Ultra Nanoindentation Tester:
UNHT³
- Misure in condizioni ambiente
- Controllo della temperatura variabile da temperatura ambiente sino a 200°C
Il tester a nanoindentazione Ultra UNHT³, dotato di sensori di forza e spostamento reali, esamina le proprietà meccaniche di un materiale su scala nanometrica. UNHT³ elimina potenzialmente l'effetto del drift termico e della cedevolezza grazie al suo sistema brevettato di riferimento attivo sulla superficie. È adatto a misure di lunga durata su tutti i tipi di materiali dalla scala atomica alla nanoscala, compresi polimeri, strati molto sottili e tessuti soffici. Per le misure a temperature molto basse o molto alte, è disponibile una versione con camera a vuoto (UNHT³ HTV) (fino a 800°C); fino a 10-7 mbar).
Combinazione possibile della testina UNHT³ con un altro scratch tester o tester a indentazione sulla piattaforma Step per integrare in modo completo la gamma nano/micro/macro. Aggiungete il modulo AFM per ottenere una caratterizzazione meccanica completa della superficie con un unico strumento.
Principali caratteristiche
Il nanoindentatore più preciso
UNHT³ misura ciò che gli altri strumenti stimano: due sensori indipendenti di carico e profondità forniscono il controllo delle forze e della profondità di indentazione. Inoltre, UNHT³ presenta il design di riferimento attivo sulla superficie brevettato da Anton Paar: un indentatore di riferimento controlla la posizione della superficie del campione mentre un indentatore di misurazione esegue le misurazioni, eliminando qualsiasi deriva termica e problemi di conformità. Questo consente un'ampia gamma di profondità di indentazione (da pochi nm a 100 μm) e di carichi di indentazione (da pochi μN a 100 mN).
Il tester di nanoindentazione più stabile sul mercato
La combinazione dell'esclusivo sistema di riferimento attivo sulla superficie e di Zerodur, un materiale senza espansione termica, fa sì che UNHT³ sia l'unico tester di nanoindentazione a raggiungere una deriva termica trascurabile fino a 10 fm/sec senza correzione della profondità. Questo rende lo strumento l'unico tester di nanoindentazione utilizzabile per misurazioni lunghe, come i test di creep.
Misurazioni veloci con il supporto piezoelettrico
Combinando le eccezionali prestazioni della testina UNHT³, l'efficienza della modalità Quick e le capacità avanzate del supporto piezoelettrico di 100 μm × 100 μm, gli operatori possono ottenere una mappatura precisa delle indentazioni delle superfici dei campioni a una velocità senza pari. L'eccezionale precisione di riposizionamento di 10 nm del supporto piezoelettrico consente di ottenere spazi di indentazione anche inferiori a 500 nm, fornendo una caratterizzazione dettagliata con un'affidabilità superiore. La maggiore produttività è ulteriormente supportata da profili utente personalizzabili, protocolli di misurazione versatili, gestione efficiente di più campioni e creazione di report personalizzati, per una produttività leader del settore di oltre 1000 misurazioni all'ora con curve di indentazione in tempo reale.
Prova dinamico-meccanica (DMA) aggiuntiva con modalità "sinus”
La modalità "sinus" integrata consente di eseguire analisi DMA per il profilo delle proprietà meccaniche in funzione della profondità di penetrazione (HIT, EIT vs. profondità) e la misura delle proprietà viscoelastiche (E', E'': modulo elastico dinamico (storage modulus) e modulo viscoso dinamico (loss modulus), tan δ). su campioni che vanno da sottili film su materiali bulk. La modalità Sinus offre anche funzionalità aggiuntive, come la calibrazione rapida dell'indentatore e l'analisi di sforzo/deformazione.
Piattaforma Step: massima versatilità degli strumenti
La piattaforma Step consente l'esecuzione di test completi di caratterizzazione meccanica delle superfici. La piattaforma Step offre la migliore soluzione in termini di stabilità, isolamento dal rumore e modularità, sia che si vogliano eseguire solo test di nanoindentazione, sia che si vogliano integrare i risultati con scratch test o misure AFM.
