Probador de nanoindentación NHT³
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- Medición de la dureza, del módulo elástico y otras propiedades mecánicas de la superficie de la escala de nanómetro a micrómetro.
- Inicio de la medición inmediato, luego de la instalación de la muestra
- Intercambio de indentador fácil y rápido
- Medición de la fuerza hasta 500 mN
- También disponible para mediciones de resistencia eléctrica de contacto ( versión ECR)
El comprobador de nanoindentación NHT³ está diseñado para medir la dureza, el módulo de elasticidad, el deslizamiento y otras propiedades de la superficie a escala de nanómetros a micrómetros. Su rango de fuerza de 0.1 mN a 500 mN para máxima versatilidad. Con la exclusiva técnica de referencia de superficie se puede llevar a cabo inmediatamente una medición de indentación instrumentada sin esperar la estabilización térmica. El modo de indentación Quick Matrix permite un alto rendimiento (hasta 600 mediciones por hora).
Añada otro método de prueba mecánico de superficies (por ejemplo, prueba de rasgado) a la NHT3: La plataforma admite varios cabezales de preuba para cubrir todos los rangos de fuerza y le proporciona una imagen más amplia de su muestra.
Características principales
Mediciones sencillas de nanoindentación
Con el software intuitivo de Anton Paar, puede definir y analizar fácilmente cada tipo de medición de indentación instrumentada, desde métodos estándar hasta métodos altamente avanzados. El microscopio integrado ofrece un rango de ampliación muy grande para que pueda observar la superficie de la muestra y definir directamente la posición de medición. Además, el indentador está completamente protegido de la colisión por el anillo de referencia y el intercambio de una punta de medición se puede realizar en menos de 2 minutos.
Alta precisión y poco tiempo para realizar una medición
El diseño exclusivo del instrumento integra un anillo de referencia de superficie superior que sigue la superficie de la muestra a lo largo de la medición de la indentación. Esto significa que la profundidad de la indentación siempre se mide directamente con respecto a la posición actual de la superficie. El equipo de nanoindentación de Anton Paar es el único instrumento con esta característica exclusiva, lo que significa que NHT³ ofrece resultados precisos y no correcciones de software propensas a errores. Otra ventaja de esta técnica es que usted puede comenzar inmediatamente su medición después de la instalación de la muestra sin esperar horas para la estabilización térmica.
Alto rendimiento con matrices rápidas.
El modo de medición rápida le permite realizar hasta 600 mediciones por hora con curvas reales de indentación. Gracias a nuestro diseño de referencia, no se necesita estabilización térmica, lo que le permite instalar y medir inmediatamente un alto número de muestras por día. Con sus perfiles de usuario, protocolos de medición, mediciones de muestras múltiples e informes personalizables, NHT³ tiene el rendimiento más alto del mercado.
Análisis mecánico dinámico (DMA) adicional, disponible con el modo sinusoidal
El modo sinusoidal le permite realizar un análisis DMA para estudiar la evolución de las propiedades mecánicas a profundidad (HIT, EIT vs. profundidad) y caracterizar las propiedades viscoelásticas de la muestra (E', E'': módulos de almacenamiento y pérdida, tan δ). El modo sinusoidal ofrece características adicionales, como la calibración rápida del indentador y el análisis de tensión-deformación.
Plataforma escalonada Step: Máxima versatilidad en el ensayo de nanoindentación
¿Necesita un único cabezal de medición para sus pruebas de indentación de control de calidad o una configuración de varios cabezales para realizar ensayos completos de caracterización mecánica de superficies? Las plataformas Step ofrecen soluciones para aplicaciones individuales utilizadas en laboratorios dedicados, así como para instrumentos compartidos por varios departamentos.
Especificaciones
| Carga máxima [mN] | 500 |
| Resolución de carga [nN] | 20 |
| Piso de ruido de carga [rms] [μN] | ≤0.5 |
| Velocidad de carga [mN/min] | Hasta 10,000 |
| Rango de profundidad [μm] | 200 |
| Resolución de profundidad [nm] | 0.01 |
| Profundidad de piso de ruido [rms] [nm] | ≤0.15 |
| Tasa de adquisición de datos [kHz] | 192 |
| Opciones | |
| Pruebas en líquidos | ✔ |
Estándares
ASTM
Servicio Certificado Anton Paar
- más de 350 expertos técnicos certificados por el fabricante en todo el mundo
- Soporte calificado en su idioma local
- Protección para su inversión durante todo su ciclo de vida
- 3 años de garantía
Documentos
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MUESTRA DE SILICIO FUNDIDO CERTIFICADO CON PERNO MUESTRA CERTIFICADA PARA MÓDULO ELÁSTICO
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Accesorio para plataformas escalonadas:
Microscopio de fuerza atómica (AFM)
- Solución versátil de AFM para diversas aplicaciones científicas e industriales
- Capacidades de imagen y análisis que ofrecen información de la superficie a nanoescala
- Interacción no destructiva con las muestras
