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MCR용 소각 중성자 또는 X선 산란 시스템:
Rheo-SANS/SAXS
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최근 몇 년 동안 나노 기술에 대한 관심이 높아짐에 따라 싱크로트론 빔 라인의 수가 증가해 왔습니다. 정적 나노 구조 분석 외에, 소재 연구에 있어 또 다른 관심 분야는 전단의 영향입니다. 대류식 온도 조절 Rheo-SANS/SAXS 시스템을 사용하면 동심 실린더와 병렬 플레이트 시스템에서 SANS 및 유변학 측정을 결합하고, 고체 시료를 측정하고, 200°C 이하의 온도에서 인장 유변 물성 측정도 실시할 수 있습니다.
주요 특징
주요 기술
- 최고 200°C의 온도를 지원하는 대류식 가열 시스템으로 유변학과 동시에 X선 산란(SAXS/WAXS) 또는 중성자 산란 측정(SANS) 가능
- 최저 -50°C까지의 저온 측정용 증류 장치
- X선(SAXS/WAXS) 측정용: 시스템에 폴리카보네이트 부품 옵션 적용
- 중성자 산란(SANS) 측정용: 시스템에 석영 또는 티타늄 부품 옵션 적용
- 사용 가능한 측정 시스템: 병렬 플레이트, 콘 플레이트, 동심 실린더, Solid Fixture, SER 및 UXF
- 싱크로트론 빔 필요
- 기본 제공품에는 빔 라인 및 감지기가 포함되어 있지 않음
Anton Paar 공인 서비스
Anton Paar 서비스 및 지원 품질 :
- 전 세계 350명 이상의 제조업체 인증 기술 전문가
- 고객의 언어로 공인 지원 제공
- 수명 주기 전반에 걸쳐 투자 보호
- 3년 보증
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