Ennek a mezőnek a kitöltése kötelező.
Invalid
Cikkszám
Hiba a jóváhagyás során!

Atomerő-mikroszkópok:
Tosca

Típus:
  • Top-level AFM for entry-level budgets
  • A legnagyobb mintatartó ebben az ártartományban (50 mm teljes mértékben címezhető)
  • A leggyorsabb mérésre való felkészülés a piacon (mindössze 3 perc)
  • 15 µm beolvasási méret a Z, 90 µm x 90 µm az X ás Y irányokban
  • A tartókar cseréje kevesebb, mint 10 másodperc
  • Az összes üzemmód ugyanazon a mintaponton a fej cseréje nélkül
  • A legnagyobb mintatartó ebben az ártartományban (200 mm waferek esetén)
  • A legmagasabb szintű hardveres és szoftveres automaziálás az AFM terén
  • A leggyorsabb mérésre való felkészülés a piacon (mindössze 3 perc)
  • A tartókar cseréje kevesebb, mint 10 másodperc alatt
  • Az összes üzemmód ugyanazon a mintaponton a fej cseréje nélkül
Csak online ár | ÁFA nélkülÁFA-val 0ÁFA
Ár
kérésre
Vásárlási információk
Vásároljon Anton Paar műszereket online
Cikkszám:
Ellenőrizze az online elérhetőséget Árajánlat kérése Vásárolja meg a terméket online
Szállítási idő: %1$s és %2$s munkanap között %1$s és %2$s hét között %1$s – %2$s hónap között

Top-level AFM for entry-level budgets: a leggyorsabb mérésbeállítás és a legnagyobb mintatartó, a Tosca sorozat kiválóan megoldja az AFM nanofelület-analitikai feladatait.

A Tosca a nanotechnológiai anyagtudományban tevékenykedő kutatók, felfedezők, gondolkodók és gyártók elsődleges választása.

A fej cseréjével végzett módváltás a múlté: A Toscával egyetlen fejjel több üzemmódban is mérhet, ugyanazon a helyen.

Minden tudnivaló a Tosca ügyfélszolgálati csomagjáról

Előnyök

A szabadalmaztatott, intelligens funkciók az AFM mérési eljárás minden egyes lépését lefedik egyetlen, tökéletesre fejlesztett AFM-munkafolyamattal, amely 10-szer gyorsabban szolgáltat eredményeket a hagyományos AFM-rendszereknél.

Ahelyett, hogy napokig tanulná az AFM kezelését, a mérést már 1 óra elteltével megkezdheti. Gyors és biztonságos tartókaros beadagolás másodpercek alatt, automatikus lézerbeállítás, a legintuitívabb mintanavigáció és a legbiztonságosabb kapcsolási eljárás a piacon, amely segít megvalósítani a célját: több ideje marad arra, hogy a kutatási eredményeken dolgozzon.

Az AFM használatának megismerése
Az AFM használatának megismerése
  • A képzés mindössze 1 órát vesz igénybe
  • 12-szer gyorsabb a hagyományos AFM-eknél

Kihívás

Szeretném rögtön elkezdeni. Mennyi ideig tart megtanulni a Tosca használatát?

Megoldás

A Tosca használata annyira egyszerű, hogy az általános üzemmódokat tartalmazó képzés csak egy órát vesz igénybe.

Előnyök és idő

A Tosca segítségével a képzés után egy órával elindíthatja az első mérést, míg ez a hagyományos AFM-ek esetén 1,5 nap.

Minták előkészítése a mérésre
Minták előkészítése a mérésre
  • Nincs szükség minta-előkészítésre
  • Közvetlenül mérhet nagyméretű mintákat
  • Mintatartó: 100 mm-es átmérő, 25 mm-es magasság (200 mm-es átmérő waferek esetén)

Kihívás

A minták vágása és szeletelése sérüléshez és szennyeződéshez vezethet. Hogyan kerülhetjük el ezt?

Megoldás

Elfelejtheti a mintaelőkészítést, valamint a szennyeződés és hibás eredmények jelentette kockázatot. A Tosca segítségével közvetlenül végezhet méréseket nagyméretű mintákon – 25 mm-es magasságig és 100 mm-es átmérőig.

Előnyök és idő

A Toscával pontos eredményeket kaphat, és kihagyhatja az előkészítésnek ezt az időigényes lépését. Megtakarított idő: akár 15 perc a mintától függően.

