입도 분석기
한 번의 터치로 입자 분석
입자 시스템은 복잡할 수 있지만 측정까지 복잡할 필요는 없습니다. 나노미터에서 밀리미터 범위의 입자에 대해 특성을 분석하기 위해 세 가지 기술 중에서 선택하세요
- Litesizer DLS 시리즈는 광산란 기술을 활용하여 액상에 분산된 나노 및 마이크로 입자들의 입도, 제타 전위, 투과율, 분자량 및 굴절률을 측정합니다.
- Litesizer DIF 시리즈는 레이저 회절(LD) 기술을 사용하여 마이크로 및 밀리미터 범위의 액상 시료 및 건식 분말의 입자 크기를 측정합니다.
- Litesizer DIA 시리즈는 동적 이미지 분석을 기반으로 하므로 입자 크기와 함께 입자 형상 정보까지 제공합니다. 또한 강력하고 다양한 분산 장치 포트폴리오를 통해 완벽한 측정 유연성을 얻을 수 있습니다.
Anton Paar 제품
세 가지 기술을 통해 모든 시료를 분석
각기 다른 기술이 적용된 Litesizer DLS, Litesizer DIF 및 Litesizer DIA 시리즈를 사용하여 미세 수준의 나노미터에서 밀리미터 범위의 입자 크기를 측정하세요. 요구사항에 맞는 입도 분석기를 선택하세요.
Litesizer DIF 시리즈를 사용하여 습식 또는 건식 상태에서 최대 밀리미터까지의 입자 크기를 분석합니다. Litesizer DLS 장비를 사용하면 분산액 내 나노미터 범위까지 분석할 수 있습니다. Litesizer DIA 시리즈를 사용하면 습식, 자유 낙하, 또는 압축 공기 분산 장치에서 입자 크기 및 형상 정보를 측정할 수도 있습니다.
Litesizer DLS 시리즈: 3가지 기기, 최대 6가지 측정 모드
당사의 Litesizer는 단일 각도 측정 또는 다중 각도 입자 크기 측정(MAPS)을 통해 입자 크기 그 이상의 정보를 제공합니다. 입자 농도, 제타 전위, 분자량, 투과율 및 굴절률 또한 파악할 수 있습니다. 세 가지 측정 각도, 또는 선택된 단일 각도에 대해 형광 및 편광 필터를 사용할 수 있으므로 유사한 입도 분석기에서는 불가능한 시료의 분석도 가능합니다.
Litesizer DIF 시리즈: 최초에서 최고의 자리로
Litesizer DIF 시리즈는 약 60년 동안 축적되어 온 레이저 회절 전문성을 바탕으로 10 nm에서 3.5 mm까지의 입자 크기를 진보된 방식으로 측정합니다. 이 레이저 회절 입도 분석기는 강력한 10 mW 및 25 mW 레이저가 탑재 된 동급 최고의 광학 장치와 시중에서 가장 넓은 0.01°~170°의 회절 각도 검출 범위를 자랑합니다.
Litesizer DIA 시리즈: 단 하나의 버튼으로 실행되는 동적 이미지 분석
Litesizer DIA 시리즈를 사용하면 단 몇 초 만에 입자 크기를 측정할 수 있을 뿐만 아니라, 수백만 개 입자에 대한 형상 정보도 얻을 수 있습니다. 습식, 건식, 자유 낙하의 세 가지 분산 장치를 빠르게 전환하여 거의 모든 시료에 대해 탁월한 분산이 가능합니다. 자동화 기능으로 작업을 최소화하고 위험한 시료의 비산으로부터 기기 손상을 방지하는 안전 기능도 갖춰져 있습니다.
Kalliope: 작업자의 개입을 최소화하는 입자 분석 소프트웨어
Kalliope에서 측정 모드를 최적화하면 단 세 번의 클릭으로 측정이 시작됩니다. 이 소프트웨어로 포트폴리오의 모든 입도 분석기를 제어할 수 있습니다. Kalliope는 모든 입력 파라미터, 측정 및 분석 데이터를 하나의 화면 공간에 표시하는 직관적인 소프트웨어입니다. Kalliope를 사용하면 기기 사용법을 익히기 위해 노력하는 대신 입자에서 일어나는 변화에 집중할 수 있습니다. Kalliope는 완전한 결과 추적을 위해 21 CFR Part 11을 준수합니다.
웨비나
응용 분야 및 과학 주제에 대한 라이브 웨비나 및 녹화본을 지속적으로 다양하게 제공합니다.
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