조작을 간소화할 수 있습니다.
철저한 검사를 위한 다양한 모드
AFM은 기존의 형태 탐사를 뛰어넘어 자기 및 전기적 특성뿐만 아니라 위상 정보와 같이 소재의 추가적인 특성까지 시각화할 수 있습니다.
사양
| 기능 | 설명 |
| 최대 스캔 범위(XY) | 110 µm |
| 최대 Z 범위 | 22 µm |
| XY-선형성 평균 오차 | <0.6 % |
| Z-측정 노이즈 레벨(RMS, 정적 모드) | < 500 pm |
| Z-측정 노이즈 레벨(RMS, 동적 모드) | < 150 pm |
| 마운팅 | 3점 퀵 록 마운팅 플레이트가 있는 탈착식 스캔 헤드(86 x 45 x 61 mm) |
| 캔틸레버의 정렬 | 정렬 홈이 있는 캔틸레버의 자동 정렬 |
| 자동 접근 범위 | 4.5 mm(내부 광학장치의 초점면 아래에서 1.5 mm) |
| 시료 관찰 | 듀얼 USB 비디오카메라 시스템(톱 및 사이드 뷰) 5 MP, 1.4 mm x 1 mm, 컬러 상단 뷰 5 MP, 3.1 mm x 3.5 mm, 시료 및 캔틸레버의 컬러 사이드 뷰 |
| 시료 조명 | 백색 LED(밝기 0-100 %), 톱 뷰에 대한 축 방향 조명 |
Anton Paar 공인 서비스
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문서
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