Tartókaros beadagolás
Tartókaros beadagolás
  • A tartókart 10 másodperc alatt pozícióba helyezheti
  • 100%-ig pontos beállítás
  • A tartókar nem törik el

Kihívás

A tartókar cseréje és pozícionálása nehéz és időigényes feladat. Van jobb megoldás?

Megoldás

A szabadalmaztatott Probamaster segítségével 10 másodperc alatt kézi beavatkozás nélkül cserélheti a tartókart.

SZABADALOM: AT520313 (B1)

Előnyök és megtakarított idő

A Probamaster gyorsan pozícionálja a tartókart, megakadályozza a károsodást és helyes beállítást tesz lehetővé.

A minta betöltése
A minta betöltése
  • Több mintát is betölthet, és mérést végezhet mindegyiken, egyetlen munkamenetben
  • Akár 20 percet is megtakaríthat az ismétlődő mintacserével
  • A mintát mágneszárral rögzítheti

Kihívás

Egynél több mintát is be lehet tölteni a folyamat felgyorsítása érdekében?

Megoldás

Több mintát is betölthet, és mérést végezhet egyetlen munkamenetben. A Tosca szabadalmaztatott mágneszára biztosítja a minták stabil pozícionálását.

SZABADALOM: AT515951 (B1)

Előnyök és megtakarított idő

A mintákat választott helyen nagy méretű tartóra rögzítheti, és stabil pozícionálást érhet el. Több mintán végezhet mérést egyetlen lépésben. Megtakarított idő: a felhasználótól függően akár 20 perc mintánként.

Lézerbeállítás
Lézerbeállítás
  • Teljesen automatikus lézerbeállítás 5 másodperc alatt
  • Mindössze két kattintás a szoftverben

Kihívás

A lézer kézi beállítása hosszadalmas folyamat, amihez szakértelem is szükséges. Van erre alternatíva?

Megoldás

A Tosca teljesen automatikus lézerbeállítást tesz lehetővé, 5 másodperc alatt.

SZABADALOM: AT520419 (B1)

Előnyök és megtakarított idő

A Tosca automatikus lézerbeállítási funkciójával a beállítás szakértőjévé válhat. Mindössze két kattintás szükséges hozzá a szoftverben. Megtakarított idő: akár 5 perc beállításonként.

Megközelítés
Megközelítés
  • A szabadalmaztatott oldalnézeti kamera a tartókar pontos helyzetét mutatja a felületen
  • Biztonságos és gyors megközelítés
  • Megszűnik a fej ütközésének kockázata

Kihívás

A módszer helyes alkalmazása nehéz. Hogyan kerülhetem el a fej ütközését, és kezelhetem az összetett geometriákat, áttetsző és üvegbe ültetett mintákat?

Megoldás

A Tosca szabadalmaztatott oldalnézeti kamerája a legbiztonságosabb és legegyszerűbb kapcsolási folyamatot kínálja a piacon.

SZABADALOM: EP3324194B1  

Előnyök és megtakarított idő

A tartókarnak a mintafelületre vetített vízszintes nézetének köszönhetően vizuálisan felügyelheti a módszert. Megtakarított idő: a mintától és felhasználótól függően 5–10 perc, lényegesen kisebb hibakockázattal.

Navigáció
Navigáció
  • Három kamera mutatja a mintát mind a három szinten
  • Egyszerűen kattintson, és lépjen a cm-, µm- vagy nm-skálás nézetre
  • Biztonságos 5–10 perc mérésenként

Kihívás

A mintán az érdeklődés tárgyát képező terület megtalálásához idő és türelem szükséges. Hogyan optimalizálható ez a folyamat?

Megoldás

A Tosca az intuitív „kattintáson és lépésen alapuló” navigációt alkalmaz: egyszerűen kattintson az érdeklődés tárgyát képező területre az azonnali automatikus navigációhoz az időigényes manuális pozícionálás helyett.

Előnyök és megtakarított idő

A navigáció mindössze egyetlen egérkattintást foglal magában, melyet nagyméretű skálákon (cm, µm vagy akár nm) végezhet három beépített kamerával. Megtakarított idő: 5–10 perc mérésenként kényelmes feladatvégrehajtással.

