我們用於 SAXSpoint 700 系統的 USAXS 模組是一種使用者友善的實驗解決方案，用於分析從奈米到微米級的材料特性。全電動設定讓使用者透過自動、連續的 X光散射測量從樣品中獲得高品質的 USAXS、SAXS 和 WAXS 數據，無需手動介入或更改測量配置。
體驗專為最大效率和精確度而設計的最先進 SAXS 儀器。USAXS 模組能夠自動、連續擷取 X 光散射數據，在單次測量中提供高品質的 USAXS、SAXS 和 WAXS 資訊。憑藉其先進的設計，其可以一次性解析廣泛範圍內的結構細節——從埃 (Ångströms) 到超過 2.5 微米，無需任何人工干預。結果是一個無縫的工作流程，可為各個尺度的全面結構分析提供可靠、可再現的散射數據。
我們先進的 SAXS 儀器確保在每次測量中都具有無與倫比的精確度與穩定性。其具有位於樣品前後的通道切割晶體組件的自動定位功能，保證最佳的光束調節和對準。解析度為 0.0001° 的高精度測角儀能夠極其準確地掃描 X 光散射訊號，甚至能捕捉到最細微的結構變化。結合使用 EIGER2 R 系列 HPC 偵測器的高解析度偵測，該系統提供卓越的數據品質和靈敏度，使其成為要求嚴苛的小角 X 光散射應用的理想選擇。
USAXS 載台設計經過優化以達到最高強度，讓您能夠快速獲取有意義的結果。特別設計的光學設置允許在樣品位置的通量值高達 6 x 106 photons/s。
| 可達的 q 範圍 | 0.0012 nm-1 至 30.0 nm-1 |
| 支援的樣品架零件* | TCStage 150 和 350、加熱/冷卻進樣器、加熱進樣器 |
| 溫度範圍 | -10 °C 至 +350 °C |
| 整合 | 完全整合在 SAXSpoint 700 系統中 自動 USAXS、SAXS、WAXS 測量 |
*需單獨訂購
