Litesizer DIF 系列可進行 10 nm 至 3.5 mm 的進階粒徑分析。憑藉近 60 年的雷射繞射專業經驗，這款雷射繞射粒徑分析儀採用精密光學設計，搭載 10 mW 與 25 mW 高功率雷射，並具備寬廣的 0.01° 至 170° 繞射角偵測範圍。
Kalliope 軟體可簡化雷射繞射粒徑分析流程；有助於縮短培訓時間，僅需三次點擊即可完成量測。Quick-Click 系統可快速切換不同分散單元，並有助於降低操作錯誤。液體與乾式分散單元皆配備安全設計，讓操作更輕鬆、更安心。
這款雷射繞射粒徑分析儀採用堅固的金屬機殼與隔離式光學平台，可在各種環境中維持穩定表現：從嚴苛環境到高科技實驗室皆適用。
延續我們的創新歷程，這就是新一代雷射繞射技術 – Litesizer DIF 系列：從開創邁向卓越。
Anton Paar 的雷射繞射粒徑分析儀專為重工業應用打造，從內到外均採用高品質元件。堅固的金屬機殼可保護內部光學元件，確保長期耐用。該雷射繞射粒徑分析儀專為承受嚴苛環境而設計。其設計可有效防止粉塵進入光學平台，並隔離生產現場可能產生的直接振動，以保護機內部件。藉此可降低維護與維修成本。
分散單元與 Anton Paar Litesizer DIA 與 Litesizer DIF 儀器相容，有助於降低投資成本，並減少實驗室空間占用。此外，所有 Litesizer 儀器（包括 Litesizer DIF 雷射繞射粒徑分析儀）皆可透過同一台安裝 Kalliope 軟體的 PC 操作。
透過 Kalliope，雷射繞射粒徑分析儀使用者可藉由單頁式工作流程（設定參數、執行量測與處理結果）快速上手。此外，QC 模式可透過自訂使用者管理與鎖定敏感設定，確保量測結果的一致性與可靠性。在 QC 模式下，雷射繞射粒徑分析儀可清楚顯示您的產品是否符合所設定的限值。這表示只需點擊三次即可取得結果，並有助於降低新使用者的培訓需求。此外，還包含製藥功能選項，具備資料安全功能、使用者管理及稽核追蹤，使 Kalliope 符合美國 FDA 21 CFR Part 11 的要求。
Litesizer DIF 的 Quick-Click 功能只要一步即可完成分散單元連接，無須另外連接線、軟管或管路。遮光率指示器可在向雷射繞射粒徑分析儀加樣時監控加樣量，確保從一開始就加入適當的樣品量。
Dry Jet 分散單元配備吸力檢查功能與內建防塵罩，有助於降低粉末飛散風險。
Liquid Flow 單元會在超音波處理前自動檢查液量是否充足，以避免過熱。另提供高耐化學性的專用模組，適用於強腐蝕性液體。
Liquid Flow Imaging 單元結合雷射繞射與動態影像分析，可提供粒徑 5 µm 起的粒子形狀參數。
Litesizer DIF 以高品質工藝打造，是粒子分析的可靠選擇。儀器配備高性能硬體，可取得高品質的原始數據。這款雷射繞射粒徑分析儀可量測各類型樣品，單一儀器即可涵蓋 0.01 µm 至 3,500 µm 的粒徑範圍，無需額外投資。
每台 Litesizer DIF 均配備高性能雷射系統，專為長期可靠運作而設計。為此，Anton Paar 提供 10 年雷射保固，展現對產品長期穩定性的承諾。這也體現我們對這款雷射繞射粒徑分析儀核心光學效能長期穩定表現的承諾，在合理使用條件下可持續提供一致的量測結果。
| Litesizer DIF 500 | Litesizer DIF 300 | Litesizer DIF 100 | |
|---|---|---|---|
| 測量原理 | 雷射繞射（Mie 與 Fraunhofer 散射） | ||
| 測量範圍 | 0.01 μm - 3,500 μm | 0.1 μm - 2,500 μm | 0.1 μm - 1,000 μm |
| 粒徑級數 | 144（可由使用者調整） | 114（可由使用者調整） | 104（可由使用者調整） |
| 準確度 * | 優於 ± 0.5 % 的偏差*** | ||
| 重複性 | 變異優於 ± 0.5 %*** | ||
| 再現性** | 變異優於 ± 1 %*** | ||
| 典型測量時間 | <10 秒 | ||
| 資料擷取速率 | 16 kHz | ||
| 光源 1 | |||
| 類型 | 光纖耦合雷射二極體 | ||
| 光學配置 | 反向傅立葉配置 | ||
| 波長 | 830 nm，紅外線 | ||
| 雷射功率 | 10 mW | ||
| 雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) | ||
| 光源 2 | Litesizer DIF 500 | - | |
| 類型 | 雷射二極體 | - | |
| 光學配置 | 相對於 IR 雷射傾斜 | - | |
| 波長 | 450 nm，藍光 | - | |
| 雷射功率 | 25 mW | - | |
| 雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) | - | |
| 檢測器 | |||
| 類型 | 對數間隔光電二極體陣列，以及用於側向與背向散射的單一光電二極體 | ||
| 角度範圍 | 0.01° - 170° | 0.01° - 155° | |
| 焦距 | 300 mm | ||
| 對準 | 自動 | ||
| 儀器資料 | |||
| 儀器尺寸**** | 400 mm x 790 mm x 290 mm（高 x 寬 x 深） | ||
| 儀器重量**** | 42.3 kg (93.2 lb) | ||
| 電源供應 | 100 V 至 240 V ±10 %，50/60 Hz | ||
商標： Kalliope (EU: 012709391, UK: UK00912709391), Litesizer (EU: 011695491, UK: UK00911695491)
* 以單分散乳膠標準品作為定義基準，並將製造商標示的標準粒徑不確定度納入考量。
** 以多分散標準品的 D50 作為定義基準。
*** 視樣品及其製備方式而定。 適用於液體分散測量。
**** 不含 PC 與分散單元
如果沒有找到您需要的物品，請聯繫您的安東帕銷售代表。
顆粒分析自動化選項：
Litesizer 自動進樣器
Litesizer DIA 和 DIF 配件：
分散裝置 液體流動
Litesizer DIA 和 DIF 配件：
分散裝置 乾式分散
Litesizer DIA 和 DIF 配件：
分散裝置 液體流動成像
顆粒分析軟體：
Kalliope
