關鍵功能
利用出色的定位能力：自動雷射對準
進行 AFM 測量時，一個非常重要但也很複雜的步驟，就是雷射對準。這個步驟會非常耗時，尤其是缺乏經驗的使用者。因此，Tosca 400 提供完全自動化的雷射對準功能：將懸臂安裝到致動器機身上，並將致動器機身安裝到 AFM 測量頭後，使用者只需在控制軟體中按兩下，儀器便會自動執行雷射對準。
信賴您的測量：最小化非水平面運動
使用解耦的 XY 方向和 Z 方向掃描器架構，XY 方向掃描器放置在樣本下，而 Z 方向掃描器放置在儀器測量頭中。該儀器的設計使掃描器之間僅有非常低的串擾和非常少的非水平面運動，非水平面運動是傳統採用管掃描器 AFM 系統的已知缺點，其會導致典型的背景彎曲或「扭曲」。Tosca 系列的非水平面運動比市面上的管掃描器 AFM 低 20 倍。
獲得整體視角：最高準確度的大範圍掃描
X-Y 方向掃描範圍高達 100 µm，Z 方向範圍高達 15 µm，您可以靈活地對具有大面積表面起伏變化的樣本進行成像。Tosca Control 軟體的點按移動導覽可幫助您快速準確地選擇感興趣的區域。
前移：AFM 市場上最簡單的接觸過程
接觸過程使用懸臂接觸樣本表面。這是 AFM 最重要的操作過程之一。Tosca 系列透過側視圖攝影機克服這個問題，可以追蹤精確的懸臂位置並盡可能地接近表面移動。然後可以啟動自動接觸過程，懸臂在數秒內便可接觸樣本表面並準備進行掃描。
快速又安全的懸臂更換操作
Probemaster 是專為懸臂操作而開發的獨特工具，可節省時間並確保懸臂快速又安全地放置在正確位置。這樣確保您可以快速安全地將致動器機身與懸臂安裝在一起，以便進行下一次測量。
體驗卓越準確度，無須妥協
解耦的掃描器架構可確保最高準確度，可準確至次奈米級，且無扭曲偽影。閉迴路的 X-Y 方向掃描消除非線性和潛變，從而實現奈米級分析的最高精度。
技術參數
| Tosca 400 大尺寸樣本 | Tosca 200 中等尺寸樣本 | |
| 掃瞄器 | ||
| X-Y 方向掃瞄範圍 | 100 μm x 100 μm | 50 μm x 50 μm* |
| Z 方向掃瞄範圍 | 15 µm | 10 µm** |
| 最大掃瞄速度 | 每秒 10 行 | 每秒 5 行 |
| 樣本 | ||
| 最大樣本直徑 | 100 mm | 50 mm |
| 樣本最大高度 | 25 mm | |
| 樣本最大重量 | <600g | |
| 定位可重複性 (單向) | <1 µm | |
| 視訊顯微鏡 | ||
| 攝影機 | 彩色，500 萬像素，CMOS 感測器 | |
| 視野 | 1.73 mm x 1.73 mm | |
| 空間解析度 | 5 µm | |
| 對焦 | 自動對焦 | |
| 預覽攝影機 | ||
| 攝影機 | 彩色，500 萬像素，CMOS 感測器 | |
| 視野 | 40 mm x 40 mm | |
| 空間解析度 | 50 µm | |
| 側視圖攝影機 | ||
| 側視圖攝影機 | 黑白，視野範圍 30 mm | |
| 模式 | ||
| 標準模式 | 接觸模式、間歇接觸模式 (包括相位影像)、橫向力顯微鏡、力距離曲線 | |
| 選配模式 | 接觸式共振成像、磁力顯微鏡、開爾文 (Kelvin) 探針力顯微鏡、靜電力顯微鏡、導電性原子力顯微鏡、電流控制導電原子力顯微鏡 | |
| 尺寸及重量 | ||
| AFM 裝置尺寸 (長 x 寬 x 高) | 490 mm x 410 mm x 505 mm | |
| 控制器尺寸 (長 x 寬 x 高) | 340 mm x 305 mm x 280 mm | |
| AFM 裝置重量 | 51.1 kg | |
| 控制器重量 | 7.8 kg | |
* 選配升級至 90 μm x 90 μm
** 選配升級至 12 μm 或 15 μm
Tosca 是安東帕註冊的商標 (013412143)。
