Nano Scratch Tester:
NST³
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- Messung der Schichthaftung und Kratzfestigkeit
- Volles Panoramabild synchronisiert mit allen anderen Signalen wie Eindringtiefe und Reibungskraft
- Ideal für dünne Schichten unter 1.000 nm Dicke
- Kraftmessung bis zu 1.000 mN
Der Nano-Ritzprüfer (NST³) eignet sich besonders für die Charakterisierung der Kratzfestigkeit und der Adhäsion von dünnen Filmen und Schichten mit einer typischen Dicke unter 1000 nm. Analysieren Sie organische und anorganische sowie weiche und harte Beschichtungen. Das einzigartige Design des Nano-Ritzprüfkopfs umfasst zwei Sensoren für Kraft- und Tiefenmessungen in Verbindung mit einem hochmodernen piezoelektrischen Aktor – erhalten Sie Ergebnisse in Millisekunden sowie hervorragende Genauigkeit und Flexibilität.
Kombinieren Sie den NST3-Kopf mit einem anderen Ritz- oder Eindringmesskopf, um den Nano-, Mikro- und Makrobereich vollständig abzudecken. Die Vielseitigkeit der Step-Plattform ermöglicht es Ihnen sogar, ein AFM zur Untersuchung der Oberflächentopographie hinzuzufügen.
Technische Highlights
Vollständig synchronisiertes Panorama für Analysen, jederzeit und überall
Diese einzigartige Funktion unseres Nano-Ritzprüfers synchronisiert automatisch das Panoramabild des gesamten, perfekt fokussierten Kratzers mit Ritzdaten von allen Sensoren. Führen Sie jederzeit eine kritische Lastanalyse auf der Grundlage der Panoramabegutachtung und Signalaufzeichnungen durch. Für die synchronisierte Panorama-Technologie ist Anton Paar alleiniger Patentinhaber (US-Patent 8261600 und Europäisches Patent EP 2065695).
Schnelle Reaktion bei niedrigen Kräften
Der Nano-Ritzprüfer enthält einen Doppel-Kantilever zum Aufbringen der Last in Kombination mit einem piezoelektrischen Aktuator für eine ultrakurze Ansprechzeit (innerhalb von Millisekunden) bei der angelegten Last. Dieses Konzept korrigiert auch Abweichungen durch Ereignisse, die während der Ritzprüfung auftreten (z. B. Risse und Fehler, Defekte oder unebene Proben).
Es kann genau die gewünschte Last angelegt werden.
Die elektronische Lastrückkopplung bietet noch genauere Nano-Ritzprüfungen (Normallastauflösung von 0,01 µN und Grundrauschen von 0,1 µNm). Der NST³ enthält einen echten Sensor für die Kraftmessung mit direkter Rückkopplung zum Normalkraft-Aktuator. Dieser sorgt für reproduzierbare Ritzprüfungen, auch bei der Untersuchung komplexer Geometrien wie nichtparalleler, rauer oder gewölbter Proben.
Untersuchungen zur elastischen Erholung: Messungen der tatsächlichen Eindringtiefe
Der NST³ Nano Scratch Tester ist mit einem echten Wegsensor zur Überwachung der senkrechten Bewegung des Prüfkörpers ausgestattet. Die einzigartige Pre-und-Post-Scan-Technik ermittelt die tatsächliche Tiefe: Somit können elastische, plastische und viskoelastische Eigenschaften von Materialien beurteilt werden. Diese Technik umfasst eine Aufzeichnung des Oberflächenprofils der Probe (Form, Welligkeit und Rauigkeit) vor dem Scannen vor der Ritzprüfung. Der NST³ korrigiert die Indentertiefe während der Ritzprüfung (Eindringtiefe) und nach dem Ritzen (verbleibende Tiefe) unter Heranziehen des Oberflächenprofils.
Multi-Post-Scanmodus zur Messung des viskosen Verhaltens nach einer Ritzprüfung
Nach der Ritzprüfung können Sie in der Software unbegrenzt Post-Scan-Messungen mit beliebigem zeitlichem Abstand definieren, um die verbleibende Tiefe zu messen. Mit dieser neuen Analyse gewinnen Sie zusätzliche Informationen über das Deformationsverhalten der Probe während der Erholzeit.
Zusätzliche Vielseitigkeit mit der Step-Plattform
Die Step-Plattform ist Ihre All-in-One-Lösung für Tests zur mechanischen Oberflächencharakterisierung. Ganz gleich, ob Sie ausschließlich Ritzprüfungen durchführen oder die Ergebnisse durch instrumentierte Eindringprüfungen und AFM-Messungen erweitern möchten, die Step-Plattform bietet immer die beste Lösung in Bezug auf Modularität, Stabilität und Geräuschisolierung.
Spezifikationen
| Maximallast [mN] | 1.000 |
| Kraftauflösung [µN] | 0,01 |
| Grundrauschen [eff] [μN]* | 0,1 |
| Kraftrate [N/min] | Bis zu 100 |
| Maximale Reibkraft [mN] | 1.000 |
| Reibkraftauflösung [μN] | 1 |
| Maximale Tiefe [μm] | 600 |
| Tiefenauflösung [nm] | 0,1 |
| Grundrauschen [rms] [nm] | 1,5 |
| Datenerfassungsrate [kHz] | 192 |
| Scratchgeschwindigkeit [mm/min] | 0,1 bis 600 |
Normen
ASTM
Anton Paar Certified Service
- mehr als 350 vom Hersteller zertifizierte technische Experten weltweit
- Qualifizierter Support in Ihrer Landessprache
- Schutz für Ihre Investition während des gesamten Produktlebenszyklus
- 3-Jahres-Garantie
Dokumente
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Zubehör für Step-Plattformen:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
- Vielseitige AFM-Lösung für verschiedene wissenschaftliche und industrielle Anwendungen
- Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten, die Informationen über Oberflächen im Nanobereich bieten
- Zerstörungsfreie Interaktion mit Proben
Zubehör für Ritzprüfer:
Reibungsmodul
- Bewertung des Reibungsverhaltens von Materialien
- Ergänzendes Werkzeug bei der Bewertung von Adhäsionsfehlern
- Kombiniert Ritz- und Tribologietests
