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Acessório para MCR:
Rheo-SANS/SAXS

  • Acessório para "Análise de Estrutura e Óptica em Reologia"
  • Para análise de nanoestrutura: espalhamento de baixo ângulo
  • Faixa de Temperatura de -50 °C a 300 °C
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O aumento no interesse em nanotecnologia levou ao aumento no uso de feixes de síncroton nos últimos anos. Além da análise da nanoestrutura estática, uma área de interesse complementar para pesquisa de material é a influência do cisalhamento. Para dar apoio a este campo de pesquisa, a Anton Paar desenvolveu uma configuração especializada de medição que permite o uso da tecnologia de reômetros MCR em combinação com instrumentos para Espalhamento de Raio-X de Baixo Ângulo (SAXS) e Espalhamento de Nêutron de Baixo Ângulo (SANS) e, desta forma, permite uma análise mais detalhada de estrutura em condições controladas de cisalhamento. Com o acessório Rheo-SANS/SAXS da Anton Paar, todos os tipos de testes reológicos são possíveis com espalhamento de baixo ângulo simultâneo e em tempo real. Ele consiste em um dispositivo temperatura de convecção radiolucente e um sistema de medição especializada para todos os tipos de amostras de líquidos apulverizados, e até películas.

Principais recursos

Medições de SAXS e SANS combinadas a todos os tipos de testes reológicos na faixa de temperatura de -50 °C a 300°C

Medições de SAXS e SANS combinadas a todos os tipos de testes reológicos na faixa de temperatura de -50 °C a 300°C

O acessório Rheo SANS/SAXS cobina um reômetro MCR totalmente funcional com SAXS e SANS para medições em temperaturas de -50 °C até 300 °C. Você pode realizar todos os tipos de testes reológicos e espalhamento de baixo ângulo em tempo real. As várias posições de feixe em relação ao fluxo de cisalhamento fornecem informações de espalhamento em planos diferentes. As geometrias de medição disponíveis são os sistemas de cilindro concêntrico (diâm. máx. de frasco 50 mm) e placa paralela (até 50 mm de diâmetro) feitos de material diferente, além de DMA e instalações de extensão (SRF, SCF, UXF, SER). Para condições extraordinárias de instalação, p.ex.: espaço limitado na linha de feixe, tipos especiais de reômetro estão disponíveis. Além disso, as configurações de medição individual projetadas e adaptadas para suas necessidades específicas podem ser implementadas mediante solicitação por nossos especialistas em Graz (Áustria).

O SAXS encontra a reologia para análise de nanoestrutura induzida por cisalhamento

O SAXS encontra a reologia para análise de nanoestrutura induzida por cisalhamento

O Espalhamento de Raio-X de Baixo Ângulo (SAXS) e o Espalhamento de Raio-X de Alto Ângulo (WAXS) são métodos potentes para a caracterização da nanoescala de diferenças de densidade em todos os tipos de material (p.ex.: sólidos, líquidos, plásticos, macromoléculas...). Obtenha informações sobre o formato e o tamanho das macromoléculas, distâncias características de materials parcialmente pedidos, tamanhos de poro, e outros dados. A reologia combinada com as técnicas SAXS permite pesquisas de mudanças na nanoestrutura induzida por cisalhamento em amostras complexas (a partir do fluxo) e cristalização induzida por temperatura para banda de cisalhamento e muito mais. Todas as peças irradiadas são feitas de policarbonato como padrão; outros materiais estão disponíveis mediante solicitação (p.ex.: poli-imida). As peças irradiadas podem ser trocadas em menos de um minuto.

SANS e GISANS - caracterização em nanoescala

SANS e GISANS - caracterização em nanoescala

O Espalhamento de Nêutrons de Baixo ângulo (SANS) é um método potente para caracterização em nanoescala de todos os tipos de materiais. Os nêutrons são espalhados por núcleos ou por momento magnético de elétron não pareado que gira nas amostras magnéticas. Diferente dos fótons de raios-X com um comprimento de onda semelhante, que interage com a núvem de elétrons, os neutrons interagem com o próprio nucleo. Uma vez que o neutron e uma partícula eletronicamente neutra, ela penetra profundamente e, portanto, sonda o interior do material. Uma configuração especial de medição para espalhamento de nêutron de baixo ângulo com atrito incidente (GISANS) ou reflectometria de nêutron para caracterização de película fina também pode ser integrada.

Peças irradiadas são feitas de titânio como padrão; outros materiais estão disponíveis mediante solicitação (p.ex.: vidro de quartzo). As peças irradiadas podem ser trocadas em menos de um minuto.

Tecnologia de medição única para aplicações complexas

Tecnologia de medição única para aplicações complexas

A configuração inédita do Rheo-SAXS/SANS da Anton Paar é utilizado em instalações por todo o mundo para pesquisa e desenvolvimento sofisticados e de ponta. O SAXS e o SANS requer fontes especiais de Raios X (síncrotons) ou nêutrons (reator ou fonte de espalação), que normalmente só estão disponíveis em instalações grandes de pesquisa.

Aplicações comuns:

  • Caracterização de soluções poliméricas, materiais fundidos, películas poliméricas
  • Ciência da Vida
  • Determinação de estruturas de nanoescala (induzida por cisalhamento) em coloides de todos os tipos
  • Cristalização induzida por fluxo e temperatura e cisalhamento por faixas
  • Informações a respeito do tamanho e formato das macromoléculas
  • Distâncias características de materiais parcialmente solicitados e tamanho de poros
  • Estudos de proteínas em condições fisiológicas
  • Estudos de cinética de reações resolvidos por tempo

Serviço Certificado Anton Paar

A qualidade da Anton Paar em serviço e suporte:
  • Mais de 350 especialistas técnicos certificados pelo fabricante em todo o mundo
  • Suporte qualificado em seu idioma local
  • Proteção para o seu investimento em todo o seu ciclo de vida
  • 3 anos de garantia
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