Nano Scratch Tester:
NST³
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- Misura di adesione dei rivestimenti e resistenza al graffio
- Intera immagine panoramica sincronizzata con tutti gli altri segnali come profondità di penetrazione e forza di attrito
- Ideale per rivestimenti sottili inferiori a 1.000 nm di spessore
- Misura della forza fino a 1.000 mN
Nano Scratch Tester (NST3) è particolarmente adatto per caratterizzare la resistenza ai graffi e l'adesione di film e rivestimenti sottili con uno spessore tipico inferiore a 1.000 nm. Analisi di rivestimenti organici e inorganici, morbidi e duri. Il design unico della testa di misurazione nano-scratch include due sensori per misurazioni di forza e profondità associate a un attuatore piezoelettrico all'avanguardia, per ottenere risultati in pochi millisecondi, oltre a una grande precisione e flessibilità.
Combinando la testina NST3 con un'altra testina per scratch test o test di indentazione, è possibile coprire l'intera gamma: nano, micro e macro. La versatilità della piattaforma Step consente di aggiungere un AFM per lo studio della topografia della superficie.
Principali caratteristiche
Panorama completamente sincronizzato per l'analisi, sempre e ovunque
Questa funzionalità unica del Nano Scratch Tester sincronizza automaticamente l'immagine panoramica di tutto il graffio con una messa a fuoco perfetta con i dati di graffio forniti da tutti i sensori. Eseguite l'analisi dei carichi critici sulla base dell'osservazione panoramica e delle registrazioni dei segnali in qualsiasi momento. Anton Paar è titolare esclusivo della tecnica di panorama sincronizzato (brevetto U.S.A. 8261600 e brevetto europeo EP 2065695).
Risposta rapida alle piccole forze
Il Nano Scratch Tester incorpora una trave con doppio cantilever per l'applicazione del carico, combinata con un attuatore piezoelettrico per una risposta rapidissima al carico applicato. Inoltre questo design corregge le eventuali deviazioni nei risultati dovute a eventi che si verificano durante il graffio (ad es. formazione di fessure e rotture, difetti, oppure campione non piano).
Applica esattamente la forza desiderata
Il controllo feedback sulla forza attiva chiusa consente di eseguire nano scratch test ancora più accurati (risoluzione del carico normale di 0,01 µN e rumore di fondo di 0,1 µNm). NST³ incorpora un sensore vero per la misura della forza che invia i dati direttamente all'attuatore di forza normale. Ciò assicura test di graffio riproducibili, anche misurando superfici con geometrie più complesse come campioni non paralleli, grezzi o curvi.
Studi sul recupero elastico: misurazione della profondità di penetrazione reale
Nano Scratch Tester NST³ incorpora un sensore di spostamento reale per monitorare il movimento verticale del penetratore. L’esclusiva tecnica di pre e post scansione consente di ottenere la profondità reale: è pertanto possibile valutare le proprietà elastiche, plastiche e viscoelastiche dei materiali. Questa tecnica prevede una pre-scansione che registra il profilo della superficie (forma, ondulazione e rugosità) del campione prima dello scratch test. NST³ corregge la profondità dell'indentatore durante il graffio (profondità di penetrazione) e dopo il graffio (profondità residua) utilizzando il profilo della superficie.
Modalità multi-post-scan per misurare il comportamento viscoso dopo un graffio
Dopo un graffio è possibile definire nel software misure post-scan illimitate con un delta in tempo per misurare la profondità residua. Questa nuova analisi aiuta a comprendere meglio il comportamento della superficie di recupero della deformazione in funzione del tempo.
Maggiore versatilità con la piattaforma Step
La piattaforma Step è la soluzione completa per i test di caratterizzazione meccanica delle superfici. La piattaforma Step offre la migliore soluzione in termini di modularità, stabilità e isolamento dal rumore, sia che si vogliano eseguire solo scratch test sia che si vogliano migliorare i risultati con misure di indentazione e AFM.
Specifiche tecniche
| Carico massimo [mN] | 1.000 |
| Risoluzione carico [µN] | 0,01 |
| Rumore di fondo [rms] [μN] | 0.1 |
| Valore del carico [N/min] | Fino a 100 |
| Forza di attrito massima [mN] | 1.000 |
| Risoluzione forza di attrito [μN] | 1 |
| Profondità massima [μm] | 600 |
| Risoluzione della profondità [nm] | 0.1 |
| Profondità rumore di fondo [rms] [nm] | 1.5 |
| Velocità di acquisizione dati [kHz] | 192 |
| Velocità di graffio [mm/min.] | Da 0,1 a 600 |
Standard
ASTM
Servizio certificato Anton Paar
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Documenti
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Accessorio per piattaforme Step:
microscopio a forza atomica (AFM)
- Soluzione AFM versatile per diverse applicazioni scientifiche e industriali
- Funzionalità di imaging e analisi per informazioni sulla superficie in scala nanometrica
- Interazione non distruttiva con i campioni
Accessorio per scratch tester:
modulo di attrito
- Valutazione del comportamento dell'attrito del materiale
- Strumento complementare per la valutazione della mancanza di adesione
- Combina scratch test e test tribologici
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