Bu alanının doldurulması şarttır.
Invalid
Parça numarası

Atomik Kuvvet Mikroskopları:
Tosca

Model:
  • Top-level AFM for entry-level budgets
  • Bu fiyat segmentindeki en büyük örnek ünitesi (tamamen erişilebilir 50 mm)
  • Pazardaki en kısa ölçüm süresi (sadece 3 dakika)
  • Z yönünde 15 µm ve X ve Y yönünde 90 µm x 90 µm boyutunda tarama
  • 10 saniyeden kısa bir sürede kantilever değişimi
  • Başlık değiştirmeden tüm modları aynı örnek noktasında kullanma
  • Bu fiyat segmentindeki en büyük örnek ünitesi (plakalar için 200 mm'ye kadar)
  • AFM'niz için en yüksek düzey donanım ve yazılım otomasyonu
  • Pazardaki en kısa ölçüm süresi (sadece 3 dakika)
  • 10 saniyeden kısa bir sürede kantilever değişimi
  • Başlık değiştirmeden tüm modları aynı örnek noktasında kullanma
Yalnızca çevrimiçi fiyat | HariçDahil 0KDV
İstek üzerine
fiyat
Satın alma bilgileri
Anton Paar cihazlarini online satin al
Parça numarası:
Online stok durumunu kontrol et Teklif alın Bu ürünü online satın alın
Teslimat süresi: %1$s – %2$s iş günleri %1$s – %2$s hafta %1$s – %2$s ay

Top-level AFM for entry-level budgets: En hızlı ölçüm kurulumu ve en büyük örnek ünitesine sahip olan Tosca serisi, AFM nano yüzey analizinizin hızına ayak uyduracaktır.

Tosca, nanoteknoloji malzeme bilimi alanındaki araştırmacılar, öncüler, düşünürler ve uygulayıcıların ilk tercihidir.

Başlık değiştirerek mod geçişi yapmak geçmişte kaldı: Tosca, tek bir başlıkla tüm modları kullanarak tam olarak aynı noktada ölçüm yapmaya olanak tanır.

Tosca Bakım Paketi hakkında her şey

Faydaları

AFM ölçüm prosedüründeki her adımı kapsayan patentli, akıllı özellikler, geleneksel AFM sistemlerinden 10 kat daha hızlı sonuç elde etmeyi sağlayan benzersiz, son derece kolaylaştırılmış bir AFM iş akışı oluşturur.

AFM'yi kullanmayı öğrenmek için günler harcamak yerine 1 saat sonra ölçüm gerçekleştirmeye başlayın. Saniyeler içinde hızlı ve güvenli kantilever yerleştirme, otomatik lazer hizalaması, en sezgisel örnek hareket ettirme ve pazardaki en güvenli temas prosedürü sizi, araştırma sonuçlarına odaklanmak için daha fazla zaman ayırma hedefinize götürür.

AFM'yi kullanmayı öğrenme
AFM'yi kullanmayı öğrenme
  • Eğitim sadece 1 saat sürer
  • Geleneksel AFM'lerden 12 kat daha hızlı

Zorluk

Hemen başlamak istiyorum. Tosca'yı kullanmayı öğrenmek için ne kadar zamana ihtiyacım var?

Çözüm

Tosca'yı kullanmak o kadar kolaydır ki standart modlarla kullanma eğitimi sadece bir saat sürer.

Avantajlarınız ve zaman

Geleneksel AFM'lerdeki 1,5 gün süren eğitim yerine, Tosca ile bir saatlik eğitiminizin ardından ilk ölçümünüzü başlatabilirsiniz.

Ölçüm için örnekleri hazırlama
Ölçüm için örnekleri hazırlama
  • Örnek hazırlamasına gerek yoktur
  • Büyük örnekleri doğrudan ölçün
  • Örnek hazırlama: 100 mm çap, 25 mm yükseklik (plakalar için 200 mm'ye kadar çap)

Zorluk

Örneklerin kesilmesi ve dilimlenmesi, hasara ve kontaminasyona neden olabilir. Bundan nasıl kaçınabilirim?

