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陶瓷薄膜用測量池

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SurPASS 3 的各式測量池適合測量任何幾何形狀、尺寸或原物質的樣本,並且為您的品質控制和研究提供最大的撓性。SurPASS 3 可自動識別使用過的測量池。

陶瓷薄膜用測量池適用於作為微過濾的單通道和多通道管狀陶瓷薄膜。Zeta 電位分析可直接測得陶瓷薄膜的表面電荷。

主要功能

易於操作

  • 適用於不同幾何形狀的陶瓷薄膜
  • 用於微過濾的管狀陶瓷薄膜的非破壞性 zeta 電位分析

技術規格

樣本長度100 mm
樣本直徑單通道:外徑 10 mm 或 13 mm
多通道:外徑 25 mm 或 30 mm

安東帕認證服務

安東帕在服務和支援方面的品質:
  • 全球超過 350 位製造商認證的技術專家
  • 以當地語言提供的合格支援
  • 在儀器整個生命週期中保護您的投資
  • 三年保固
深入瞭解

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