Misure in condizioni di alto vuoto e alte temperature fino a 800°C
La versione HTV di UNHT³ è l'unico tester di nanoindentazione con una procedura completamente automatica per ridurre al minimo la derica termica in grado di raggiungere <3 nm/min sull'intero intervallo di temperatura. Ciò avviene tramite l'esclusiva e brevettata gestione del riscaldamento che controlla simultaneamente la temperatura del campione e dell'indentatore con una precisione di 0,1°C. Il software di indentazione controlla il riscaldamento e le condizioni ambientali interagendo in tempo reale con il sistema per minimizzare la deriva termica e avviare tutte le misure desiderate. È possibile pianificare un insieme di qualsiasi tipo di indentatori (possibile anche con l'UNHT³ standard ) con diversi livelli di temperatura e lo strumento esegue automaticamente le misure secondo la matrice preimpostata.
Specifiche
| Carico massimo [mN] | 50 / 100(1) |
| Risoluzione carico [nN] | 3 |
| Rumore di fondo [rms] [μN] | 0,05 |
| Valore del carico [mN/min] | Fino a 1000 |
| Gamma profondità [μm] | 50 / 100(1) |
| Risoluzione della profondità [nm] | 0,003 |
| Profondità rumore di fondo [rms] [nm] | ≤0,03 |
| Velocità di acquisizione dati [kHz] | 192 |
| Opzioni | |
| Fase di riscaldamento fino a 200 ºC | ✔ |
| Test con liquido | ✔ |
(1) opzionale
Brevetti
Sistema di riferimento attivo sulla superficie per UNHT³: USA 7,685,868 B2
Standard
ASTM
Standard
ASTM
Servizio certificato Anton Paar
- oltre 350 esperti tecnici certificati direttamente dal produttore a livello globale Assistenza qualificata nella tua linguaProtezione del vostro investimento per l'intero ciclo di vita3 anni di garanzia
Documenti
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Adhesion and hardness of galvanic layers by scratch test and nanoindentation Report applicativi
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Adhesion and mechanical properties of anti-reflective coatings Report applicativi
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Applications of indentation and scratch in automotive industry Report applicativi
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Applications of indentation in polymer industry Report applicativi
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Compression of microparticles by cylindrical flat punch using a nanoindenter Report applicativi
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Modulo di posizionamento ad alta risoluzione:
supporto piezoelettrico 100 μm x 100 μm
UNHT³ Standard
- Eccezionale precisione di riposizionamento
- Indentazione ad alta precisione su grandi aree
- Integrazione perfetta e facile aggiornamento della piattaforma
Accessorio per piattaforme Step:
microscopio a forza atomica (AFM)
UNHT³ Standard | HTV
- Soluzione AFM versatile per diverse applicazioni scientifiche e industriali
- Funzionalità di imaging e analisi per informazioni sulla superficie in scala nanometrica
- Interazione non distruttiva con i campioni
Accessorio per piattaforme Step:
modulo di riscaldamento
UNHT³ Standard | HTV
- Eccellente stabilità termica con temperature di test fino a 450°C
- Correlazione delle proprietà meccaniche superficiali con la temperatura
- Installazione direttamente sulla piattaforma Step
BERKOVICH DIAMOND FOR UNHT3/NHT3
UNHT³ Standard | HTV
FUSED SILICA AND COPPER SAMPLES
UNHT³ Standard | HTV
CERTIFIED FUSED SILICA SAMPLE WITH STUD CERTIFIED SAMPLE FOR ELASTIC MODULUS
UNHT³ Standard | HTV
For indenter calibration and reference measurement. Certified sample for elastic modulus: diameter = 25mm. height = 5mm (without stud). total height: 21mm. Including sample stud fixed to sample.