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Tosca

Tosca AFM으로 측정 시간 단축

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프리미엄 기술과 시간 절약 철학을 접목한 Tosca 시리즈는 과학자와 나노 산업 종사자를 위한 완벽한 나노 기술 분석 도구입니다.

다음 두 가지 모델 중에서 선택할 수 있습니다. Tosca 400은 대량의 시료를 처리하는 프리미엄 AFM 모델이며 Tosca 200은 제한된 예산으로 중간 크기의 시료를 처리하는 모델입니다. 성능과 유연성, 품질은 두 모델 모두 같습니다.

Tosca는 3년 보증 및 3회 무상 사용자 교육 이용권을 제공합니다. 또한, 전문 분석을 필요로한 샘플 10개에 한해 측정 및 보고서가 제공됩니다.

주요 특징

뛰어난 배열 기술 활용: 자동 레이저 얼라인먼트

뛰어난 배열 기술 활용: 자동 레이저 얼라인먼트

AFM 측정을 수행할 때 가장 중요하면서도 복잡한 단계는 레이저 얼라인먼트입니다. 이 단계는 특히 초보 사용자에게 있어 매우 많은 시간이 소모될 수 있습니다. 이에 따라 Tosca 400은 완전 자동 레이저 얼라인먼트 기능을 제공합니다. 캔틸레버는 액츄에이터 본체에, 액츄에이터 본체는 AFM 헤드에 로딩한 후 제어 소프트웨어를 단 두 번 클릭하기만 하면 기기가 자동으로 레이저 얼라인먼트를 수행합니다.

신뢰할 수 있는 측정 결과: 면외 운동 최소화

신뢰할 수 있는 측정 결과: 면외 운동 최소화

XY 스캐너와 Z 스캐너가 분리된 아키텍처에서 XY 스캐너는 시료 하단에 위치하며 Z 스캐너는 기기 헤드 부분에 위치합니다. 이러한 설계는 스캐너 간의 혼선과 면외 운동을 최소화합니다. 특히 면외 운동은 튜브형 스캐너를 사용하는 기존 AFM 시스템에서 “활”이라고도 부르는 전형적인 백그라운드 곡률을 생성시키는 문제를 유발합니다. Tosca 시리즈는 튜브형 스캐너를 사용하는 AFM에 비해 면외 운동을 20배 감소시킵니다.

전체 보기 지원: 최고 정확도를 제공하는 대형 스캔 영역 지원

전체 보기 지원: 최고 정확도를 제공하는 대형 스캔 영역 지원

최대 100μm의 X-Y 스캔 범위와 최대 15μm의 Z 범위 덕분에 면적이 넓고 형상 변화가 심한 시료의 이미지를 유연하게 표시할 수 있습니다. Tosca Control 소프트웨어는 클릭으로 이동하는 방식을 지원해 빠르고 정확하게 원하는 영역을 선택할 수 있습니다. 

전방 이동: AFM 시장에서 가장 간편한 작동 절차

전방 이동: AFM 시장에서 가장 간편한 작동 절차

작동 절차에는 시료 표면을 캔틸레버와 접촉하는 단계가 포함되어 있습니다. 이 단계는 AFM 작동 시 가장 중요한 절차입니다. Tosca 시리즈는 캔틸레버의 정확한 위치를 추적하는 측면 카메라를 통해 캔틸레버를 표면에 최대한 접근시켜 이 문제를 해결합니다. 그 다음에 자동 작업 절차를 시작하여 몇 초 내에 캔틸레버가 시료 표면을 터치하고 스캔에 사용할 수 있습니다.

빠르고 안전한 캔틸레버 교체

빠르고 안전한 캔틸레버 교체

Probemaster는 캔틸레버를 빠르고 안전하게 정확한 위치로 이동시키기 위한 목적으로 개발된 고유한 도구입니다. 이 도구 덕분에 다음 측정에 사용할 캔틸레버를 빠르고 안전하게 엑츄에이터 본체에 장착할 수 있습니다. 

최고의정밀도

최고의정밀도

분리현 스캐너로 스캔 끝단의 굽는 현상 없이 최고의 정밀도를 측정 할 수 있습니다. 폐회로 X-Y 스캐닝은 비선형성과 creep을 제거해 나노 수준 분석에서 최고의 정밀도를 제공합니다.

기술 사양

Tosca 400
대규모 시료
Tosca 200
중간 규모 시료
스캐너
X-Y 스캔 범위 100µm x 100µm 50µm x 50µm*
Z 스캔 범위 15µm 10µm**
최대 스캔 속도 초당 10개 라인 초당 5개 라인
시료
최대 시료 직경 100 mm 50 mm
최대 시료 높이 25 mm
최대 시료 무게 <600g
위치 반복성
(단일 방향)
<1µm
비디오 현미경
카메라 색상, 5메가픽셀, CMOS 센서
시야 1.73mm x 1.73mm
공간 분해능 5µm
초점 전동 초점
개요 카메라
카메라 색상, 5메가픽셀, CMOS 센서
시야 40mm x 40mm
공간 분해능 50µm
측면 카메라
측면 카메라 흑백, 30mm의 측정 범위
모드
표준 모드 접촉 모드, 태핑 모드(상 이미지 포함), 횡력 현미경, 하중 거리 곡선
선택 사항 모드 Contact resonance amplitude imaging, magnetic force microscopy, Kelvin probe force microscopy, electrostatic force microscopy, conductive atomic force microscopy, current control conductive atomic force microscopy
크기 및 무게
크기(D x W x H), AFM 단위 490 mm x 410 mm x 505 mm
크기(D x W x H), 컨트롤러 340 mm x 305 mm x 280 mm
무게, AFM 단위 51.1kg
무게, 컨트롤러 7.8kg

* 90µm x 90µm로 업그레이드 가능

** 12µm x 15µm로 업그레이드 가능

Tosca는 Anton Paar의 등록 상표(013412143)입니다.

Anton Paar 공인 서비스

Anton Paar 서비스 및 지원 품질:
  • 전 세계 350명 이상의 제조업체 인증 기술 전문가
  • 고객의 언어로 공인 지원 제공
  • 수명 주기 전반에 걸쳐 투자 보호
  • 3년 보증
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액세서리 및 소프트웨어

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