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Microscopi a forza atomica:
Tosca

Modello:
  • Top-level AFM for entry-level budgets
  • Il più vasto spazio disponibile per il campione in questo segmento di prezzo (50 mm completamente accessibili)
  • Il tempo di misurazione più rapido presente sul mercato (solo 3 minuti)
  • Scansionea di 15 µm in direzione Z e 90 µm x 90 µm in X e Y
  • Cambio cantilever in meno di 10 secondi
  • Tutte le modalità di misura sullo stesso punto del campione senza sostituire la testa di misura
  • Il più vasto spazio disponibile per il campione in questo segmento di prezzo (fino a 200 mm per i wafer)
  • Massimo livello di automazione hardware e software per il tuo AFM
  • Il tempo di misurazione più rapido presente sul mercato (solo 3 minuti)
  • Cambio cantilever in meno di 10 secondi
  • Tutte le modalità di misura sullo stesso punto del campione senza sostituire la testa di misura
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AFM ad altissima qualità per i budget entry-level: la più rapida configurazione della misurazione e il più ampio spazio per i campioni sul mercato, la serie Tosca velocizza le analisi delle nano superfici con l'AFM.

Tosca è la prima scelta per i ricercatori, i pionieri, gli studiosi e i realizzatori nel campo dei materiali nanotecnologici.

Fino a ieri era necessario cambiare la testa di misura per cambiare la modalità: oggi i microscopi Tosca a forza atomica consentono di eseguire le misurazioni esattamente nello stesso punto usando tutte le modalità disponibili combinate in un solo strumento.

Tutte le informazioni sul Pacchetto di Customer Care per Tosca

Vantaggi

Funzioni intelligenti brevettate per ogni fase della procedura di misurazione capaci di realizzare un processounivoco ed estremamente semplice, in modo da ottenere risultati 10 volte più velocemente rispetto ai sistemi AFM tradizionali.

Invece di perdere giornate intere ad imparare come usare un microscopio a forza atomica è possibile iniziare a misurare entro 1 ora. Caricamento del cantilever in pochi secondi in modo sicuro e veloce, allineamento laser automatico, la più intuitiva navigazione del campione e la procedura di ingaggioo più rapida presente sul mercato ti faranno risparmiare molto più tempo, per poterlo dedicare ai risultati della tua ricerca.

Apprendere l'uso dell'AFM
Apprendere l'uso dell'AFM
  • Tempo necessario per la formazione: 1 ora
  • 12 volte più veloce rispetto agli AFM tradizionali

Sfida

Voglio essere subito pronto a iniziare. Quanto tempo mi serve per imparare a usare Tosca?

Soluzione

L'AFM è così facile da utilizzare che basta una sola ora di formazione per poterlo impiegare in modalità standard.

Tempi e vantaggi

Con Tosca è possibile iniziare la prima misurazione dopo solo un'ora di addestramento invece della giornata e mezza richiesta dai microscopi a forza atomica convenzionali.

Preparazione dei campioni per la misura
Preparazione dei campioni per la misura
  • Nessuna preparazione del campione
  • Misurazione diretta dei campioni più grandi
  • Supporto portacampione: 100 mm di diametro (fino a 200 mm di diametro per i wafer), 25 mm di altezza 

Sfida

Il taglio e il sezionamento dei campioni può causare danni e contaminazione. Come evitare tutto ciò?

Soluzione

La preparazione del campione, con i relativi rischi di contaminazione o di risultati errati, fa parte del passato. Con Tosca è possibile misurare direttamente campioni grandi fino a 25 mm in altezza e fino a 100 mm di diametro.

Tempi e vantaggi

Grazie l'AFM Tosca è possibile ottenere risultati accurati saltando le noiose fasi preparatorie. Tempo risparmiato: fino a 15 minuti a seconda del campione.

Caricamento del cantilever
Caricamento del cantilever
  • Posizionamento del cantilever in 10 secondi
  • Allineamento preciso al 100%
  • Nessuna rottura del cantilever

Sfida

Il cambio e il posizionamento del cantilever è complicato e dispendioso in termini di tempo. Esiste una soluzione migliore?

Soluzione

Per sostituire il cantilever senza operazioni manuali e in 10 secondi basta usare il Probemaster brevettato.