Çözüm

Örnek hazırlamayı ve bununla bağlantılı kontaminasyon veya yanlış sonuç riskini unutun. Tosca sayesinde 25 mm'ye kadar yüksekliği ve 100 mm'ye kadar çapı olan büyük örnekleri doğrudan ölçebilirsiniz.

Avantajlarınız ve zaman

Tosca sayesinde doğru sonuçlar elde edersiniz ve bu zahmetli hazırlık adımını atlayabilirsiniz. Örneğe bağlı olarak 15 dakikaya kadar zaman tasarrufu sağlarsınız.

Kantilever yerleştirme
Kantilever yerleştirme
  • Kantileverinizi 10 saniyede yerleştirin
  • %100 doğru hizalama
  • Kantilever kırılmasına son

Zorluk

Kantileveri değiştirmek ve yerleştirmek hem çetrefilli hem zaman alan bir iştir. Bunu yapmanın daha iyi bir yolu var mı?

Çözüm

Ellerinizi kullanmadan 10 saniyede kantilever değişimi için patentli Probemaster'ı kullanın.

PATENT: AT520313 (B1)

Avantajlarınız ve zaman tasarrufu

Probemaster, kantileverinizi hızlı bir şekilde yerleştirir, hasarı önler ve doğru hizalamayı sağlar.

Örnek yerleştirme
Örnek yerleştirme
  • Birden fazla örnek yerleştirin ve hepsinin ölçümünü tek seferde gerçekleştirin
  • Tekrarlanan örnek yerleştirme işinden 20 dakikaya kadar tasarruf edin
  • Örnek taşıyıcıyı manyetik kilitle sabitleyin

Zorluk

İşlemi kolaylaştırmak için birden fazla örnek yerleştirmek mümkün mü?

Çözüm

Birden fazla örnek yerleştirin ve ölçümü tek seferde gerçekleştirin. Tosca'nın patentli manyetik kilidi, örneklerin sağlam bir şekilde yerleştirilmesini sağlar.

PATENT: AT515951 (B1)

Avantajlarınız ve zaman tasarrufu

Büyük taşıyıcıdaki örnekleri seçtiğiniz bir yere yerleştirdiğinizde sağlam olacaklarına güvenebilirsiniz. Birden fazla örneğin ölçümünü bir adımda gerçekleştirin. Kullanıcıya bağlı olarak örnek başına 20 dakikaya kadar zaman tasarrufu sağlarsınız.

Lazer hizalaması
Lazer hizalaması
  • 5 saniyede tamamen otomatik lazer hizalaması
  • Sadece yazılımda fareye iki kez tıklamanız gerekir

Zorluk

Lazerin manuel olarak hizalanması, aynı zamanda uzmanlık gerektiren zahmetli bir prosedürdür. Bu prosedürün bir alternatifi var mı?

Çözüm

Tosca, 5 saniyede tamamen otomatik lazer hizalaması sağlar.

PATENT: AT520419 (B1)

Avantajlarınız ve zaman tasarrufu

Tosca otomatik lazer hizalaması özelliği sizi bir hizalama uzmanı haline getirir. Sadece yazılımda fareye iki kez tıklanması gerekir. Hizalama başına 5 dakikaya kadar zaman tasarrufu sağlarsınız.

Yaklaşma
Yaklaşma
  • Patentli yandan görüş kamerası size kantileverin yüzey üzerindeki konumunu tam olarak gösterir
  • Güvenli ve hızlı yaklaşma
  • Başlığın çarpma riski yoktur

Zorluk

Doğru bir şekilde yaklaşmak zordur. Başlığın çarpmasından nasıl kaçınabilirim ve karmaşık geometriler, şeffaf örnekler ve bir cama gömülmüş örnekler ile nasıl başa çıkabilirim?

Çözüm

Tosca'nın patentli yandan görüş kamerası, sektöründeki en güvenli ve en kolay temas prosedürünü sunar.

