Litesizer DIF 系列提供 10 nm 至 3.5 mm 的進階粒徑量測能力。 憑藉近 60 年的雷射繞射專業經驗，本系列雷射繞射粒徑分析儀採用同級最佳的光學配置，搭載強大的 10 mW 與 25 mW 雷射，並提供市場上最寬廣的 0.01° 至 170° 繞射角偵測範圍。
「Kalliope 軟體可簡化雷射繞射粒徑分析儀的粒徑量測流程；無需大量培訓，且只需點擊三次即可完成量測。」 Quick-Click 系統可快速切換各種分散模組，有助於降低操作錯誤風險。 液體與乾式分散模組皆配備安全設計，兼顧操作便利性與安全性。
堅固的金屬機身與隔離式光學平台，讓儀器無論在嚴苛環境或高階實驗室中，皆能維持穩定可靠的表現。
延續我們的創新傳承，這就是新一代雷射繞射技術 – Litesizer DIF 系列：
從開創到卓越。
Anton Paar 的雷射繞射粒徑分析儀適合重工業環境使用，機身內外均採用高品質元件。 堅固的金屬外殼可為光學元件提供可靠保護。 此雷射繞射粒徑分析儀專為嚴苛環境設計。 可有效防止粉塵或粉末進入儀器的光學平台，並隔離生產現場可能傳遞至儀器內部的直接振動。 這些設計有助於降低維護與維修成本。
分散模組可與 Anton Paar 的 Litesizer DIA 與 Litesizer DIF 儀器共用，有助於降低投資成本，並節省實驗室空間。 此外，所有 Litesizer 儀器（包括 Litesizer DIF 雷射繞射粒徑分析儀）皆可透過同一台已安裝 Kalliope 軟體的電腦操作。
在 Kalliope 中，雷射繞射粒徑分析儀使用者可藉由單頁式工作流程快速上手（參數設定、量測執行及結果處理）。 此外，QC 模式可藉由自訂使用者管理與鎖定敏感設定，有助於維持量測結果的一致性與可靠性。 在 QC 模式下，雷射繞射粒徑分析儀可就您的產品是否落在您設定的限值範圍內，提供簡明的判定回饋。 也就是說，只需點擊三次即可取得結果，並有助於降低新使用者的培訓需求。 此外，系統亦提供製藥選配功能，涵蓋資料安全、使用者管理及稽核軌跡，使 Kalliope 符合美國 FDA 21 CFR Part 11 規範。
Litesizer DIF 的 Quick-Click 功能只需一步即可連接分散模組，省去處理電纜、軟管或管線的麻煩。 遮光率指示器可直接在儀器上監控樣品量，有助於從一開始就加入適量樣品。
Dry Jet 分散模組配備吸力檢測功能與內建防塵蓋，可降低粉末逸散風險。
Liquid Flow 分散模組會在進行超音波處理前自動確認液位是否足夠，以避免過熱。
Small Flow 分散模組專為溶劑與樣品用量受限、成本高、有毒或具腐蝕性的應用而設計。
Liquid Flow Imaging 與 Small Flow Imaging 分散模組結合雷射繞射與動態影像分析，可提供 5 µm 以上粒子的形貌參數。 「Liquid Flow Imaging 模組亦提供耐化學品版本。」
Litesizer DIF 憑藉高品質的製造工藝，是進行粒子分析的理想工具。 其高規格硬體可讓儀器取得高品質的原始資料。 這款雷射繞射粒徑分析儀讓使用者只需一台儀器，即可量測多種樣品類型，粒徑範圍涵蓋 0.01 µm 至 3,500 µm，無須額外添購其他儀器。
每台 Litesizer DIF 都以高性能雷射系統為核心，其設計可支援數十年穩定可靠的運作。 為此，Anton Paar 提供 10 年雷射保固——這項承諾遠遠超越業界標準。 這體現我們的承諾：無論您的應用需求多麼嚴苛，這款雷射繞射粒徑分析儀的核心光學性能都將年復一年持續提供一致的量測結果。
| Litesizer DIF 500 | Litesizer DIF 300 | Litesizer DIF 100 | |
|---|---|---|---|
| 測量原理 | 雷射繞射（Mie 與 Fraunhofer 散射） | ||
| 測量範圍 | 0.01 μm - 3,500 μm | 0.1 μm - 2,500 μm | 0.1 μm - 1,000 μm |
| 粒徑級數 | 144（使用者可調整） | 114（使用者可調整） | 104（使用者可調整） |
| 準確度 * | 偏差小於 ± 0.5 %*** | ||
| 重複性 | 變異優於 ± 0.5 %*** | ||
| 重現性** | 變異優於 ± 1 %*** | ||
| 典型測量時間 | <10 秒 | ||
| 資料擷取速率 | 16 kHz | ||
| 光源 1 | |||
| 類型 | 光纖耦合雷射二極體 | ||
| 光學配置 | 反向傅立葉配置 | ||
| 波長 | 830 nm，紅外線 | ||
| 雷射功率 | 10 mW | ||
| 雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) | ||
| 光源 2 | Litesizer DIF 500 | - | |
| 類型 | 雷射二極體 | - | |
| 光學配置 | 相對於 IR 雷射呈傾斜 | - | |
| 波長 | 450 nm，藍色 | - | |
| 雷射功率 | 25 mW | - | |
| 雷射等級 | 第 1 級 (IEC60825-1) | - | |
| 檢測器 | |||
| 類型 | 對數間距光電二極體陣列，以及用於側向與背向散射的單一光電二極體 | ||
| 角度範圍 | 0.01° - 170° | 0.01° - 155° | |
| 焦距 | 300 mm | ||
| 對準 | 自動 | ||
| 儀器資料 | |||
| 儀器尺寸**** | 400 mm x 790 mm x 290 mm（高 x 寬 x 深） | ||
| 儀器重量**** | 42.3 kg (93.2 lb) | ||
| 電源供應 | 100 V 至 240 V ±10 %，50/60 Hz | ||
商標： Kalliope (EU: 012709391, UK: UK00912709391), Litesizer (EU: 011695491, UK: UK00911695491)
* 以單峰乳膠標準品界定，並將製造商標示的標準粒徑不確定度納入考量。
** 以多分散標準品的 D50 界定。
*** 視樣品與製備方式而定。 適用於液體分散測量。
**** 不含 PC 及分散單元
如果沒有找到您需要的物品，請聯繫您的安東帕銷售代表。
適用於 Litesizer DIA 與 DIF 的模組：
分散單元 Small Flow
適用於 Litesizer DIA 與 DIF 的模組：
分散單元 Small Flow Imaging
顆粒分析自動化選項：
Litesizer 自動進樣器
適用於 Litesizer DIA 與 DIF 的模組：
分散單元 Liquid Flow
適用於 Litesizer DIA 與 DIF 的模組：
分散單元 Dry Jet
適用於 Litesizer DIA 與 DIF 的模組：
分散單元 Liquid Flow Imaging
顆粒分析軟體：
Kalliope