BREVETTO: AT520313 (B1)

Risparmio di tempo e vantaggi

Il Probemaster posiziona rapidamente il cantilever senza danni e allineandolo correttamente.

Caricamento del campione
Caricamento del campione
  • Carica più campioni e misurali tutti in una volta sola
  • Risparmi oltre 20 minuti evitando di sostituire gli stessi campioni
  • Fissa il supporto per campioni con il blocco magnetico

Sfida

È possibile caricare più di un campione per semplificare la procedura?

Soluzione

Carica più campioni e misurali in una volta sola. Con il blocco magnetico brevettato di Tosca i campioni vengono posizionati stabilmente.

BREVETTO: AT515951 (B1)

Risparmio di tempo e vantaggi

Fissa il campione sull'ampio supporto nel punto da te scelto e posizionalo in maniera stabile. Misura campioni multipli con un solo passaggio. Tempo risparmiato: dipende dall'operatore, ma fino a 20 minuti per campione.

Allineamento del laser
Allineamento del laser
  • Laser allineato completamente in automatico in 5 secondi
  • Bastano due soli clic del mouse nel software

Sfida

L'allineamento manuale del laser è un processo noioso che inoltre richiede estrema esperienza. Esiste un'alternativa?

Soluzione

Tosca permette un allineamento del laser completamente automatizzato in 5 secondi.

BREVETTO: AT520419 (B1)

Risparmio di tempo e vantaggi

La funzione di allineamento automatico del laser consente una regolazione perfetta. Per te bastano due soli clic nel software. Tempo risparmiato: fino a 5 minuti per allineamento.

Approccio
Approccio
  • La telecamera a visione laterale brevettata mostra l'esatta posizione del cantilever sulla superficie
  • Approccio sicuro e rapido
  • Nessun rischio di urto e danno della testa di misura

Sfida

Ottenere l'approccio giusto può essere difficoltoso. Come posso evitare un urto e gestire geometrie complesse, campioni trasparenti e campioni incorporati nel vetro?

Soluzione

La telecamera a visione laterale brevettata di Tosca ti consente di eseguire la procedura di avvicinamento più sicura e agevole presente sul mercato.

BREVETTO: EP3324194B1  

Risparmio di tempo e vantaggi

Mediante la vista orizzontale del cantilever sulla superficie del campione è possibile controllare visivamente l'approccio. Tempo risparmiato: dipende dal campione e dall'operatore, da 5 a 10 minuti con una notevole riduzione dei rischi d'errore.

Navigazione
Navigazione
  • Tre telecamere mostrano il campione su tutti i livelli
  • Con un clic puoi scalare tra le viste in cm, µm, o nm
  • Risparmia da 5 a 10 minuti per misurazione

Sfida

Trovare l'area di interesse sul campione richiede tempo e pazienza. Come posso ottimizzare questa procedura?

Soluzione

Il microscopio a forza atomica Tosca permette una navigazione intuitiva del tipo "clicca e sposta": basta fare un clic nella regione d'interesse per un'immediata navigazione automatica che sostituisce le perdite di tempo dovute al posizionamento manuale.

Risparmio di tempo e vantaggi

Per la navigazione basta un solo clic del mouse e con le tre telecamere è possibile un'ampia scala da cm, µm fino a nm. Tempo risparmiato: da 5 a 10 minuti per misura con l'ulteriore vantaggio della comodità.

Analisi dei dati
Analisi dei dati
  • Conserva sempre i dati grezzi e osserva l'impatto di tutte le fasi d'analisi
  • Analisi di lotti e modelli
  • Report completi in 5 secondi

Sfida

Mi occorre un software analitico con ampie possibilità di analisi e modelli. Inoltre devo poter tracciare tutte le fasi dell'analisi.

Soluzione

Con i modelli Tosca AFM Analysis è possibile ottenere report completi in pochi secondi. Ogni singola operazione d'analisi viene registrata in modo da tener sempre traccia dei dati grezzi.

Risparmio di tempo e vantaggi

Sarà sufficiente caricare i dati grezzi, anche i dati multipli da misurazioni di lotti e il report sarà pronto antro 5 secondi. Tempo risparmiato: fino a 20 minuti per report analitico.

