Wyszukiwarka dokumentów
Szukasz konkretnego dokumentu? Znajdź go tutaj.
-
Annealing of the Radiation Damage in Mg-implanted GaN Thin Films: Temperature Development of Lattice Parameters and Stresses Sprawozdania z testów zastosowań
-
Elevated-temperature X-ray Diffraction Analysis of Strains/Stresses in Al Thin Films on Si (100) Wafers Sprawozdania z testów zastosowań
-
Elevated-temperature X-ray Diffraction Analysis of Strains/Stresses in Heteroepitaxial AlN Thin Films on (0001) Sapphire Sprawozdania z testów zastosowań
-
Temperature-Dependent Strain-stress Characterization in GaN (Gallium Nitride) Thin Films Sprawozdania z testów zastosowań
-
Thermal Stability of Organic Semiconductor Monolayers Monitored by In-situ X-ray Reflectivity Sprawozdania z testów zastosowań
-
DHS 1100 Broszury