粒徑分析儀
只需按一下按鈕即可進行顆粒分析
雖然顆粒體系可能非常複雜，但顆粒測試毋須複雜。從三種不同的技術中選擇，分析從奈米到毫米範圍的顆粒特性。
- Litesizer DLS 系列利用光散射技術，可以測定粒徑，還可以測定 zeta 電位、穿透率、分子量及液體分散中奈米顆粒及微粒的折射率。
- PSA 系列使用雷射繞射 (LD) 技術，測量微米及毫米範圍內的懸浮液體以及乾粉中的粒徑。
- 由於 Litesizer DIA 系列基於動態影像分析，因此可以提供顆粒形貌以及粒徑的資訊。此外，透過我們強大的分散裝置組合，可以獲得全面的測試靈活性。
Anton Paar 產品
三種技術涵蓋全方位粒徑分析
透過不同的技術，Litesizer DLS 系列、Litesizer DIF、和 Litesizer DIA 系列可測量奈米到毫米範圍的粒徑。可根據您的需求選擇正確的粒徑分析儀。
使用 Litesizer DIF 儀器可在濕式或乾式分散模式下分析尺寸達毫米等級顆粒。您可以使用 Litesizer DLS 裝置進行奈米等級分析懸浮溶液。有了 Litesizer DIA 系列，您還可以使用濕式、自由落體式或乾式壓縮空氣分散裝置來確定粒徑和形狀資訊。
Litesizer DLS 系列：三種儀器，多達六種測量模式
我們的 Litesizer 不僅僅透過單角度測量或多角度粒徑測定 (MAPS) 來確定粒徑。還可以確定粒子濃度、zeta 電位、分子量、穿透率和折射率。螢光和偏振濾光片可用於所有三個測量角度或選定的單一角度 - 可進行其他業界粒徑分析儀無法進行的分析。
Litesizer DIF 系列：從第一到巔峰
Litesizer DIF 依據近 60 年的雷射繞射專業知識設計，可提供從 10 nm 到 3.5 mm 範圍的粒徑測量。這款雷射繞射粒徑分析儀的特色是擁有一流的光學設定，具有強大的 10 mW 和 25 mW 雷射以及市場上最寬的檢測繞射角範圍（0.01° 至 170°）。
只需按一下按鈕即可進行動態影像分析
使用 Litesizer DIA 系列，僅需幾秒鐘即可測量粒徑並獲得數百萬顆粒子的形貌資訊。僅需一個步驟，即可在三種分散裝置（濕式、乾式和自由落體式）之間快速切換，實現幾乎任何樣品的均可達成的最佳分散性。仰賴自動化功能來最大程度地減少工作量，並具備多種安全功能來保護您避免危險樣品擴散和儀器損壞。
Kalliope：直觀的顆粒分析軟體讓操作人員的操作複雜性降至最低
使用 Kalliope 最佳化您的測量，只需按三個按鍵即可開始測量。使用此軟體控制產品組合中的所有粒徑分析儀。Kalliope 是一款直觀的軟體，可在一頁式軟體顯示所有輸入參數、測量結果和分析。使用 Kalliope，您可以將重點專注放在顆粒本身，而非設法弄清楚如何使用儀器。Kalliope 符合 21 CFR Part 11 ，數據可追溯。
網路研討會
我們提供了大量有關類似產品、應用和科學主題的網路研討會和影片選擇。
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