雷射繞射粒徑分析儀:
Litesizer DIF
- 測量樣品範圍從 0.1 µm 到 2,500 µm
- 只需一步即可在液體與乾式分散之間切換
- Kalliope 軟體:無需訓練,專用 QC 模式
- 即使在惡劣環境中也能獲得可靠的結果
- 與液體流動成像分散裝置相容
Litesizer DIF 依據近 60 年的雷射繞射專業知識設計,可提供從 10 nm 到 3.5 mm 範圍的粒徑測量。此雷射繞射粒徑分析儀擁有業界最頂尖的光學配置,配備功率達 10 mW 和 25 mW 的雷射光源以及市場上最寬的繞射角度檢測範圍(0.01° 至 170°)。Kalliope 軟體簡化了粒徑測量,不需要額外的教育訓練 – 僅需三次點擊就能開始測量。Quick-Click 設計讓使用者可輕鬆更換測試模組,將人為操作錯誤最小化。安全的液體和乾式分散設計確保操作輕鬆且安全。
堅固的金屬外殼和獨立的光學平台確保在各種環境下的可靠性:從惡劣環境到高科技實驗室。
在我們開創性傳統的推動下,這是下一代雷射繞射技術 – Litesizer DIF:從第一到顛峰。
主要功能
任何環境下的粒徑測量
安東帕的 Litesizer DIF 是重工業的標準。內外部均採用高品質零件製成。堅固的金屬外殼包裹著耐用的光學元件。Litesizer DIF 硬體設計能夠承受惡劣環境:灰塵或粉末無法進入到儀器光學平台上,且生產現場可能發生的直接震動無法影響到儀器內部震動。所有這些都意味著您可以節省保養和維修成本。

Kalliope:粒徑的標準軟體
使用 Kalliope,使用者立即知道如何開始,透過一頁式工作流程(設定參數、得到和處理數據)。此外,QC 模式藉由自定義使用者管理和鎖定精細設定提供一致可靠的測量結果。儀器在 QC 模式下會簡單地回饋您的產品是否在您定義的範圍內。這意味著只需三次點擊就能得到結果,並且對新使用者的訓練需求減少。此外亦提供製藥選項,其具備資料安全功能、使用者管理、審計追蹤功能,使 Kalliope 符合美國 FDA 21 CFR Part 11 (聯邦法規 21 章第 11 條) 規定。

有效的分散,最大安全性
Litesizer DIF 的快速點擊功能只需一個動作即可連接分散單元 - 不需煩惱電線、流道或管子連接。當涉及到添加樣品時,遮蔽水平指示器允許您在添加樣品的同時監控樣品量,確保您從一開始就獲得正確的數量。
我們的分散單元在設計時考慮了安全性:乾式分散單元配備了吸入檢查裝置和內建的防塵蓋,以最小化粉末擴散的風險。
此外,液體流動分散單元在超音波處理前會自動檢查液體是否充足,以防止過熱。另有高度耐化學腐蝕版本,適用於處理具腐蝕性的液體
液體流動成像單元結合雷射繞射和動態影像分析,增加了 5 µm 大小顆粒的形狀參數。

在品質上,我們處於領先地位
Litesizer DIF 因其高品質的製造而成為顆粒分析的完美工具。它具有高品質硬體設計,使儀器能夠收集優質的原始數據。這款雷射繞射粒徑分析儀讓使用者能夠測量廣泛的樣品,涵蓋 0.01 µm 至 3,500 µm 的粒徑,只需一台分析儀即可完成所有操作,無需額外投資。

較少的投資,節省了工作台空間 – 全方位的兼容性
安東帕的 Litesizer DIA 和 Litesizer DIF 儀器之間的分散單元兼容性降低了投資成本和實驗室使用空間。此外,所有 Litesizer 儀器都可以使用安裝了 Kalliope 軟體的單一電腦來操作。

