Zugeinrichtung: TS 600 - Zusatz für die In-situ-Röntgenbeugung (XRD) zur Untersuchung von Spannungsphänomenen in Fasern, Folien und dünnen Filmen

Zugeinrichtung: TS 600

Die Zugeinrichtung TS 600 ist ein komplett neuartiger Zusatz für die In-situ-Röntgenbeugung (XRD) zur Untersuchung von Spannungsphänomenen in Fasern, Folien und dünnen Filmen. Sie ist die erste kommerziell erhältliche Zugeinrichtung, die speziell für die Untersuchung von Strukturänderungen in Materialien unter mechanischer Belastung mittels In-situ-XRD entwickelt wurde. Auf Grund der geringeren Baugröße und des leichten Gewichtes kann das Gerät sowohl an Synchrotron-Messplätzen als auch auf Labordiffraktometern verwendet werden. Außerdem kann die Zugeinrichtung TS 600 in Transmission und Reflexion betrieben werden und eröffnet viel neue Möglichkeiten für Spannungsuntersuchungen.

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Technische Highlights

Neue Erkenntnisse über mechanische Eigenschaften

  • Gleichzeitiges Zugexperiment und Röntgenuntersuchung
  • Zwei verschiedene Kraftmessdosen decken einen großen Kraftbereich mit hoher Auflösung ab
  • Einfacher Austausch und automatische Erkennung der Kraftmessdosen
  • Präzise Messung der Kraft und Ausdehnung

Kompakt und vielseitig

  • Messungen in Transmissions- und Reflexionsgeometrie
  • Verschiedene Probentypen wie Fasern, Folien, dünne Filme usw.
  • Für Anwendungen an Synchotrons und Standard-Labordiffraktometern
  • Kompakte Baugröße und geringes Gewicht

Einfacher Zugang zu komplexer Information

  • Benutzerfreundliche Software für die Steuerung des Gerätes und die Datenerfassung
  • Programmierung von komplexen Kraftverläufen möglich, inklusive zyklischer Spannungsversuche und Kriechexperimenten
  • Darstellung und Export von Messdaten in verschiedenen Ausgabeformaten

Technische Daten

Kraftbereich5 N Kraftmessdose: 0,05 N bis 5 N
600 N Kraftmessdose: 1 N bis 600 N
Geschwindigkeitsbereich0,5 mm/min bis 5 mm/min
WinkelbereichΨ ≤ 20° bis 90° (je nach Φ)
Θ ≤ 20° bis 90° (je nach Φ)
Φ 0° bis ± 180°
ProbengrößeLänge: min. 30 mm
Breite: max. 15 mm
Dicke: max. 2 mm
Durchmesser155 mm
Gesamthöhe48,5 mm
Probenhöhe über Grundplatte36 mm
Gewicht1,3 kg
MessgeometrieTransmission & Reflexion

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