準備好以最先進的分析儀器將您的研究提升到下一個層次了嗎？Zeta 電位創新獎將提供您機會贏得一台搭載革命性 cmPALS 技術的 Litesizer DLS 701，或一台用於表面 zeta 電位分析之 SurPASS 3。

若要參加，請說明這些儀器將如何改變您的研究工作。提交一頁 A4 申請書，概述您的專案並說明此技術將如何支援您的工作、解決具體挑戰或創造新機會。

申請截止日期為2026年3月31日。

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Zeta 電位創新獎辦法簡述

從提交到最終發表，我們將引導您完成獎項計畫的各個階段，確保評選公開公平並讓您的研究獲得最佳曝光與效益。

選擇您的儀器

選擇 Litesizer DLS 搭載 cmPALS 技術，適用於奈米粒子與乳液應用，或選擇 SurPASS 3 用於宏觀固體表面的 zeta 電位測量。每款儀器在不同研究應用上各具優勢。

提交您的構想

以一頁 A4 描述您的研究專案。說明該儀器將如何影響您的研究，並詳述您期望從 cmPALS 獨特技術或先進表面分析功能獲得的具體效益。

專家評估

由學術與產業領域之資深科學家組成的評選委員會，將以科學性、可行性與潛在影響力評估所有投稿，確保每份提案皆獲得公平且完整的審查。

創新展示

將選出兩名得主（每款儀器各一名），得主將於高曝光度的線上研討會中向科學社群發表其專案。您的創新研究亦有機會被刊登為安東帕成功案例，以啟發全球其他研究人員。

獎項：先進分析儀器

搭載 cmPALS 技術的 Litesizer DLS 701

此先進系統提供業界最靈敏且精準的 zeta 電位測量能力，使您能以前所未有的準確度分析最具挑戰性的樣品。連續監測相位分析光散射 (cmPALS) 技術消除了常見的干擾，能夠在從蛋白質到奈米粒子等廣泛樣品類型中提供可靠的測量結果，成為任何專注於粒子特性及穩定性研究的實驗室中不可或缺的寶貴技術。

SurPASS 3 表面 zeta 電位分析儀

SurPASS 3 為表面 zeta 電位分析的黃金標準，具備無與倫比的能力以特性化固體材料、薄膜與塗層的表面性質。採用先進的流動位測量技術，提供精確的 zeta 電位數據，協助理解表面交互作用、黏附現象與材料相容性。其多功能性與準確度使之成為材料科學、膜技術與表面工程等領域研究人員不可或缺的分析工具。

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Zeta 電位創新獎

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請注意：您的資料也會轉發予您當地的安東帕代表，該代表將樂意後續聯繫並協助您在研究過程中的需求。
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