XRD 軟體：
XRDanalysis

用於粉末繞射分析的多功能軟體套件
搜尋/配對功能，用於快速準確的相識別
使用配對或手動載入的相進行 Rietveld 分析
最佳化的分析工作流程，包括批量分析，以加快和簡化您的分析任務

XRDanalysis

主要功能
技術規格
文件
適用的儀器

XRDanalysis 是新一代軟體套件，用於在安東帕的 XRDynamic 500 上分析粉末繞射數據。藉此您可以輕鬆地對在環境和非環境條件下收集的資料執行圖形擬合、相識別或量化以及微觀結構分析。XRDanalysis 採用了針對不同任務進行最佳化的分析工作流程，以協助剛接觸 XRD 的使用者，同時保留更多高階使用者所需的靈活性。

主要功能

透過在單個工作流程中整合多項分析任務來自動完成您的分析

使用靈活的工作流程概念，以您想要的方式執行粉末繞射數據分析，只需一鍵即可組合和執行多項任務。從峰值搜尋、圖形擬合、相識別，一直到 Rietveld 分析，所有步驟都可以在單一工作流程中結合，以自動完成您的分析任務。對於多個資料集的評估，即使對不同的資料集使用不同的工作流程 (如需要)，也可以輕鬆執行批處理,。因此，經驗不足的使用者可以非常容易地學習和使用 XRDanalysis，同時仍為專家使用者提供他們所需的靈活性。

進階相識別，永不錯過相

XRDanalysis 中使用的搜尋/匹配演算法，允許透過在參考資料庫 (例如： ICDD 的 PDF 資料庫) 中搜尋來進行相識別。新增相之後就可以執行進階殘差搜尋，確保即使是最微小的相含率也能被識別出來。此外，殘差搜尋也適用於手動載入相 (如從 CIF)，因此在相識別期間您無需僅依賴參考資料庫。

即使對於次生相，也能進行準確的相定量

依靠 XRDanalysis 中的 Rietveld 細化選項，您可以執行定量相和結構分析，同時考慮到所有儀器和样品的微觀結構影響。Rietveld 分析可以在提供原子位置的任何相上進行。相既可以直接從參考資料庫匹配結果轉入，也可以從 CIF 中手動新增；也可以從兩個源進行相組合。細化的相參數不僅提供相含率，還提供微結構參數，如晶粒尺寸和應變。

可自訂的報告

XRD 分析可以您選擇的格式快速輕鬆地從每個分析步驟匯出資料和圖形。包括 Microsoft Office 套件的最佳化介面，報告和資料匯出功能可以對資料和圖形做最佳準備以供發布或用於 XRDanalysis 平台之外的進一步分析。

技術規格

系統要求	Intel™ i5，2.67 GHz 或更高 16 GB RAM (取決於作業系統) 1.5 GB 磁碟可用空間
支援的作業系統	Microsoft Windows™ 8、10；64 位元