超奈米壓痕測試儀：
UNHT³
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- +8
- 在環境條件下進行測量
- 從室溫到高達 200 °C 的可變溫度測試
配備真實力與位移感測器的 UNHT³ 超奈米壓痕測試儀可用於檢測奈米級材料的機械性質。UNHT³ 採用獲得專利的主動式表面參考系統，幾乎消除熱漂移與順適性的影響。適用於從原子到奈米尺寸所有類型材料（包括聚合物、極薄塗層及軟組織）的長時間測量。對於在非常低或非常高的溫度下的測量，可以使用真空室版本 (UNHT³HTV)，最高 800 °C 以及最低 10-7 mbar。
將 UNHT³ 測試頭與 Step 平台上的另一個刮痕或壓痕測試儀結合使用，可完全涵蓋奈米/微米/宏觀範圍。新增 AFM 模組即可使用單一儀器獲得完整的機械表面特性分析。
主要功能
最準確的奈米壓痕測試儀
UNHT³ 測量其他人估計的值：兩個獨立的深度與負載感測器，提供對作用力與壓痕深度的真實控制。此外，UNHT³ 採用安東帕的專利主動頂部參考設計：當測量壓痕儀執行測量時，另一參考壓痕儀監測樣品的表面位置，可以消除任何熱漂移與順適性問題。這允許廣範圍的壓痕深度（從幾 nm 至 100 μm）和壓痕負載（從幾 μN 至 100 mN）。
市場上穩定度最高的奈米壓痕測試儀
獨特的主動式頂部表面參考和 Zerodur（一種不會熱膨脹的材料）的結合，這表示 UNHT³ 是唯一一款在沒有任何深度修正的情況下，可忽略熱漂移（低至 10 fm/sec）的奈米壓痕測試儀。這使得它成為唯一用於長時間測量的奈米壓痕測試儀，例如潛變測試。
結合 Piezo 位移台的快速測量
結合 UNHT³ 測試頭的卓越性能、Quick Mode 的高效率，以及 100 μm × 100 μm Piezo 位移台的進階功能，使用者即可以前所未有之速度完成精確的樣品表面壓痕映射。Piezo 位移台具有出色的 10 nm 重新定位精度，使得壓痕間距可低於 500 nm，進而提供更細緻且可靠的特性化資料。可自訂的使用者檔案、多樣化之測量流程、有效的多樣品處理與客製化報告進一步提升產能——在實際壓痕曲線情況下，每小時超過 1000 次的業界領先處理量
具有「正弦模式」的附加動態力學分析 (DMA)
整合的「正弦模式」能夠執行 DMA 分析，以研究力學特性隨深度的變化（HIT、EIT 對比深度）和黏彈性質測量 (E’、E’’)：儲能與損耗模數，tan δ，樣品涵蓋薄膜到塊狀材料。正弦模式還提供其他功能，例如快速壓頭校準和應力-應變分析。
Step 平台：最大的儀器多功能性
Step 平台可實現完整的機械式表面特性分析測試。無論您僅執行奈米壓痕測試，還是透過刮痕或 AFM 測量來輔助結果，Step 平台始終提供穩定性、噪音隔離和模組化方面的最佳解決方案。
在高真空和高達 800 °C 的高溫下進行測量
HTV 版本的 UNHT³ 是唯一具有全自動程序的奈米壓痕儀，可將熱漂移降至最低，從而能夠在整個溫度範圍內實現 <3 nm/min 的測量條件。這是透過獨特的專利加熱管理來完成的，可同時控制樣品和壓頭溫度，精確度為 0.1 °C。壓痕軟體控制加熱和環境條件，與系統實時互動，以最大程度地減少熱漂移並啟動所有所需的測量。您可以計畫一組具有不同溫度階段之任何類型的壓痕（標準 UNHT³ 亦可），儀器會根據預設矩陣自動進行測量。
規格
| 最大負載 [mN] | 50 / 100(1) |
| 負載解析度 [nN] | 3 |
| 負載雜訊背景 [rms] [μN] | ≤0.05 |
| 加載速率 [mN/min] | 最高 1000 |
| 深度範圍 [μm] | 50 / 100(1) |
| 深度解析度 [nm] | 0.003 |
| 深度雜訊背景 [rms] [nm] | ≤0.03 |
| 資料獲取率 [kHz] | 192 |
| 選配 | |
| 加熱樣品台至 200 °C | ✔ |
| 液體測試 | ✔ |
(1) 選配
專利
UNHT³ 的主動式頂部表面參考：US 7,685,868 B2
標準
ASTM
標準
ASTM
文件
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高解析定位模組：
Piezo 位移台 100 μm x 100 μm
超奈米壓痕測試儀：UNHT³ 標準版
- 卓越的重新定位精度
- 在大面積上執行高精度壓痕
- 無縫整合且易於平台升級
Step 平台配件：
原子力顯微鏡 (AFM)
超奈米壓痕測試儀：UNHT³ 標準版 | HTV
- 適用於各種科學和產業應用的多功能 AFM 解決方案
- 提供奈米級表面資訊的成像和分析能力
- 與樣品的非破壞性交互作用
Step 平台配件：
加熱模組
超奈米壓痕測試儀：UNHT³ 標準版 | HTV
- 優異的熱穩定性，測試溫度最高達 450 °C
- 將表面機械屬性與溫度相關聯。
- 直接在 Step 平台上安裝
CERTIFIED FUSED SILICA SAMPLE WITH STUD CERTIFIED SAMPLE FOR ELASTIC MODULUS
超奈米壓痕測試儀：UNHT³ 標準版 | HTV
For indenter calibration and reference measurement. Certified sample for elastic modulus: diameter = 25mm. height = 5mm (without stud). total height: 21mm. Including sample stud fixed to sample.
