粒徑分析儀
只需按一下按鈕即可進行顆粒分析
雖然顆粒體系可能非常複雜，顆粒測量卻不用這麼複雜。從三種不同的技術中選擇，分析從奈米到毫米範圍內的顆粒特性。
- Litesizer DLS 系列利用光散射技術，可以測定粒徑，還可以測定 zeta 電位、穿透度、分子量及液體分散中奈米顆粒及微粒的折射率。
- Litesizer DIF 500 使用雷射繞射 (LD) 技術，測量微米及毫米範圍內的液體分散體以及乾粉中的粒徑。
- 由於 Litesizer DIA 系列基於動態圖像分析，因此可以提供顆粒形狀以及粒徑的資訊。此外，透過我們強大的不同色散裝置組合，可以獲得全面的測量靈活性。
Anton Paar 產品
三種技術讓您無往不利
透過不同的技術，Litesizer DLS 系列、Litesizer DIF 500、和 Litesizer DIA 系列可測量較低奈米到毫米範圍的粒徑。可根據您的需求選擇正確的粒徑分析儀。使用 Litesizer DIF 500 儀器可在濕式或乾式分散模式下分析尺寸達毫米級的顆粒。您可以使用 Litesizer DLS 裝置進行分析液體分散體，但僅能分析到奈米範圍。有了 Litesizer DIA 系列，您還可以使用液體、重力落下或壓縮空氣分散裝置來確定粒徑和形狀資訊。
Litesizer DLS 系列：三種儀器，多達六種測量模式
我們的 Litesizer 不僅僅透過單角度測量或多角度粒徑測定 (MAPS) 來確定粒徑。還可以確定粒子濃度、zeta 電位、分子質量、穿透度和折射率。螢光和偏振濾光片可用於所有三個測量角度或選定的單一角度 - 允許進行同類粒徑分析儀無法進行的分析類型。
Litesizer DIF 500：一款先進雷射繞射儀器
Litesizer DIF 500 提供從 10 nm 到 3.5 mm 的先進粒徑測量，依據近 60 年的雷射繞射專業知識。這款雷射繞射粒徑分析儀的特色是擁有一流的光學設定，具有強大的 10 mW 和 25 mW 雷射以及市場上最寬的檢測繞射角範圍（0.01° 至 170°）。
Litesizer DIA 系列：一台儀器，三個分散裝置
使用 Litesizer DIA 系列，僅需幾秒鐘便可測量粒徑並獲得數百萬顆粒子的形狀資訊。僅需一個步驟，即可在三種分散裝置（濕式、乾式和自由落體式）之間快速切換，實現幾乎任何樣品的出色分散性。依靠自動化功能來最大程度地減少工作量，並依靠多種安全功能來保護您免受危險樣品擴散 和儀器損壞。
Kalliope：直觀的顆粒分析軟體讓操作人員的參與負擔降至最低
使用 Kalliope 最佳化您的測量，只需按三下即可開始測量。使用此軟體控制產品組合中的所有粒徑分析儀。Kalliope 是一款直觀的軟體，可在一個數位空間中顯示所有輸入參數、測量結果和分析。使用 Kalliope，您可以將重點放在顆粒的情況，而非設法弄清楚如何使用儀器。Kalliope 符合 21 CFR Part 11 標準，可完全追溯結果。
網路研討會
我們提供了大量有關類似產品、應用和科學主題的網路研討會和影片選擇。
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