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X 光光學元件:
多層膜 X 光光學元件

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  • 適用於廣泛應用的 X 光光學元件
  • 光束整形(聚焦或準直)和單色化解決方案
  • 平衡高解析度或高通量的客製化設計   
  • 針對最常用陽極材料的特定設計
多層膜 X 光光學元件

我們由 AXO DRESDEN 開發和製造的一系列基於多層膜的 X 光光學元件,旨在對 X 光進行單色化、聚焦或準直而設計——為 XRD、XRF、SAXS、成像和眾多同步輻射實驗等應用塑造最佳化的光束。

主要功能

廣泛的 X 光光學元件

我們提供廣泛的先進 X 光光學元件組合,專為各種應用量身打造。我們的平行光束光學元件(PBO 和 Göbel 反射鏡)提供高度準直的光束,典型尺寸介於 0.5 mm 和 2.5 mm 之間,可提供 X 光繞射 (XRD) 所需的低光束發散度。對於需要集中強度的應用,我們的聚焦 X 光光學元件可將發散或平行光束轉換為細焦線或焦點——典型值為 30 µm 至 500 µm,是 XRF、XRD 和成像等技術的理想選擇。

二維 X 光光學元件 (Montel 光學元件)

二維準直光學元件 (ASTIX-c) 將發散輻射轉換為邊長為 0.5 mm 至 2.5 mm 的方形、低發散度平行光束。我們的二維聚焦光學元件 (ASTIX-f) 與此相輔相成,其將高強度光束集中到直徑範圍從幾百微米(取決於樣品尺寸)低至約 30 µm FWHM 的焦點光斑。

X 光光學系統

我們多功能的 X 光光學系統使用多層膜光學元件——無論是單獨使用還是與其他 X 光光學元件結合 — 以準直、聚焦、壓縮或擴展形式產生一維和二維光束,且均具備單色特性。舉例來說,雙反射鏡排列可在極高的動態範圍內實現精確的 X 光反射測量。其他應用包括 X 光繞射、斷層掃描和同步輻射實驗。 

符合您的需求

我們的 X 光光學元件 專為廣泛的光子能量而設計,適用於最常用的陽極材料,包括鉻 (Cr)、鈷 (Co)、銅 (Cu)、鎵 (Ga)、鉬 (Mo)、銠 (Rh)、銀 (Ag)、銦 (In) 和鎢 (W)。這支援了跨應用的最佳性能——從用於標準繞射的 Cu Kα,到用於應力分析的 Cr 和 Co,以及用於高密度樣品和高解析度數據的 Mo、Ag 或 In。每個多層膜光學元件都針對其對應的譜線進行了量身打造,以確保最大的通量、光譜純度和光束品質。

多層膜反射鏡可以針對特定的焦距、小光束尺寸或低發散度進行客製化設計。即使設定了外部幾何參數,仍可透過調整多層膜塗層來進一步優化反射鏡的光譜性能。優化通常針對光束通量、光譜解析度或寬頻反射——取決於是否需要光子強度、能量選擇性或寬能量覆蓋範圍(如在同步輻射、電漿或雷射設置中)。

用於同步輻射、FEL(自由電子雷射)、EUV(極紫外光)和其他光源的單色器反射鏡

選擇小或大能量頻寬的同步輻射光束線需要單色化光學裝置。多層膜塗層可應用於各種配置,以提供高解析度或高通量光束,範圍涵蓋從 EUV 到高達 ~100 keV 的硬 X 光。平面、梯度多層膜可適應發散光束或用於分析儀設置。其他應用包括寬頻或帶通設計,以及在布儒斯特角 (Brewster’s angle) 附近工作的偏振反射鏡。

規格

典型可用光譜範圍(同步輻射)50 eV 至 >100 keV
典型陽極材料(X 光管)Cr、Co、Cu、Ga、Mo、Rh、Ag、In、W(其他可應要求提供)
典型焦距100 mm 至 2,500 mm(取決於設置和所需的光束尺寸)
光學元件尺寸實驗室光學元件通常為 40 mm 至 150 mm
同步輻射光學元件通常高達 500 mm
解析度0.25% < ΔE/E < 3%(週期性多層膜)
ΔE/E > 5% 可應要求提供(非週期性多層膜)
厚度均勻性Δd/d <0.2%

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