規格
Litesizer DIF 500 | Litesizer DIF 300 | Litesizer DIF 100 | |
---|---|---|---|
測量原理 | 雷射繞射(米氏和Fraunhofer散射) | ||
測量範圍 | 0.01 μm – 3,500 μm | 0.1 μm – 2,500 μm | 0.1 μm – 1,000 μm |
尺寸等級 | 144(使用者可調) | 114(使用者可調) | 104(使用者可調) |
準確度 | 優於 ±0.5% 的偏差 + | ||
可重複性 | 優於 ±0.5% 的偏差 + | ||
再現性: | 優於 ±1% 的偏差 + | ||
可能的測量持續時間 | <10 秒 | ||
資料獲取率 | 16 kHz | ||
光源 1 | |||
類型 | 光纖耦合雷射二極體 | ||
光學排列 | 逆傅立葉 | ||
波長 | 830 nm,紅外線 | ||
功率 | 10 mW | ||
雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) | ||
光源 2 | Litesizer DIF 500 | - | |
類型 | 雷射二極體 | - | |
光學排列 | 相對於紅外線雷射傾斜 | - | |
波長 | 450 nm,藍色 | - | |
功率 | 25 mW | - | |
雷射等級 | 1 級 (IEC60825-1) | - | |
偵測器 | |||
類型 | 用於側向和反向散射的對數間隔光電二極體陣列和單一二極體 | ||
角度範圍 | 0.01° 至 170° | 0.01° 至 155° | |
焦距 | 300 mm | ||
對準 | 自動 | ||
儀器資料 | |||
儀器尺寸 | 400 mm x 790 mm x 290 mm(高 x 寬 x 深) | ||
儀器重量 | 42.3 kg (93.2 lb) | ||
電源 | 100 V 至 240 V ±10%、50/60 Hz |
商標
• Kalliope(歐盟:012709391),(英國:UK00912709391)
• Litesizer(歐盟:011695491),(英國:UK00911695491)
專為液體分散測量而定義。
* 為單峰乳膠標準定義並考慮製造商標準尺寸的不確定性。 ** 為多分散標準品的 D50 定義。
*** 無需 PC 和分散裝置為液式分散測量定義。
標準
CFR
標準
CFR
標準
CFR
文件
-
E-Book - 藥物粉體特性分析指南 應用報告
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互補產品
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顆粒分析自動化選項:
Litesizer 自動進樣器
雷射繞射粒徑分析儀:Litesizer DIF 100 | 300 | 500
- 測量濕式和乾式樣品
- 每次運作最多測量 60 個樣品
- 即使在運作期間也可以新增樣品並確定樣品的優先順序
- 利用協作機器手臂確保安全

Litesizer DIA 和 DIF 配件:
分散裝置 液體流動
雷射繞射粒徑分析儀:Litesizer DIF 500
- 使用溶液進行樣品分散。
- 自動化注入、排放及沖洗分散液
- 自動偵測液位,有效防止過熱
- 另有高度耐化學腐蝕版本,適用於處理具腐蝕性的液體
- 適用於 Litesizer DIA 和 Litesizer DIF 系列

Litesizer DIA 和 DIF 配件:
分散裝置 乾式分散
雷射繞射粒徑分析儀:Litesizer DIF 500
- 使用壓縮空氣分散樣品
- 自動化實現最佳進樣速率
- 安全防護蓋有效防止有毒或易爆樣品外洩
- 透過自動吸入檢查,有效避免危險樣品
- 適用於 Litesizer DIA 和 Litesizer DIF 系列

Litesizer DIA 和 DIF 配件:
分散裝置 液體流動成像
雷射繞射粒徑分析儀:Litesizer DIF 500
- 結合雷射繞射與動態影像分析法
- 測量 5 µm 至 2,500 µm 的樣品形狀
- 使用液體分散樣品
- 包含液體流動分散裝置的所有功能
- 適用於 Litesizer DIF 系列

顆粒分析軟體:
Kalliope
雷射繞射粒徑分析儀:Litesizer DIF 500
- 所有 Litesizer 儀器的粒徑分析軟體
- 只需按三次即可開始進行粒徑測試
- 一頁式工作流程使用者介面
- 實時監控測量結果