PATENT: EP3324194B1  

Avantajlarınız ve zaman tasarrufu

Örnek yüzeyi üzerinde kantileverin yatay görünümünü kullanmak, yaklaşma işlemini görsel olarak takip etmenize olanak tanır. Önemli oranda daha düşük hata riskiyle örneğe ve kullanıcıya bağlı olarak 5 ila 10 dakika zaman tasarrufu sağlarsınız.

Navigasyon
Navigasyon
  • Üç kamera tüm seviyelerde örneği gösterir
  • Tıklayarak cm, µm veya nm ölçeği görünümüne geçmeniz yeterlidir
  • Ölçüm başına 5 ila 10 dakika zaman tasarrufu elde edin

Zorluk

Örnek üzerinde ilgilenilen alanı bulmak zaman ve sabır gerektirir. Bu prosedürü nasıl optimize edebilirim?

Çözüm

Tosca, sezgisel bir tıkla-git hareket sistemi uygular. Zaman alan manuel konumlandırma yerine anında otomatik hareket ettirme için ilgilenilen alanın üzerine tıklamanız yeterlidir.

Avantajlarınız ve zaman tasarrufu

Hareket ettirme işlemi için tek bir tıklama yeterlidir. Bu, üç entegre kamera ile cm, µm ve hatta nm kadar geniş bir ölçekte yapılabilir. Ekstra kolaylık avantajıyla ölçüm başına 5 ila 10 dakika zaman tasarrufu sağlarsınız.

Veri analizi
Veri analizi
  • Ham verileri her zaman saklayın ve tüm analiz adımlarının etkisini takip edin
  • Şablonlar ve parti analizi
  • Raporlar 5 saniyede tamamlanır

Zorluk

Çeşitli analiz olanakları ve şablonları sunan bir analiz yazılımına ihtiyacım var. Ayrıca tüm analiz adımlarını takip etme seçeneğine sahip olmak istiyorum.

Çözüm

Saniyeler içinde eksiksiz raporlar almak için Tosca Analysis şablonlarını kullanın. Her bir analiz işlemi kaydedilir, böylece ham veri işlemesini her zaman takip edebilirsiniz.

Avantajlarınız ve zaman tasarrufu

Sadece ham verileri ve çoklu ölçümlerindeki bazı verileri yüklemeniz gerekir ve 5 saniye içinde raporunuz tamamlanır. Analiz raporu başına 20 dakikaya kadar zaman tasarrufu sağlarsınız.

Polimet örneği
  • Kontakt rezonans genlik görüntüleme
  • 10 µm x 10 µm görüntü boyutu
  • 500 px x 500 px çözünürlük

Ayrıntılar

PMMA/SBS polimer karışımı. Topografi ve mekanik özellikleri süperpozisyonu. 10 µm x 10 µm görüntü boyutu, 500 px x 500 px çözünürlük.

Mod

Kontakt rezonans genlik görüntüleme

Araştırma konusu

Her iki polimerin dağılımı, ince filmlerin mekanik özelliklerini tanımlar. CRAI modu, faz analizinin yanı sıra topografi için de kullanılır.

Nanolif örneği
  • Dokunma modu
  • 25 µm x 25 µm görüntü boyutu
  • 1000 px x 1000 px çözünürlük

Ayrıntılar

Fiber polikaprolakton ağı (PCL). Kritik boyutların değerlendirilmesi için yüksek çözünürlüklü topografi görüntüsü. 25 µm x 25 µm görüntü boyutu, 1000 px x 1000 px çözünürlük.

Mod

Dokunma modu

Araştırma konusu

PCL nanolifler, çeşitli biyomedikal uygulamaları için gelecek vadeden bir malzemedir. Topografi analizi, 80 nm ile 400 nm arasındaki nanolif çapını tespit eder.

