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微米压痕仪 (MHT³)

更大的仪器化压入测试 (IIT) 的载荷范围

根据仪器化压入测试 (IIT) 的要求,微米压痕仪非常适合于对硬度和弹性模量等机械性能的测量。它适用于块状样品和薄膜,从软材料到硬材料(金属、陶瓷、聚合物),可以进行大位移测量(最大 1 mm)。可以根据需求添加划痕测试模式。

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主要特点

仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量

  • 位移-仪器化压痕:持续测量与施加的载荷和相关的位移,获得材料硬度和弹性模量

一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕

  • 从小位移(几纳米)到大位移(最大 1 mm)的压痕
  • 大载荷范围(从10 mN 到 30 N)以满足样品特性的要求
  • 大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用

高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量

  • 两个独立的传感器:一个用于载荷,一个用于位移,来进行准确的计量测量
  • 高框架刚度:2 x 108 N/m,更高的位移准确度

材料性能的位移曲线

  • 连续多周期 (CMC) 的位移曲线:硬度和弹性模量与压入位移的关系
  • 压入载荷和位移控制模式
  • 可视点阵模式通过显微镜观察对样品进行多点定位测试通过
  • 多个测试模式:可使用用户自定义程序根据需要设置测试参数

典型应用

  • 冶金:块状金属、高载荷合金(粗糙表面)和/或显微硬度
  • 聚合物的表征(块状材料和粗糙表面)
  • 仪器化压痕热喷涂涂层的表征
  • 涂层表面的物理特性分析
  • 胶凝的机械性能

技术指标

载荷
最大载荷 30 N
分辨率 6 μN
本底噪音 <100 [rms] [μN]*
位移
最大位移 1000 μm
分辨率 0.03 nm
本底噪音 <1.5 [rms] [nm]*
 
载荷框架刚度 > 107 N/m
国际标准 ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507,
ASTM E384

*理想实验室条件下规定的本底噪音值,并使用减震台。

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