Campione di polimero
  • imaging a contatto dell'ampiezza di risonanza
  • Dimensione dell'immagine 10 µm x 10 µm
  • Risoluzione 500 px x 500 px

Dettagli

Miscela di polimeri PMMA/SBS. Sovrapposizione di topografia e proprietà meccaniche. Dimensione immagine 10 µm x 10 µm, risoluzione 500 px x 500 px.

Modalità

imaging a contatto dell'ampiezza di risonanza

Argomenti di ricerca

La distribuzione di entrambi i polimeri definisce le proprietà meccaniche dei film sottili. La modalità CRAI è impiegata per la topografia e la fase di analisi.

Campione di nanofibre
  • Modalità Tapping
  • Dimensione dell'immagine 25 µm x 25 µm
  • Risoluzione 1000 px x 1000 px

Dettagli

Rete in fibra di policaprolattone (PCL). Immagine ad alta risoluzione della topografia per la valutazione delle dimensioni critiche. Dimensione immagine 25 µm x 25 µm, risoluzione 1000 px x 1000 px.

Modalità

Modalità Tapping

Argomenti di ricerca

Le nanofibre in PCL sono un materiale promettente per numerose applicazioni biomedicali. L'analisi della topografia rivela il diametro delle nanofibre tra 80 nm e 400 nm.

Campioni microelettronici
  • Microscopia a forza atomica conduttiva
  • Dimensione dell'immagine 564 nm x 564 nm
  • Risoluzione 400 px x 400 px

Dettagli

Componenti microelettronici composti da particelle di ossido conduttive in una matrice di vetro isolante. Sovrapposizione di topografia e mappa di corrente. Dimensione immagine 564 nm x 564 nm, risoluzione 400 px x 400 px.

Modalità

Microscopia a forza atomica conduttiva

Argomenti di ricerca

La C-AFM può essere impiegata per identificare i punti elettricamente deboli nei rivestimenti dielettrici o per immaginare il percorso conduttivo in un componente microelettronico o nei materiali per gli elettrodi.

Campione di wafer lucidato
  • Modalità Tapping
  • Dimensione dell'immagine 1 µm x 1 µm
  • Risoluzione 500 px x 500 px

Dettagli

(100) superficie orientata del wafer di silicio. Immagine ad alta risoluzione della topografia per la valutazione della rugosità di superficie. Dimensione dell'immagine 1 µm x1 µm, risoluzione 500 px x 500 px, rugosità superficiale RMS 137 pm.

Modalità

Modalità Tapping

Argomenti di ricerca

La rugosità superficiale dei wafer è un importante parametro di qualità per i processi successivi di micro-strutturazione. I sistemi AFM devono essere in grado di fotografare la superficie di materiali altamente lucidati con una rugosità superficiale molto bassa, nell'ordine di 150 pm, ma con elevata qualità e affidabilità. 

Campione di punti quantici
  • Modalità Tapping
  • Dimensione dell'immagine 1200 nm x 750 nm
  • Risoluzione 800 px x 800 px

Dettagli

Punti quantici (QD) di arseniuro di indio (InAs) autoassemblati in arseniuro di gallio (GaAs) coltivati sulla superficie orientata (100) di un wafer di arseniuro di gallio. Immagine ad alta risoluzione della topografia per la valutazione delle dimensioni e della distribuzione laterali dei QD. Dimensione immagine 1200 nm x 750 nm, risoluzione 800 px x 800 px.

Modalità

Modalità Tapping

Argomenti di ricerca

I punti quantici (QD) rappresentano un campo di intensa attività di ricerca per via della loro potenziale applicazione futura in elettronica e nella digitalizzazione. Le dimensioni dei singoli QD e la loro distribuzione laterale costituiscono informazioni importanti per il processo di produzione. Le terrazze visibili nell'immagine sono i gradini atomici del materiale del substrato GaAs, con un'altezza individuale del gradino di circa 280 pm.

