XRD szoftver:
XRDanalysis
-
-
-
- +3
- Sokoldalú szoftvercsomag a pordiffrakciós elemzéshez
- Keresési/egyezés funkció a gyors és pontos fázisazonosításhoz
- Rietveld-elemzés egyező vagy manuálisan betöltött fázisokkal
- Optimalizált elemzési munkafolyamatok, beleértve a tételelemzést az analitikai feladatok felgyorsítása és egyszerűsítése érdekében
Az XRDanalysis egy következő generációs szoftvercsomag az Anton Paar XRDynamic 500 műszerén végzett pordiffrakciós adatok elemzésére. Lehetővé teszi, hogy könnyedén elvégezze a profilillesztést, a fázisazonosítást vagy a számszerűsítést, valamint a mikroszerkezeti elemzést mind környezeti, mind nem környezeti körülmények között gyűjtött adatokból. Az XRDanalysis optimalizált elemzési munkafolyamatokat kínál különböző feladatokhoz, hogy segítse az XRD terén új felhasználókat, miközben megőrzi a tapasztaltabb felhasználók által igényelt rugalmasságot.
Legfontosabb funkciók
Automatizálja elemzését több elemzési feladat egyetlen munkafolyamatba történő integrálásával
Végezze el a pordiffrakciós adatok elemzését a kívánt módon egy rugalmas munkafolyamat-koncepcióval, amely lehetővé teszi több feladat kombinálását és végrehajtását egyetlen kattintással. A csúcskereséstől, a profilillesztéstől, a fázisazonosítástól egészen a Rietveld elemzésig minden lépés egyetlen munkafolyamatban kombinálható az elemzési feladatok automatizálásához. Több adatkészlet értékeléséhez tételfeldolgozás is könnyen elvégezhető, szükség szerint akár különböző munkafolyamatok esetén is különböző adatkészletekhez. Ezért az XRDanalysis rendkívül könnyen megtanulható és használható a kevésbé tapasztalt felhasználók számára, miközben a szakértő felhasználók számára az általuk igényelt rugalmasságot is biztosítja.
Fejlett fázisazonosítás, hogy soha ne hagyjon ki egyetlen fázist sem
Az XRDanalysis szoftverben használt keresési algoritmusok lehetővé teszik a fázis azonosítását referencia adatbázisokban, például az ICDD.PDF adatbázisaiban történő kereséssel. A fázisok hozzáadása után fejlett maradék keresést hajt végre, biztosítva a legkisebb fázisfrakciók azonosítását is. Ezenkívül a maradék keresés akkor is működik, ha a fázisokat manuálisan töltötték be (például CIF-ből), így nem kell csak a referencia adatbázisokra támaszkodnia a fázisazonosítás során.
Pontos fázisazonosítás még a legkisebb fázisoknál is
Az XRDanalysis-ben található Rietveld finomítási lehetőség lehetővé teszi a kvantitatív fázis és a strukturális elemzés végrehajtását, miközben minden műszer és minta mikroszerkezeti hatásával számol. A Rietveld elemzés bármely olyan fázisban elvégezhető, ahol rendelkezésre állnak atomi pozíciók. A fázisok közvetlenül átvihetők a referencia-adatbázis egyezési eredményeiből, vagy manuálisan hozzáadhatók a két forrásból származó fázisok CIF kombinációiból is. A finomított fázisparaméterek nemcsak a fázisfrakciókat szolgáltatják, hanem a mikrostrukturális paramétereket is, mint például a kristályméret és a terhelés.
Testreszabható jelentés
Az XRDanalysis gyors és egyszerű adat-és grafika exportálást tesz lehetővé minden elemzési lépésből az Ön által választott formátumban. Microsoft Office csomagok optimalizált felületét is tartalmazza, így a jelentési és adatexportálási funkció lehetővé teszi az adatok és grafikák optimális előkészítését a közzétételhez vagy az XRDanalysis platformon kívüli további elemzéshez.
Műszaki adatok
| Rendszerkövetelmények |
|
| Támogatott operációs rendszerek |
|
Anton Paar minősített szerviz
- világszerte több mint 350, gyártói tanúsítvánnyal rendelkező műszaki szakértő
- Szakértői támogatás az Ön nyelvén
- Befektetésvédelem a teljes életciklus során
- 3 év garancia
Dokumentumok
-
XRDynamic 500 Termékismertetők
Kompatibilis műszerek
Továbbfejlesztett funkcionalitás a HTK 1500 magas hőmérsékletű kamrával
További információ
