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聚合物特性分析
聚合物薄膜的物理特性分析 - 如何測量表面、光學和整體性質
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無論您的高分子膜是用於包裝、塑膠袋、感光底片、軟性太陽能電池基材、可撓式顯示器、觸控面板或是電路板的聚合物膜，它們的性質始終受其組成的影響。它們需要滿足的要求隨應用領域而不同，並且必須對它們的性質進行徹底研究以調整配方或簡易測試品質。
薄膜和奈米薄膜的研究（厚度 < 1 µm）
通常由多層組成的極薄聚合物膜（約 1 μm 以下）經常作為電子元件的電絕緣或防腐蝕保護，例如：印刷電路板（PCB）或智慧型手機零件以及光學透鏡上的折射膜。它們還可作為濕度或微影的感測器以及支架的抗菌塗層，甚至用於基因組定序。
若要測試薄膜和奈米膜，您可以藉由一台儀器使用 奈米刮痕測試方法 ，測量薄膜中每一層或最終材料的附著力和抗刮性。深入瞭解 詳細資訊 薄膜的表面 zeta 電位和相關的表面性質可以透過測量流動電位或流動電流取得。
除了附著力、抗刮性、表面 zeta 電位外，奈米結構也引起人們極大的興趣。經由執行下列操作，深入瞭解您的材料：
- 表面起伏測量
- 機械性質的測量
- 電性質的測量
厚膜的研究（厚度 > 1 µm）
膜狀黏膠的研究
越來越多的工業和消費性產品是透過黏合而不是接合、焊接、軟焊、螺絲鎖緊或夾住的方式連接在一起，因此膜狀黏膠的前景大好。但這也代表必須滿足各式各樣的需求：
需要研究它們的強度、彈性、持續性，甚至導電性或電阻性等特殊特性。利用多種可能性， 原子力顯微鏡可分析您的黏合劑，直至奈米級。
它的 原子力顯微鏡 (AFM) 其力曲線分析讓您瞭解所有想知道的附著力資訊。經由量化測量其彈性性質，深入瞭解膜狀黏膠。
通常透過在基層上塗佈液體黏著層來製備膜狀黏膠，在過程中需要固化液體黏著層。
利用其優勢， 群組 利用流變學特性分析的優勢來測定黏著層的固化動力學，從而找到理想的生產過程設計。
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找到合適的聚合物特性分析解決方案
無論是薄膜、奈米薄膜、厚膜還是膜狀黏膠，它們的成分始終影響它們的性質。徹底研究這些性質是很重要的，如此一來，您的聚合物薄膜才能滿足所有應用領域的特定要求。徹底研究也是修改配方和控制品質的先決條件。
解決方案 優勢 儀器 所生產薄膜的表面品質不佳（波紋表面）。
執行流變學測量以特性分析所用原料的黏彈性，進而最佳化加工條件。
所生產薄膜品質一致，且沒有表面瑕疵或缺陷
在熱帶/乾旱/寒冷氣候條件下，包裝膜的故障率增加。
在濕度受控的 DMA 測試中分析薄膜的機械性能。
確保您的產品完好無損地送給客戶，不受氣候條件的影響
薄膜在使用期間破裂。
執行拉伸測試以測定斷裂時的應變或應力。執行動態力學分析以研究膜的脆性（如：測得的阻尼因子所示）。
根據產品需求量身設計更好的材料選擇，進而提高產品品質
剝離膠帶後，黏著劑殘留物會留在表面（未完全固化的黏著層）。
根據溫度和時間研究黏著劑的老化行為。
最佳化材料配方和加工條件能提高產品品質
塗料容易刮傷。
執行控制精確的刮痕測試以測量抗刮性。
關於新配方塗料抗刮性的反饋
受到刮痕損傷後，聚合物膜和塗料必須恢復原狀。
執行精確定義的刮痕測試，以測量刮痕形成期間的深度和恢復後的深度。
測試不同的薄膜和塗層並最佳化配方，以在受到刮痕損傷後實現最佳的塗料或膜恢復率
聚合物膜/塗料必須抗老化。
使用潛變段執行壓痕測量，以測量膜/塗料的潛變性質。分析不同 pH 值下的表面 zeta 電位以測定等電點。
根據不同膜/塗料的潛變性質進行排名，並選出最佳的膜/塗料。Zeta 電位與衰老傾向相關聯的可能性。
所生產的薄膜光學品質不足，外觀顏色較淺（色散變異大）。
在不同波長下執行折射率測量並確定分散度。
所生產的薄膜品質一致。在開發新產品期間可以篩出規格外的聚合物。
對膠帶進行特性分析。
執行黏著劑材料分佈的 3D 地圖。
膠帶生產的程序和品質控制
需要開發或特性分析新的黏著材料。
執行力曲線測量以量化附著力分析。
縮短開發週期以達到目標規格
檢查多層聚合物中每層的真實奈米結構和機械性質
使用 AFM 執行表面起伏測量和力距離曲線
獲得次奈米級的粗糙度資訊和彈性係數的量化值
量化不同薄膜聚合物的混合比，以找到材料的理想最終用途
執行間歇接觸模式或 CRAI 模式測量以顯示不同聚合物的分佈，進而獲得混合比
顯示不同聚合物在奈米級的分佈，量化混合比實現最佳材料特性分析
薄膜沒有表現出所需的潤濕性能
分析表面 zeta 電位以獲得表面功能的知識。
調整性能的選項，以獲得具有所需潤濕性能的薄膜。
聚合物薄膜不具有抗菌效能
分析不同 pH 值下的表面 zeta 電位以獲得等電點的知識。
檢測具有抗菌性能的適當材料成分。
需要預測聚合物薄膜和水溶液之間的相互作用
分析表面 zeta 電位以確定液體分子是否吸附在表面或薄膜的成分是否被洗脫。
可以使用表面敏感技術來分析實際樣品。
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教育資源
聚合物特性分析網路研討會
網路研討會：聚合物膜的特性分析
薄聚合物膜、厚聚合物膜和膜狀黏膠等特性分析有無限可能性
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- 刮痕和壓痕測試可測定聚合物膜的附著力和抗刮性以及其潛變性質。
- 原子力顯微鏡可提供關於表面結構、粗糙度和機械性質的資訊。
- 對於厚聚合物膜和膠帶的樣品，流變學研究和動態機械分析會深入探討樣品黏彈性性質、溫度以及濕度對整體性質影響。
- 您可以使用折射計測定聚合物膜的光學性質。
在這個網路研討會中，您將深入瞭解這些分析方法如何協助全面瞭解薄膜、厚膜和膜狀黏膠的聚合物性質。
語言：英語
講師：Matthias Walluch 博士、Gregor Plohl、Jiri Nohava 博士、Tobias Husemmann
聚合物特性分析應用報告
