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和半導體及應用於再生能源功能性鍍膜和薄膜的表面特性

您想瞭解更多有關各種系統表面特性的不同技術,包括半導體和再生能源領域的樣品嗎?

觀看此免費網路研討會,深入瞭解不同分析方法以及選定應用理論。此網絡研討會也說明了適用於表面特性分析和介面的正確儀器選擇 - 包括原子力顯微鏡、 奈米刮痕測試儀以及小角度 X 光散射儀儀 (GISAXS)。

特色主題包括:

  • 使用原子力顯微鏡觀察晶片製程薄膜表面形貌
  • 透過小角度 X 光散射儀 (GISAXS) 分析結構特性
  • 太陽能電池和半導體的奈米刮痕測試
  • 具有不同頂層 (氧化矽,氮化矽,銅,鎢) 的半導體晶圓的特性分析

 

 

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