Adatelemzés
Adatelemzés
  • Nyomon követheti a nyersadatokat, valamint azok hatását az elemzés lépéseire
  • Sablonok és kötegelemzés
  • A jelentések 5 másodperc alatt elkészülnek

Kihívás

Szükségem van egy olyan elemző szoftverre, amely számos elemzési lehetőséget és sablont tesz elérhetővé. Szükségem van továbbá az elemzés lépéseinek nyomon követésére is.

Megoldás

A Tosca Analysis sablonokkal másodpercek alatt teljes körű jelentéseket kaphat. Minden egyes elemzési művelet rögzül a rendszerben, így bármikor nyomon követheti a nyersadatok kezelését.

Előnyök és megtakarított idő

Csak be kell tölteni a nyersadatokat, illetve kötegmérésből származó többszörös adatokat , és a jelentés 5 másodpercen belül elkészül. Megtakarított idő: akár 20 perc elemzési jelentésenként.

Polimerminta
  • Rezonancia amplitúdós kontakt képalkotás
  • 10 µm x 10 µm-es képméret
  • 500 px x 500 px-es felbontás

Részletek

PMMA/SBS polimerkeverék. Topográfiai és mechanikai tulajdonságok szuperponálása. 10 µm x 10 µm-es képméret, 500 px x 500 px-es felbontás.

Mód

Rezonancia amplitúdós kontakt képalkotás

A kutatás témaköre

A két polimer megoszlása határozza meg a vékony rétegek mechanikai tulajdonságait. A CRAI-módot topográfia és fáziselemzés céljára használhatjuk.

Nanorostminták
  • Érintéses üzemmód
  • 25 µm x 25 µm-es képméret
  • 1000 px x 1000 px-es felbontás

Részletek

A polikaprolakton (PCL) rosthálózata. Nagy felbontású topográfiás kép a kritikus méretek értékeléséhez. 25 µm x 25 µm-es képméret, 1000 px x 1000 px-es felbontás.

Mód

Érintéses üzemmód

A kutatás témaköre

A PCL-nanorostok nagy bizakodásra adnak okot különböző orvosbiológiai felhasználási területeken. A topográfiás elemzés arra mutat rá, hogy a nanorostok átmérője 80 nm és 400 nm között van.

Mikroelektronikai minta
  • Konduktív atomerő-mikroszkópia
  • 564 nm x 564 nm-es képméret
  • 400 px x 400 px-es felbontás

Részletek

A vezető oxidrészecskékből álló mikroelektronikus összetevők egy izolációs üvegmátrixban. Topográfia és aktuális térkép szuperponálása. 564 nm x 564 nm -es képméret, 400 px x 400 px-es felbontás.

Mód

Konduktív atomerő-mikroszkópia

A kutatás témaköre

A C-AFM  a dielektromos bevonatok elektronikusan gyenge pontjait képes azonosítani, illetve képet alkotni a mikroelektronikus összetevő vagy anyag konduktív, elektronikus csomópontokat mutató útvonaláról.

Polished wafer sample
  • Tapping mode
  • Image size 1 µm x 1 µm
  • Resolution 500 px x 500 px

Details

(100) oriented surface of silicon wafer. High resolution topographic image for evaluation of surface roughness. Image size 1 µm x1 µm, resolution 500 px x 500 px, RMS surface roughness 137 pm.

Mode

Tapping mode

Research topic

The surface roughness of wafers is an important quality parameter for the subsequent processes of micro-structuring. AFM systems must be able to image the surface of highly polished materials with very low surface roughness in the range of 150 pm – with high quality and reliability. 

Quantum dots sample
  • Tapping mode
  • Image size 1200 nm x 750 nm
  • Resolution 800 px x 800 px

Details

Self-assembled indium arsenide (InAs) quantum dots (QD) in gallium-arsenide (GaAs) grown on a (100) oriented surface of a Gallium arsenide wafer. High resolution topographic image for evaluation of the dimension and lateral distribution of the QDs. Image size 1200 nm x 750 nm, resolution 800 px x 800 px.

Mode

Tapping mode

Research topic

Quantum dots (QD) are a field of intensive research activity due to their potential future application in electronics and digitalization. The dimensions of individual QD and lateral distribution constitute important information for the production process. The terraces visible in the image are the atomic steps of the GaAs substrate material, with an individual step height of approximately 280 pm.