Mikro elektronik örneği
  • İletken atomik kuvvet mikroskobu
  • 564 nm x 564 nm görüntü boyutu
  • 400 px x 400 px çözünürlük

Ayrıntılar

Yalıtıcı bir cam ana yapının içindeki iletken oksit parçacıklarından oluşan mikro elektronik bileşenler. Topografi ve geçerli harita süperpozisyonu. 564 nm x 564 nm görüntü boyutu, 400 px x 400 px çözünürlük.

Mod

İletken atomik kuvvet mikroskobu

Araştırma konusu

C-AFM, dielektrik kaplamalardaki elektriksel olarak zayıf noktaları tanımlamak veya mikro elektronik bir bileşende ya da elektrotlara yönelik malzemelerde iletken yolu görüntülemek için kullanılabilir.

Su metalizasyonu örneği
  • Dokunma modu
  • 20 µm x 20 µm görüntü boyutu
  • 1000 px x 1000 px çözünürlük

Ayrıntılar

Yarı iletken üretimi için silikon plaka. Metalizasyondan sonra yüzey. 20 µm x 20 µm görüntü boyutu, 1000 px x 1000 px çözünürlük.

Mod

Dokunma modu

Araştırma konusu

Hassas tane boyutu ve yüzey pürüzsüzlüğü analizi, plaka üretimindeki metalizasyon adımları için son derece önemli parametrelerdir.

Teknik özellikler

Tosca 400 Tosca 200
Tarayıcı
X-Y tarama aralığı 100 µm x 100 µm 50 µm x 50 µm*
Z tarama aralığı 15 µm 10 µm**
Maks. tarama hızı 10 çizgi/saniye 5 çizgi/saniye
Örnek
Maks. örnek çapı 100 mm (200 mm***) 50 mm
Maks. örnek yüksekliği 25 mm (2 mm***)
Maks. örnek ağırlığı <600 g
Pozisyon tekrarlanabilirliği
(tek yönlü)
<1 µm
Video mikroskobu
Kamera Renkli, 5 megapiksel, CMOS sensörü
Görüş alanı 1,73 mm x 1,73 mm
Uzaysal çözünürlük 5 µm
Odaklama Motorlu odaklama
Genel bakış kamerası
Kamera Renkli, 5 megapiksel, CMOS sensörü
Görüş alanı 40 mm x 40 mm
Uzaysal çözünürlük 50 µm
Yandan görüş kamerası
Yandan görüş kamerası Siyah ve beyaz, 30 mm
Modlar
Standart modlar Kontakt modu, dokunma modu (faz görüntüsü dahil), yatay kuvvet mikroskopisi, kuvvet mesafe eğrisi
Opsiyonel modlar Kontakt rezonans genlik görüntüleme, manyetik kuvvet mikroskobu, Kelvin probu kuvvet mikroskobu, elektrostatik kuvvet mikroskobu, iletken atomik kuvvet mikroskobu, akım kontrollü iletken atomik kuvvet mikroskobu
Boyutlar ve ağırlık
Boyut (D x G x Y), AFM ünitesi 490 mm x 410 mm x 505 mm
Boyut (D x G x Y), kontrolör 340 mm x 305 mm x 280 mm
Ağırlık, AFM ünitesi 51,1 kg
Ağırlık, kontrolör 7,8 kg

* istenirse 90 µm x 90 µm ölçülerine yükseltme

** istenirse 12 µm veya 15 µm ölçülerine yükseltme

*** Levha Tablası (opsiyonel) kullanırken

Tosca, Anton Paar'ın tescilli ticari markasıdır (013412143).

Anton Paar Certified Service

Servis ve destekte Anton Paar kalitesi:
  • Dünya genelinde 350'den fazla üretici onaylı teknik uzman
  • Kendi dilinizde yetkili destek hizmetleri
  • Yatırımınız için yaşam döngüsü boyunca koruma
  • 3 yıl garanti
Daha fazla bilgi

Belgeler

Aksesuarlar ve Yazılım

Seçiminiz: Tüm filtreleri sıfırla X
Endüstri
Uygulamalar
Standartlar
Gösterilenler: - /