Specifiche tecniche

Tosca 400 Tosca 200
Scanner
Range di scansione X-Y 100 µm x 100 µm 50 µm x 50 µm*
Range di scansione Z 15 µm 10 µm**
Rumore del sensore Z 50 pm***
Max velocità di scansione 10 righe/s 5 linee/s
Campione
Diametro massimo del campione 100 mm (200 mm****) 50 mm
altezza massima del campione 25 mm (2 mm****)
peso massimo del campione <600 g
Ripetibilità posizione
(unidirezionale)
<1 µm
Video microscopio
Telecamera A colori, 5 megapixel, sensore CMOS
Campo visivo 1,73 mm x 1,73 mm
Risoluzione spaziale 5 µm
Messa fuoco Messa a fuoco motorizzata
Telecamera panoramica
Telecamera A colori, 5 megapixel, sensore CMOS
Campo visivo 40 mm x 40 mm
Risoluzione spaziale 50 µm
Telecamera a visione laterale
Telecamera a visione laterale In bianco e nero, range di visione 30 mm
Modalità
Modalità standard Modalità contact, modalità tapping (inclusa phase imaging), lateral force microscopy, curva forza-distanza
Modalità opzionali Contact resonance amplitude imaging magnetic force microscopy, Kelvin probe force microscopy, electrostatic force microscopy, conductive atomic force microscopy, current control conductive atomic force microscopy
Dimensioni e peso
Dimensioni (lungh. x largh. x alt.) dell’unità AFM 490 x 410 x 505 mm
Dimensioni (lungh. x largh. x alt.) del controller 340 x 305 x 280 mm
Peso dell'unità AFM 51,1 kg
Peso del controller 7,8 kg

* upgrade opzionale 90 µm x 90 µm

** upgrade opzionale su 12 µm o 15 µm

*** Valore medio dei corpi attuatori prodotti; valore massimo 80 pm

**** quando si usa la fase Wafer (opzionale)

Tosca è un marchio registrato (013412143) di Anton Paar.

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La qualità Anton Paar nel servizio e nell'assistenza:
  • oltre 350 esperti tecnici certificati direttamente dal produttore a livello globale
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Documenti

Pubblicazioni Tosca

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Liang Y, Liu F, Wang Q, Dai W. Structure and Properties of TiBx Coatings Deposited via Magnetron Sputtering with Ion Source Etching. Ceramics International. 2021; 47(11), 16009-16017. doi.org/10.1016/j.ceramint.2021.02.175

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Heedy S, Marshall ME, Pineda JJ, Pearlman E, and Yee AF. Synergistic Antimicrobial Activity of a Nanopillar Surface on a Chitosan Hydrogel. ACS Applied Bio Materials. 2020; 3(11), 8040-8048. doi.org/10.1021/acsabm.0c01110

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Accessori

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Accessori per Tosca 400 AFM:
supporto per wafer

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Ora di consegna: %1$s - %2$s giorni lavorativi %1$s – %2$s settimane %1$s – %2$s mesi
Dettaglio prodotti
  • Per wafer da 4, 6 e 8 pollici
  • Supporto wafer con controllo completo
  • Progettato per la manipolazione di wafer con pinzette a vuoto
  • Misure multiple e automatiche

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Accessorio per Tosca AFM:
cabina di isolamento acustico

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Ora di consegna: %1$s - %2$s giorni lavorativi %1$s – %2$s settimane %1$s – %2$s mesi
Dettaglio prodotti
  • Proteggete Tosca AFM dal rumore propagato attraverso l'aria
  • Attenuazione acustica fino a 40 dB

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Accessorio per Tosca AFM:
isolamento dalle vibrazioni

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Ora di consegna: %1$s - %2$s giorni lavorativi %1$s – %2$s settimane %1$s – %2$s mesi
Dettaglio prodotti
  • Prestazioni fino a -40 dB, a 10 Hz - isolamento dal 99% di vibrazioni
  • Effetto isolante a partire da 0,6 Hz
  • Regolazione automatica del carico
  • Nessuna aria compressa necessaria

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Software AFM:
Tosca Control e Tosca Analysis

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Per saperne di più
Ora di consegna: %1$s - %2$s giorni lavorativi %1$s – %2$s settimane %1$s – %2$s mesi

Strumento per il cambio di cantilever per Tosca AFM:
Probemaster

Compatible con:
Tosca 200 | 400
Ora di consegna: %1$s - %2$s giorni lavorativi %1$s – %2$s settimane %1$s – %2$s mesi
Dettaglio prodotti
  • Cambio facile e rapido del cantilever, in meno di 10 secondi
  • Allineamento automatico e preciso al 100%
  • Nessuna rottura del cantilever a causa di errori di manipolazione

Per saperne di più