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Sistema de Espalhamento de raios-X ou Nêutrons a Baixo Ângulo para MCR:
Rheo-SANS/SAXS

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As linhas de feixes do síncrotron vêm crescendo em número durante os últimos anos devido ao crescente interesse na nanotecnologia. Além da análise da nanoestrutura estática, uma área de interesse complementar para pesquisa de material é a influência do cisalhamento. O sistema Rheo-SANS/SAXS com controle de temperatura por convecção permite a combinação do SANS e medições reológicas no cilindro concêntrico e sistema de placas paralelas, medições de amostras sólidas bem como reometria extensional em temperaturas até 200°C.

Principais recursos

Destaques técnicos

  • Sistema de aquecimento por convecção para temperaturas até 200 °C permitindo a dispersão de raios X (SAXS/WAXS) ou medições da dispersão de nêutrons (SANS) simultâneas à reologia
  • Unidade de evaporação para medições de baixa temperatura abaixo de -50 °C
  • Para medições de raios X (SAXS/WAXS): sistema opcionalmente equipado com partes de policarbonato
  • Para medições de dispersão de nêutron (SANS): sistema equipado opcionalmente com quartzo ou partes de titânio
  • Sistemas de medição disponíveis: Placas paralelas, cone-placa, cilindro concêntrico, dispositivos maciços, SER e UXF
  • Feixe de síncroton exigido
  • Linha de feixes e detector não incluídos na entrega

Serviço Certificado Anton Paar

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