Műszaki adatok

Tosca 400 Tosca 200
Szkenner
X-Y irányú beolvasási tartomány 100 µm x 100 µm 50 µm x 50 µm*
Z irányú beolvasási tartomány 15 µm 10 µm**
Z-érzékelő zaja 50 pm***
Max. szkennelési sebesség 10 sor/s 5 sor/s
Sample
Max. mintaátmérő 100 mm (200 mm****) 50 mm
Max. mintamagasság 25 mm (2 mm****)
Max. Minta tömeg < 600 g
Pozíció ismételhetősége
(egyirányú)
<1 µm
Videomikroszkóp
Kamera Színes, 5 megapixel, CMOS-érzékelő
Képmező 1,73 mm x 1,73 mm
Térbeli felbontás 5 µm
Fókusz Motoros fókusz
Áttekintő kamera
Kamera Színes, 5 megapixel, CMOS-érzékelő
Képmező 40 mm x 40 mm
Térbeli felbontás 50 µm
Oldalnézeti kamera
Oldalnézeti kamera Fekete-fehér, képmező mérete 30 mm
Üzemmódok
Standard üzemmódok Kontakt üzemmód, érintéses üzemmód (a fázisképet is beleértve), oldalirányú erő mikroszkópia, erő-távolság görbe
Opcionális üzemmódok Kontaktrezonancia-amplitúdó képalkotás, mágneses erő mikroszkópia, Kelvin próbaerő mikroszkópia, elektrosztatikus erő mikroszkópia, vezető atomerő mikroszkópia, vezető atomerő mikroszkópia szabályozott áram mellett
Méretek és tömeg
Méret (Mé x Szé x Ma), AFM egység 490 mm x 410 mm x 505 mm
Méret (Mé x Szé x Ma), vezérlő 340 mm x 305 mm x 280 mm
Tömeg, AFM egység 51,1 kg
Tömeg, vezérlő 7,8 kg

* opcionális fejlesztés 90 µm x 90 µm méretre

** opcionális fejlesztés 12 µm vagy 15 µm méretre

*** Gyártott pozicionálóelemek átlagértéke; maximális érték: 80 pm

**** Mintatartó kar használata esetén (opcionális)

A Tosca az Anton Paar bejegyzett védjegye (013412143).

Anton Paar minősített szerviz

Anton Paar minőség a szerviz és a támogatás területén:
  • világszerte több mint 350, gyártói tanúsítvánnyal rendelkező műszaki szakértő
  • Szakértői támogatás az Ön nyelvén
  • Befektetésvédelem a teljes életciklus során
  • 3 év garancia
Tudjon meg többet

Dokumentumok

Tartozékok

Tartozékok

Tartozékok

Tartozékok

Nem minden termék vásárolható meg online bizonyos országokban.

Az alábbi online elérhetőségek alapján tájékozódhat, hogy tud-e online vásárolni a tartózkodási helyéről.

Csak online ár | ÁFA nélkülÁFA-val 0ÁFA

A Tosca 400 AFM berendezés tartozéka:
mintatartó kar

Szállítási idő: %1$s és %2$s munkanap között %1$s és %2$s hét között %1$s – %2$s hónap között
Termékadatok:
  • 4, 6 és 8 hüvelykes félvezető szeletekhez
  • Teljesen megjelölhető mintatartó kar
  • Vákuumfogós mintakezeléshez kialakítva
  • Több, automatizált mérés

További információk

A Tosca AFM berendezés tartozéka:
rezgésszigetelés

Szállítási idő: %1$s és %2$s munkanap között %1$s és %2$s hét között %1$s – %2$s hónap között
Termékadatok:
  • Maximális teljesítmény: –40 dB (10 Hz frekvencián) – a rezgések 99,0%-ának szigetelése
  • A szigetelő hatás 0,6 Hz frekvenciánál kezdődik
  • Automatikus terhelésbeállítás
  • Nem igényel sűrített levegőt

További információk

A Tosca AFM termék tartozéka:
hangszigetelő burkolat

Szállítási idő: %1$s és %2$s munkanap között %1$s és %2$s hét között %1$s – %2$s hónap között
Termékadatok:
  • Védi a Tosca AFM berendezést a levegőben terjedő zajoktól
  • Akusztikus csillapítás 40 dB értékre

További információk

AFM szoftver:
Tosca Control és Tosca Analysis

További információk
Szállítási idő: %1$s és %2$s munkanap között %1$s és %2$s hét között %1$s – %2$s hónap között