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SAXSpoint 700 和 SAXSpoint 500 专用附件：
GISAXS 样品台
- 薄膜样品表面纳米结构的分析
- 样品可以倾斜和旋转
- 进行温度依赖研究，可高达 500 ℃
- 将 GISAXS 与安东帕湿度样品池联用
借助安东帕 GISAXS 样品台，可解析薄膜样品的表面纳米结构信息。此方法的应用包括表征介孔薄膜、表面沉积的纳米颗粒、氧化物表面的金属沉积物，以及附着于表面的聚合物/嵌段共聚物薄膜和生物材料等软物质体系。
关键功能
精确的 GISAXS 研究
安东帕 GISAXS 样品台是一款高分辨率、高精度的电动样品台，用于执行薄膜样品的 GISAXS/GIWAXS/GIXD（掠入射 SAXS/WAXS/衍射）研究。它配备了一个 Φ 旋转模块，支持样品 0° 至 345° 旋转。样品可在 -4° 至 +5.6° 的角度范围内倾斜，从而改变入射光束的穿透深度。
扩展的温度范围
安东帕 GISAXS 样品台可配备 GISAXS 加热模块，开展最高 500 ℃ 的变温研究；也可配备加热/低温模块，实现 -150 ℃ 至 +350 ℃ 温度范围测试。
湿度依赖研究
该样品台可与安东帕专用湿度样品台联用，可在反射 (GISAXS) 模式下开展温湿度依赖研究。
