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Nano Scratch Tester (NST³)

Il nano scratch tester più accurato disponibile sul mercato

Il Nano Scratch Tester è specificamente adatto a caratterizzare l'adesione dei film sottili e rivestimenti con uno spessore tipico inferiore a 1000 nm. Il Nano Scratch Tester può essere utilizzato per l'analisi di rivestimenti morbidi e duri, organici e inorganici. Alcuni esempi sono i sottili e multistrato PVD, CVD, PECVD, photoresist, vernici, lacche e molti altri tipi di film. Il tester NST³ è indicato per applicazioni ottiche, micro-elettroniche, protettive, decorative e di altro tipo. I sottostrati possono essere duri o soffici, per esempio leghe metalliche, semiconduttori, vetro, materiali rifrattivi ed organici.

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Caratteristiche

Risposta in tempi rapidi a piccola forza applicata

Il Nano Scratch Tester con sensore di forza incorpora una trave con doppio cantilever per l'applicazione del carico, combinata con un attuatore piezoelettrico per la rapida risposta al carico applicato. Inoltre questo design corregge le eventuali deviazioni nei risultati dovute a eventi che si verificano durante il graffio (ad es. formazione di fessure e rotture, difetti, oppure campione non piano).

Misurazione brevettata della reale profondità di penetrazione per studi di recupero elastico

Il sensore di spostamento (Dz) monitora il profilo superficiale del vostro campione prima, durante e dopo un graffio. Questo significa che potete valutare la profondità di penetrazione dell'indentatore durante e dopo il graffio. Pertanto è possibile determinare le caratteristiche elastiche, plastiche e viscoelastiche dei materiali (brevetto: US 6520004)

Nessun compromesso: applicate esattamente la forza desiderata (range microNewton)

Il controllo feedback sulla forza è una funzionalità che garantisce un nano scratch test ancora più accurato con forza inferiore a 1 μN. Il Nano Scratch Tester incorpora un sensore per la misura della forza che invia i dati direttamente all'attuatore di forza normale. Questo assicura che la forza applicata corrisponda alla forza impostata dall'utente.

Imaging ottico di alta qualità grazie alla funzione "Follow Focus"

Il nostro microscopio integrato consiste in una torretta con obiettivi di alta qualità ed una videocamera USB. Durante la visualizzazione di un graffio, il facile passaggio da x200 a x4000 consente una migliore analisi dei campioni sia al massimo che al minimo ingrandimento. La funzione "Follow Focus" consente la messa a fuoco automatica della giusta posizione con il piano Z per più graffi.

Modalità multi-post-scan per misurare il comportamento viscoso dopo un graffio

Dopo un graffio è possibile definire nel software misure post-scan illimitate con un delta in tempo per misurare la profondità residua. Questa nuova analisi aiuta a comprendere meglio il comportamento della superficie di recupero della deformazione in funzione del tempo.

Applicazioni tipiche

  • Polimeri: caratterizzazione di film sottili e/o superfici (resistenza al danneggiamento)
  • Rivestimenti a base di ossidi su substrati polimerici a film sottile
  • Proprietà meccaniche di film a base di diamante ultrananocristallino (UNCD)
  • Rivestimenti duri (rivestimenti in PVD, CVD): range di spessore inferiore a 1 micron
  • Wafer: range di spessore compreso tra 10 nm e 500 nm
  • Ottica e vetro: caratterizzazione di film sottili e/o superfici (resistenza al graffio)
  • Caratterizzazione fisica di materiali rivestiti

Specifiche

Carico applicato
Risoluzione 0,01 μN
Carico massimo 1000 mN
Rumore di fondo 0,1 [rms] [μN]*
Forza di attrito
Risoluzione 0,3 μN
Forza massima di attrito 1000 mN
Profondità
Risoluzione 0,3 nm
Profondità massima 600 μm
Rumore di fondo 1,5 [rms] [nm]*
Velocità
Velocità da 0,4 mm/min a 600 mm/min

*Valore rumore di fondo specificato in condizioni di laboratorio ideali e con l'ausilio di un piano di isolamento dalle vibrazioni.

Report applicativi

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