Acessório para Plataformas Step:
Microscópio de Força Atômica (AFM)
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- Solução versátil de AFM para várias aplicações científicas e industriais
- Recursos de imagem e análise que oferecem informações de superfície em nanoescala
- Interação não destrutiva com amostras
A morfologia da superfície é vital para superfícies de alta tecnologia com características que chegam a alguns nanômetros. O AFM pode ser combinado com nossos medidores de resistência a arranhões e indentações em uma plataforma Step versátil que facilita o exame de tais características em condições ambientais. Ele oferece resolução em nanoescala, mapeamento preciso e medições quantitativas versáteis para avaliar materiais.
Principais recursos
Explore a topografia da superfície e obtenha percepções quantitativas precisas
O Microscópio de Força Atômica eleva seus recursos de imagem e análise, fornecendo informações de superfície em nanoescala. Sua precisão no que diz respeito às características da superfície (até alguns nanômetros) e à rugosidade da superfície (abaixo de um nanômetro) ultrapassa a de técnicas alternativas e funciona como uma ferramenta de geração de imagens não destrutiva.
Câmera integrada: visão geral detalhada da superfície
A câmera de visão superior integrada garante uma visão geral detalhada da superfície, permitindo a localização e o alinhamento precisos das áreas de amostra sob o cantiléver. A câmera de visão lateral orienta a aproximação rápida inicial alguns micrômetros antes que o AFM faça a transição perfeita para a aproximação automática final. Além disso, os links do software permitem fácil visualização das impressões de indentação e dos caminhos dos arranhões. Além disso, a utilização de cantiléveres com ranhuras de alinhamento elimina a necessidade de alinhamento a laser, minimizando o tempo ocioso e simplificando o manuseio durante os experimentos.
Diferentes modos para um exame completo
O AFM vai além da exploração convencional da topografia, permitindo a visualização de propriedades adicionais do material, como informações de fase, assim como propriedades magnéticas e elétricas.
Especificações
| Característica | Descrição |
| Alcance máximo de varredura (XY) | 110 µm |
| Faixa Z máxima | 22 µm |
| Erro médio de linearidade XY | <0,6% |
| Nível de ruído de medição Z (RMS, modo estático) | <500 pm |
| Nível de ruído de medição Z (RMS, modo dinâmico) | <150 pm |
| Montagem do | Cabeçote de escaneamento removível (86 mm x 45 mm x 61 mm) com placa de montagem de travamento rápido de 3 pontos |
| Alinhamento do cantiléver | Alinhamento autônomo e automático para cantiléveres com ranhuras de alinhamento |
| Faixa de aproximação automática | 4,5 mm (1,5 mm abaixo do plano focal da óptica interna) |
| Observação de amostras | Sistema de câmera de vídeo USB dupla (vista superior e lateral simultâneas) 5 MP, 1,4 mm x 1 mm, vista superior colorida de 5 MP, 3,1 mm x 3,5 mm, vista lateral colorida da amostra e do cantiléver |
| Iluminação da amostra | LEDs brancos (brilho 0-100%); iluminação axial para visão superior |
Serviço Certificado Anton Paar
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